X線全反射現象における干渉効果に着目した薄膜界面の高感度蛍光X線分析
(Enhanced X-ray Fluorescence Detection of Interfaces in Thin Films Using Interference Effect in X-ray )
NIMS著者
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作成時刻: 2016-05-24 11:36:08 +0900 更新時刻: 2017-01-07 23:34:35 +0900