SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > 論文 > 書誌詳細

Significant roles of low-temperature post-metallization annealing in solution-processed oxide thin-film transistors
(溶液プロセス酸化物トランジスタにおけるポストアニーリングの役割)

Yong Xu, Chuan Liu, Paul Seyram K. Amegadze, Won-Tae Park, Dang Xuan Long, Takeo Minari, Francis Balestra, Gerard Ghibaudo, Yong-Young Noh.
Applied Physics Letters 105 [13] 133505. 2014.
https://doi.org/10.1063/1.4897003

NIMS著者

    Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット

      作成時刻: 2016-05-24 17:37:27 +0900更新時刻: 2024-03-31 14:06:00 +0900

      ▲ページトップへ移動