<i>In Situ</i>Photoemission Study of<mml:math xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" display="inline"><mml:msub><mml:mi>Pr</mml:mi><mml:mrow><mml:mn>1</mml:mn><mml:mo>−</mml:mo><mml:mi>x</mml:mi></mml:mrow></mml:msub><mml:msub><mml:mi>Ca</mml:mi><mml:mi>x</mml:mi></mml:msub><mml:msub><mml:mi>MnO</mml:mi><mml:mn>3</mml:mn></mml:msub></mml:math>Epitaxial Thin Films with Suppressed Charge Fluctuations | 研究者総覧SAMURAI - 物質・材料研究機構 (NIMS)

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In SituPhotoemission Study ofPr1−xCaxMnO3Epitaxial Thin Films with Suppressed Charge Fluctuations
(In SituPhotoemission Study ofPr1−xCaxMnO3Epitaxial Thin Films with Suppressed Charge Fluctuations)

H. Wadati, A. Maniwa, A. Chikamatsu, I. Ohkubo, H. Kumigashira, M. Oshima, A. Fujimori, M. Lippmaa, M. Kawasaki, H. Koinuma.

Physical Review Letters 100 [2] 026402. 2008.

https://doi.org/10.1103/physrevlett.100.026402

NIMS著者

Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット

作成時刻: 2016-05-24 15:47:19 +0900 更新時刻: 2026-10-30 08:48:31 +0900

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