Phonon Confinement in GaAs by Defect Formation Studied by Real-Time Raman Measurements
(実時間ラマン測定法を用いたGaAs中での欠陥生成によるフォノン閉じこめの研究 )
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2016-05-24 11:35:32 +0900更新時刻: 2024-04-02 00:12:13 +0900