SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > 論文 > 詳細

走査型マルチプローブ顕微鏡による単一ナノワイヤーの電気特性評価

著者中山 知信.
掲載誌名JOURNAL OF THE SOCIETY OF INSTRUMENT AND CONTROL ENGINEERS 45 [2] 131-135
ISSN: 04534662
出版社
発表年2006
言語Japanese

▲ページトップへ移動