核磁気共鳴によるCo2MnSiエピタキシャルホイスラー薄膜の構造のアニール依存性の評価

S. Rodan; A. Alfonsov; M. Belesi; F. Ferraro; J. T. Kohlhepp; H. J. M. Swagten; B. Koopmans; Y. Sakuraba; S. Bosu; K. Takanashi; B. Büchner; S. Wurmehl; S. Rodan; A. Alfonsov; M. Belesi; F. Ferraro; J. T. Kohlhepp; H. J. M. Swagten; B. Koopmans; Y. Sakuraba; S. Bosu; K. Takanashi; B. Büchner; S. Wurmehl

doi:10.1063/1.4811244

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Nuclear magnetic resonance reveals structural evolution upon annealing in epitaxial Co₂MnSi Heusler films
(核磁気共鳴によるCo2MnSiエピタキシャルホイスラー薄膜の構造のアニール依存性の評価)

S. Rodan, A. Alfonsov, M. Belesi, F. Ferraro, J. T. Kohlhepp, H. J. M. Swagten, B. Koopmans, Y. Sakuraba, S. Bosu, K. Takanashi, B. Büchner, S. Wurmehl.

Applied Physics Letters 102 [24] 242404. 2013.

https://doi.org/10.1063/1.4811244

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作成時刻: 2016-05-24 17:04:57 +0900 更新時刻: 2025-07-15 06:23:07 +0900

Nuclear magnetic resonance reveals structural evolution upon annealing in epitaxial Co2MnSi Heusler films(核磁気共鳴によるCo2MnSiエピタキシャルホイスラー薄膜の構造のアニール依存性の評価)

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Nuclear magnetic resonance reveals structural evolution upon annealing in epitaxial Co₂MnSi Heusler films
(核磁気共鳴によるCo2MnSiエピタキシャルホイスラー薄膜の構造のアニール依存性の評価)