In-Situ Low-Temperature Transmission Electron Microscopy of the Structural Phase Transitions in a Thiospinel CuIr2S4 Compound | 研究者総覧SAMURAI - 物質・材料研究機構 (NIMS)

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In-Situ Low-Temperature Transmission Electron Microscopy of the Structural Phase Transitions in a Thiospinel CuIr2S4 Compound
(チオスピネル構造を有するCuIr2S4化合物の構造相転移のその場低温透過型電子顕微鏡観察)

孫威, Takayoshi Kimoto, Takao Furubayashi, 松本武彦, 池田省三, 永田正一, Wei Sun, Takehiko Matsumoto, Syozo Ikeda, Shoichi Nagata.

Journal of the Physical Society of Japan 70 [10] 2817-2820. 2001.

https://doi.org/10.1143/jpsj.70.2817

NIMS著者

古林孝夫

Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット

作成時刻: 2016-05-24 11:45:56 +0900 更新時刻: 2026-10-03 05:58:47 +0900

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