HOME > 論文 > 書誌詳細β-γ同時計測陽電子消滅法によるクリープその場測定法の開発(Development of in-situ creep damage detector using the β-γ coincidence lifetime spectrometer)吉田政司, 五十嵐正晃, 阿部冨士雄, 荒木秀樹, 白井泰治, 藤城泰文. 材料とプロセス . .NIMS著者阿部 冨士雄Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2022-11-15 00:39:41 +0900 更新時刻: 2022-11-15 00:39:41 +0900