Resolution Improvement in Stage-Scanning Electron Holography: Comparison with Conventional Electron Holography
(試料走査電子線ホログラフィーの解像度:従来の電子線ホログラフィーとの比較)
NIMS著者
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作成時刻: 2016-05-24 17:26:01 +0900更新時刻: 2024-04-02 02:46:30 +0900