HOME > 論文 > 書誌詳細Measurement of work function change with surface segregation of substrate element on a deposited film(基板元素の偏析がみられる薄膜表面における仕事関数の変化)Michiko Yoshitake, Kazuhiro Yoshihara. Applied Surface Science 146 [1-4] 97-100. 1999.https://doi.org/10.1016/s0169-4332(99)00039-2 NIMS著者吉武 道子Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2016-05-24 11:39:42 +0900更新時刻: 2025-01-10 04:13:53 +0900