Si表面でのO2分子線散乱で生成脱離するSiOの振動回転分布
(Rovibrational State Distribution of SiO Desaled from a Silicon During O2 Molecular Beam Scatteing)
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2016-05-24 11:35:47 +0900 更新時刻: 2018-12-14 22:18:47 +0900