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Electrical and mechanical probing of nanostructures with transmission electron microscopy

Pedro.M.F.J.Costa, BANDO, Yoshio, GOLBERG, Dmitri.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻: 2022-10-21 23:02:31 +0900更新時刻: 2022-10-21 23:02:31 +0900

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