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著者名Yong Xu, Chuan Liu, Paul Seyram K. Amegadze, Won-Tae Park, Dang Xuan Long, Takeo Minari, Francis Balestra, Gerard Ghibaudo, Yong-Young Noh.
タイトルSignificant roles of low-temperature post-metallization annealing in solution-processed oxide thin-film transistors
掲載誌名Applied Physics Letters 105 [13] 133505
ISSN: 00036951 10773118
発表年2014
言語English
ESIでのカテゴリPHYSICS
DOIhttps://doi.org/10.1063/1.4897003
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