Impact of Cu Electrode on Switching Behavior in a Cu/HfO<sub>2</sub>/Pt Structure and Resultant Cu Ion Diffusion | 研究者総覧SAMURAI - 物質・材料研究機構 (NIMS)

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Impact of Cu Electrode on Switching Behavior in a Cu/HfO₂/Pt Structure and Resultant Cu Ion Diffusion
(イオン拡散をもちいたCu/HfO2/Pt 構造のスイッチング動作)

Masamitsu Haemori, Takahiro Nagata, Toyohiro Chikyow.

Applied Physics Express 2 061401. 2009.

https://doi.org/10.1143/apex.2.061401

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作成時刻: 2016-05-24 15:49:18 +0900 更新時刻: 2026-04-02 07:18:49 +0900

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