シリコン表面酸化の平均力ポテンシャル計算におけるアンブレラサンプリング法の使用

Kazuo TERAISHI; ENDOU Akira; GUNJI Isao; KUBO Momoji; MIYAMOTO AKira; KITAJIMA Masahiro; Kazuo Teraishi; Akira Endou; Isao Gunji; Momoji Kubo; Akira Miyamoto; Masahiro Kitajima; Kazuo TERAISHI; ENDOU Akira; GUNJI Isao; KUBO Momoji; MIYAMOTO AKira; KITAJIMA Masahiro; Kazuo Teraishi; Akira Endou; Isao Gunji; Momoji Kubo; Akira Miyamoto; Masahiro Kitajima

doi:10.1016/s0039-6028(99)00214-9

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Use of umbrella sampling in the calculation of the potential of the mean force for silicon surface oxidation
(シリコン表面酸化の平均力ポテンシャル計算におけるアンブレラサンプリング法の使用)

Kazuo TERAISHI, ENDOU Akira, GUNJI Isao, KUBO Momoji, MIYAMOTO AKira, KITAJIMA, Masahiro, Kazuo Teraishi, Akira Endou, Isao Gunji, Momoji Kubo, Akira Miyamoto, Masahiro Kitajima.

Surface Science 426 [3] 290-297. 1999.

https://doi.org/10.1016/s0039-6028(99)00214-9

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Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット

作成時刻: 2016-05-24 11:41:52 +0900 更新時刻: 2026-10-04 04:16:11 +0900

Use of umbrella sampling in the calculation of the potential of the mean force for silicon surface oxidation(シリコン表面酸化の平均力ポテンシャル計算におけるアンブレラサンプリング法の使用)

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Use of umbrella sampling in the calculation of the potential of the mean force for silicon surface oxidation
(シリコン表面酸化の平均力ポテンシャル計算におけるアンブレラサンプリング法の使用)