Resonant Inelastic X-ray Scattering of EuNi2(Si1-xGex)2 and Eu2O3 at Eu L3 Absorption Edge

H. Yamaoka; M. Taguchi; A. M. Vlaicu; H. Oohashi; K. Yokoi; D. Horiguchi; T. Tochio; Y. Ito; K. Kawatsura; K. Yamamoto; A. Chainani; S. Shin; M. Shiga; H. Wada; H. Yamaoka; M. Taguchi; A. M. Vlaicu; H. Oohashi; K. Yokoi; D. Horiguchi; T. Tochio; Y. Ito; K. Kawatsura; K. Yamamoto; A. Chainani; S. Shin; M. Shiga; H. Wada

doi:10.1143/jpsj.75.034702

HOME > 論文 > 書誌詳細

Resonant Inelastic X-ray Scattering of EuNi2(Si1-xGex)2 and Eu2O3 at Eu L3 Absorption Edge

H. Yamaoka, M. Taguchi, A. M. Vlaicu, H. Oohashi, K. Yokoi, D. Horiguchi, T. Tochio, Y. Ito, K. Kawatsura, K. Yamamoto, A. Chainani, S. Shin, M. Shiga, H. Wada.

Journal of the Physical Society of Japan 75 [3] 034702. 2006.

https://doi.org/10.1143/jpsj.75.034702

NIMS著者

Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット

作成時刻: 2016-05-24 15:00:32 +0900 更新時刻: 2026-11-02 05:46:51 +0900