Real time high-resolution transmission electron microscopy observation of growth process of (001) surface on nanometer-sized Si | 研究者総覧SAMURAI - 物質・材料研究機構 (NIMS)

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Real time high-resolution transmission electron microscopy observation of growth process of (001) surface on nanometer-sized Si
(SiナノMTP上の(001)表面における成長過程の実時間HRTEM観察)

竹口雅樹, 田中美代子, 保田英洋, 古屋一夫.

Surface Science 414-419. 2001.

NIMS著者

Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット

作成時刻: 2022-11-15 00:39:47 +0900更新時刻: 2022-11-15 00:39:47 +0900

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