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著者名Y. Xu, T. Minari, K. Tsukagoshi, R. Gwoziecki, R. Coppard, F. Balestra, J. A. Chroboczek, G. Ghibaudo.
タイトルExtraction of low-frequency noise in contact resistance of organic field-effect transistors
掲載誌名Applied Physics Letters 97 [3] 033503
ISSN: 00036951 10773118
発表年2010
言語English
ESIでのカテゴリPHYSICS
DOIhttps://doi.org/10.1063/1.3467057
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