A METHOD TO DETERMINE LONG-RANGE ORDER PARAMETERS FROM ELECTRON DIFFRACTION INTENSITIES DETECTED BY A CCD CAMERA
(CCDカメラにより検出した電子線回折強度から長範囲規則度を導出する方法)
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2016-05-24 11:52:00 +0900 更新時刻: 2026-11-04 06:01:18 +0900