HOME > 論文 > 書誌詳細Relationship between X-ray Intensity and Bias on Al2O3 Surface during Low Energy Ga+ irradiationJiancun RAO, 長谷川 明, Renchao CHE, 竹口 雅樹, 古屋 一夫. MATERIALS TRANSACTIONS 861-863. 2006.NIMS著者竹口 雅樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2022-10-21 22:15:09 +0900 更新時刻: 2022-10-21 22:15:09 +0900
