NbN/Co2FeSi積層デバイスにおけるエピタキシャル接触アンドーフ反射

Iduru Shigeta; Takahide Kubota; Yuya Sakuraba; Cor G. Molenaar; Joost N. Beukers; Shojiro Kimura; Alexander A. Golubov; Alexander Brinkman; Satoshi Awaji; Koki Takanashi; Masahiko Hiroi; Iduru Shigeta; Takahide Kubota; Yuya Sakuraba; Cor G. Molenaar; Joost N. Beukers; Shojiro Kimura; Alexander A. Golubov; Alexander Brinkman; Satoshi Awaji; Koki Takanashi; Masahiko Hiroi

doi:10.1063/1.5007287

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Epitaxial contact Andreev reflection spectroscopy of NbN/Co2FeSi layered devices
(NbN/Co2FeSi積層デバイスにおけるエピタキシャル接触アンドーフ反射)

Iduru Shigeta, Takahide Kubota, Yuya Sakuraba, Cor G. Molenaar, Joost N. Beukers, Shojiro Kimura, Alexander A. Golubov, Alexander Brinkman, Satoshi Awaji, Koki Takanashi, Masahiko Hiroi.

Applied Physics Letters 112 [7] 072402. 2018.

https://doi.org/10.1063/1.5007287

NIMS著者

桜庭裕弥

Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット

作成時刻: 2019-03-01 12:16:54 +0900 更新時刻: 2025-07-15 05:22:50 +0900

Epitaxial contact Andreev reflection spectroscopy of NbN/Co2FeSi layered devices(NbN/Co2FeSi積層デバイスにおけるエピタキシャル接触アンドーフ反射)

NIMS著者

Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット

Epitaxial contact Andreev reflection spectroscopy of NbN/Co2FeSi layered devices
(NbN/Co2FeSi積層デバイスにおけるエピタキシャル接触アンドーフ反射)