SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > 論文 > 書誌詳細

Development of a pattern to measure multiscale deformation and strain distribution viain situFE-SEM observations
(変形とひずみ計測のためのマルチスケールパターンの開発)

Y Tanaka, K Naito, S Kishimoto, Y Kagawa.
Nanotechnology 22 [11] 115704. 2011.

NIMS著者


    Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


      作成時刻: 2016-05-24 16:21:42 +0900更新時刻: 2024-04-02 04:32:45 +0900

      ▲ページトップへ移動