HOME > 論文 > 書誌詳細Analysis of Electron Channeling Contrast of Stacking Faults in fcc MaterialsIvan Gutierrez-Urrutia. Microscopy and Microanalysis 27 [2] 318-325. 2021.https://doi.org/10.1017/s1431927620024952 NIMS著者グティエレス ウルティア イヴァンMaterials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2021-09-18 03:00:19 +0900 更新時刻: 2026-06-04 05:38:41 +0900
