HOME > 論文 > 書誌詳細Spin Hall effect and Nernst effect in FePt/Au multi-terminal devices with different Au thicknesses(異なるAu層厚を有するFePt/Au多端子素子のスピンホール効果とネルンスト効果)T. Seki, I. Sugai, Y. Hasegawa, S. Mitani, K. Takanashi. Solid State Communications 150 [11-12] 496-499. 2010.https://doi.org/10.1016/j.ssc.2009.11.018 NIMS著者三谷 誠司Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2016-05-24 16:11:21 +0900 更新時刻 :2024-03-29 17:44:48 +0900