HOME > 論文 > 書誌詳細水素イオンビームを用いたイオンマイクロアナリシス(On Ion Microprobe Mass Analysis by Deuteron Beam)北島 正弘, 岡田雅年, 岡田雅年, 岡田雅年, 岡田雅年. 質量分析 32 365. 1984.NIMS著者Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2016-05-24 11:28:02 +0900更新時刻: 2018-12-14 22:07:33 +0900
