HOME > 論文 > 書誌詳細欠陥漏洩磁束に及ぼす欠陥長さの影響。(Influenec of Defect Length on Magnetic Leakage Flux,)植竹一蔵, 伊藤秀之. 非破壊検査 720-721. 1982.NIMS著者Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2022-11-15 00:38:44 +0900 更新時刻: 2022-11-15 00:38:44 +0900
