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Measurement of work function change with surface segregation of substrate element on a deposited film
(基板元素の偏析がみられる薄膜表面における仕事関数の変化)

Michiko Yoshitake, Kazuhiro Yoshihara.
Applied Surface Science 146 [1-4] 97-100. 1999.

NIMS著者


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    作成時刻: 2016-05-24 11:39:42 +0900更新時刻: 2025-01-10 04:13:53 +0900

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