HOME > 論文 > 書誌詳細Transmission Electron Microscopy Characterization of GaN Nanowires(GaNナノワイヤーのTEM評価)Z. Liliental-Weber, Y. H. Gao, Y. Bando. Journal of Electronic Materials 31 [5] 391-394. 2002.https://doi.org/10.1007/s11664-002-0089-4 NIMS著者板東 義雄Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2016-05-24 11:53:18 +0900 更新時刻: 2026-09-28 04:31:58 +0900
