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著者名Kentaro Shinoda, Masahiko Demura, Hideyuki Murakami, Seiji Kuroda, Sanjay Sampath.
タイトルCharacterization of crystallographic texture in plasma-sprayed splats by electron-backscattered diffraction
掲載誌名Surface and Coatings Technology 204 [21-22] 3614-3618
ISSN: 02578972
ESIでのカテゴリ: MATERIALS SCIENCE
出版社Elsevier BV
発表年2010
言語English
DOIhttps://doi.org/10.1016/j.surfcoat.2010.04.023
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