HOME > 論文 > 書誌詳細Nanoscopic Hardness Measurement by Atomic Force Microscope(AFM技術による微小硬さ測定)長島伸夫, 松岡三郎, 宮原健介, 長島伸夫, 松岡三郎, 宮原健介. JSME International Journal 39 [3] 456-462. 1996.NIMS著者Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2016-05-24 11:36:00 +0900 更新時刻: 2018-12-14 23:11:00 +0900
