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Spin Hall effect and Nernst effect in FePt/Au multi-terminal devices with different Au thicknesses
(異なるAu層厚を有するFePt/Au多端子素子のスピンホール効果とネルンスト効果)

T. Seki, I. Sugai, Y. Hasegawa, S. Mitani, K. Takanashi.
Solid State Communications 150 [11-12] 496-499. 2010.
https://doi.org/10.1016/j.ssc.2009.11.018

NIMS著者

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      作成時刻: 2016-05-24 16:11:21 +0900 更新時刻: 2026-11-01 04:20:58 +0900

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