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A SIMS study on positive and negative ions sputtered from graphite by mass-separated low energy Ne+, N-2(+) and N+ ions
(低速Ne+, N2+, N+イオン照射によるグラファイト表面からの正および負イオンのスパッタリングの研究)

Z. W. Deng, R Souda, Z.W Deng.
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms 183 [3-4] 260-270. 2001.
https://doi.org/10.1016/s0168-583x(01)00742-x

NIMS著者

    Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット

      作成時刻: 2016-05-24 11:46:14 +0900 更新時刻: 2026-11-04 05:32:30 +0900

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