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Imaging properties of bright-field and annular-dark-field scanning confocal electron microscopy

K. Mitsuishi, A. Hashimoto, M. Takeguchi, M. Shimojo, K. Ishizuka.
Ultramicroscopy 111 [1] 20-26. 2010.

NIMS著者


    Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


      作成時刻 :2016-05-24 16:14:09 +0900 更新時刻 :2022-09-05 12:41:46 +0900

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