High-resolution electron microscopy of r-TiAl and Al irradiated with 15keV helium ions at room
(室温で15KeV Heイオン注入したr-TiAlとAlの高分解能電子顕微鏡観察)
NIMS著者
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作成時刻: 2022-11-15 00:39:17 +0900 更新時刻: 2022-11-15 00:39:17 +0900