HOME > 論文 > 書誌詳細Reflection high-energy diffraction intensity oscillation during GexSi1-x MBE Growth on Si(001) substratesBANDO, Yoshio, 坂本邦博, 坂本統徳, 永尾悟, 橋口元, 国吉克哉. Jap.J.Appl.Phys. 666. 1987.NIMS著者板東 義雄Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2022-09-05 10:28:18 +0900 更新時刻: 2022-09-05 10:28:18 +0900
