X 線逆格子イメージング法を用いた表界面構造評価
(Structural Characterization of Surfaces, Interfaces, and Thinfilms using X-ray Reciprocal-Lattice-Space Imaging)
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2016-05-24 15:20:53 +0900 更新時刻: 2018-12-15 00:31:46 +0900