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著者名Noriyuki Miyata, Yuji Urabe, Tetsuji Yasuda, Akihiro Ohtake.
タイトルEffect of Interface Oxidation on the Electrical Characteristics of HfO2/Ultrathin-Epitaxial-Ge/GaAs(100) Structures
掲載誌名Applied Physics Express 3 [3] 035701
ISSN: 18820786 18820778
発表年2010
言語English
ESIでのカテゴリPHYSICS
DOIhttps://doi.org/10.1143/apex.3.035701
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