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著者名Benjamin Dierre, Xiaoli Yuan, Takashi Sekiguchi.
タイトルLow-energy cathodoluminescence microscopy for the characterization of nanostructures
掲載誌名Science and Technology of Advanced Materials 11 4 043001
ISSN: 18785514 14686996
発表年2010
言語English
DOI10.1088/1468-6996/11/4/043001
ESIでのカテゴリMATERIALS SCIENCE
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