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Applicability of Weibull Distribution to Description of Distributed Normalized Critical Current of Bent-Damaged Bi2223 Composite Tape
(曲げ損傷を受けたBi2223複合テープの規格化された臨界電流の分布の記述におけるワイブル分布の適応性)

Shojiro Ochiai, Hiroshi Okuda, Michinaka Sugano, Masaki Hojo, Kozo Osamura, Tsuneo Kuroda, Hiroaki Kumakura, Hitoshi Kitaguchi, Kikuo Itoh, Hitoshi Wada.
MATERIALS TRANSACTIONS 51 [9] 1663-1670. 2010.

NIMS著者


    Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


      作成時刻: 2016-05-24 16:16:44 +0900更新時刻: 2025-03-11 06:59:43 +0900

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