HOME > 論文 > 書誌詳細Local Dielectric Degradation of Cu-Contaminated SiO2 Thin Films徳田規夫, 西口慎吾, 山崎聡, MIKI, Kazushi, 山部紀久夫. SOLID STATE PHENOMENA 641-646. 2003.NIMS著者Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2022-11-15 00:40:55 +0900更新時刻: 2022-11-15 00:40:55 +0900
