publication_type publication_year number author title event_name doi reported_at Presentation 2023 1 上杉 文彦, 石井 真史 機械学習による格子定数予測システムの構築 第84回応用物理学会秋季学術講演会 2024-04-25 10:01:38 +0900 Presentation 2023 2 木本 浩司, コレツ オヴィヂュ, 吉川 純, 張 晗, 原野 幸治, 上杉 文彦, 松波 成行 The International Workshop on Advanced and In Situ Microscopies of Functional Nanomaterials and Devices (IAMNano) 2024-04-25 10:01:38 +0900 Presentation 2023 3 上杉 文彦, 中西伸登, Lin Jiang, Les J. Allen, Juri Barthel, Mark P. Oxley, Krishna Prasad Koirala, Chongmin Wang, Bert Freitag, Alex Bright Pythonスクリプト制御によるRocking-beam STEM-EDSマッピングの応用 日本顕微鏡学会　第79回学術講演会 2024-04-25 10:01:38 +0900 Presentation 2023 4 上杉 文彦 Wavelet的な画像処理 日本顕微鏡学会　第79回学術講演会 2024-04-25 10:01:38 +0900 Presentation 2023 5 上杉 文彦, 橋本 綾子, 石井 真史 パーシステント図を使ったイオン伝導度予測モデルの構築 第70回　応用物理学会　春季学術講演会 2024-04-25 10:01:38 +0900 Presentation 2023 6 上杉 文彦 TEMデータを味わい尽くす nano tech 2023 第22回 国際ナノテクノロジー総合展・技術会議 2024-04-25 10:01:38 +0900 Presentation 2022 1 上杉 文彦, 文 宇, 阿部 英樹, 橋本 綾子, 石井 真史 Pt/CeO2ナノ複合体のTEMトモグラフィーデータへのPersistent homologyの適用による特性記述子の抽出 第83回応用物理学会秋季学術講演会 2024-04-25 10:01:38 +0900 Presentation 2022 2 上杉 文彦, 中西伸登, Alex Bright AutoScriptライブラリを用いたTEMデータ取得とデータ解析方法の提案 "日本顕微鏡学会 第78回学術講演会 https://conference.wdc-jp.com/microscopy/conf2022/" 2024-04-25 10:01:38 +0900 Presentation 2022 3 中西伸登, 上杉 文彦, Bright Alex Pythonスクリプト制御によるRocking-beam STEM-EDSマッピング "日本顕微鏡学会 第78回学術講演会 https://conference.wdc-jp.com/microscopy/conf2022/index.html" 2024-04-25 10:01:39 +0900 Presentation 2022 4 井村 将隆, 稲葉 英樹, 間野 高明, 石田 暢之, 上杉 文彦, 黒田 陽子, 中山 佳子, 竹口 雅樹, 小出 康夫 TMGa添加ポストアニール処理によるc面サファイア基板上AlNの結晶品質改善 2022年第69回応用物理学会春季学術講演会 2024-04-25 10:01:39 +0900 Presentation 2021 1 上杉 文彦 DMスクリプトの書き方と応用例 － Helpファイルの歩き方 第36回分析電子顕微鏡討論会 2024-04-25 10:01:39 +0900 Presentation 2021 2 上杉 文彦, 石井 真史 パーシステントホモロジーを用いたTEM像におけるアモルファス状態の識別可能性について 人工知能学会 合同研究会2021 計測インフォマティクス研究会 2024-04-25 10:01:39 +0900 Presentation 2021 3 上杉 文彦, 石井 真史 パーシステントホモロジーによる短距離構造秩序の特徴量抽出とアモルファス状態のTEM解析への応用 日本顕微鏡学会第64回シンポジウム 2024-04-25 10:01:39 +0900 Presentation 2021 4 上杉 文彦, 石井 真史 パーシステントホモロジーを用いたTEM像におけるアモルファス状態の自動識別 顕微鏡学会第77回学術講演会 2024-04-25 10:01:39 +0900 Presentation 2021 5 上杉 文彦, 石井 真史 TEM像のパーシステントホモロジーによるアモルファス状態識別 2021年 第68回 応用物理学会春季学術講演会 2024-04-25 10:01:39 +0900 Presentation 2021 6 上杉 文彦 大量データ時代の解析方法開発 文部科学省ナノテクノロジープラットフォーム令和２年度 総会 / https://www.nanonet.go.jp/ 2024-04-25 10:01:39 +0900 Presentation 2020 1 上杉 文彦, 根本 善弘, 竹口 雅樹 μμdiffを用いた歪精密測定 公益社団法人日本顕微鏡学会第76回学術講演会 2024-04-25 10:01:39 +0900 Presentation 2020 2 杉山 直之, 生田目 俊秀, 上杉 文彦, 内城貴則, 川崎直彦 半導体メモリ絶縁膜特性解明に対する 電子顕微鏡を中心とした分析的アプローチ 第67回応用物理学会春季学術講演会 2024-04-25 10:01:39 +0900 Presentation 2020 3 鈴木健太, 鈴木伸崇, 上杉 文彦, 石井 真史 多結晶電子回折像の解析におけるデータ科学的手法の推定モデル 第12回データ工学と情報マネジメントに関するフォーラム 2024-04-25 10:01:39 +0900 Presentation 2019 1 BEKAREVICH Raman, MITSUISHI Kazutaka, OHNISHI Tsuyoshi, UESUGI Fumihiko, TAKEGUCHI Masaki 8th International Symposium on Practical Surface Analysis 2024-04-25 10:01:39 +0900 Presentation 2019 2 上杉 文彦, 三石 和貴, 木本 浩司, 石井 真史 PACRIM13 2024-04-25 10:01:39 +0900 Presentation 2019 3 上杉 文彦, 古川 晃士, 谷井千晶, 杉山 直之, 竹口 雅樹 LACBEDとNBDを用いた歪の可視化技術 応用物理学会秋季学術講演会 2024-04-25 10:01:39 +0900 Presentation 2019 4 上杉 文彦 NSS と Dual SDD搭載Cs補正STEM を用いた事例紹介 EDS/XPSユーザーズフォーラム2019 2024-04-25 10:01:39 +0900 Presentation 2019 5 上杉 文彦, 三石 和貴, 木本 浩司, 石井 真史 HOLZ線を用いた格子定数決定へCNNの応用を検討 日本顕微鏡学会第75回学術講演会 2024-04-25 10:01:39 +0900 Presentation 2019 6 BEKAREVICH Raman, MITSUISHI Kazutaka, OHNISHI Tsuyoshi, MANO Takaaki, UESUGI Fumihiko, TAKEGUCHI Masaki 第43回日本顕微鏡学会関東支部講演会 2024-04-25 10:01:39 +0900 Presentation 2019 7 上杉 文彦, 越谷 翔悟, 三石 和貴, 木本 浩司 4D-STEMデータへの多変量解析の適用 NIMS先端計測シンポジウム2019 2024-04-25 10:01:39 +0900 Presentation 2018 1 三石 和貴, ベカレビッチ ラマン, 上杉 文彦, 竹口 雅樹 ナノ学会合同部会 2024-04-25 10:01:39 +0900 Presentation 2018 2 BEKAREVICH Raman, MITSUISHI Kazutaka, OHNISHI Tsuyoshi, UESUGI Fumihiko, TAKEGUCHI Masaki Strain Mapping Method for Determination of Lattice Constant Changes in Battery Materials 14th International Conference on Atomically Controlled Surfaces, Interfaces and Nanostructures (ACSIN-14) in conjunction with 26th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM26) 2024-04-25 10:01:39 +0900 Presentation 2018 3 上杉 文彦, 三石 和貴, 木本 浩司, 石井 真史 畳み込みニューラルネットワークを用いた電子回折パターンの分類 第79回 応用物理学会秋季学術講演会 2024-04-25 10:01:39 +0900 Presentation 2018 4 ベカレビッチ ラマン, 三石 和貴, 大西 剛, 間野 高明, 上杉 文彦, 竹口 雅樹 Accurate Determination of Lattice Constant Deviation at Nanoscale by Diffraction Mapping 19th International Microscopy Congress 2024-04-25 10:01:39 +0900 Presentation 2018 5 上杉 文彦 高分解能STEM + Dual SSD EDSの事例紹介 Thermo Fisher Scientific XPS・EDS　ユーザーズフォーラム2018 2024-04-25 10:01:39 +0900 Presentation 2018 6 MITSUISHI, Kazutaka, BEKAREVICH, Raman, OHNISHI, Tsuyoshi, MANO, Takaaki, UESUGI, Fumihiko, TAKEGUCHI, Masaki Measurement of Local Lattice Constant Change by Nanoscale Diffraction Mapping for Material Interfaces The 3rd International Symposium on “Recent Trends in the Elucid 2024-04-25 10:01:39 +0900 Presentation 2018 7 ベカレビッチ ラマン, 三石 和貴, 上杉 文彦, 竹口 雅樹, 大西 剛, 間野 高明, 大野 隆央 Accurate Measurement of the Lattice Constant Deviation at Thin Film Interface by diffraction mapping the 74rd Annual Meeting of The Japanese Society of Microscopy 2024-04-25 10:01:39 +0900 Presentation 2018 8 上杉 文彦, 三石 和貴, 木本 浩司, 石井 真史 Diffraction patternへの機械学習の適用 日本顕微鏡学会第74回学術講演会 2024-04-25 10:01:39 +0900 Presentation 2018 9 上杉 文彦, 三石 和貴, 木本 浩司, 石井 真史 Diffraction patternへの機械学習の適用 日本顕微鏡学会第74回学術講演会 2024-04-25 10:01:39 +0900 Presentation 2018 10 上杉 文彦, 越谷 翔悟, 三石 和貴, 木本 浩司, 石井 真史 Approaches to analyze data acquired by recent (S)TEM 共用・計測合同シンポジウム2018 2024-04-25 10:01:39 +0900 Presentation 2017 1 ベカレビッチ ラマン, 三石 和貴, 上杉 文彦, 竹口 雅樹, 間野 高明, 大野 隆央 Diffraction mapping for evaluation of the lattice constant deviation at thin film interface The 3rd East-Asia Microscopy Conference 2024-04-25 10:01:39 +0900 Presentation 2017 2 UESUGI, Fumihiko, MITSUISHI, Kazutaka, KIMOTO, Koji, ISHII, Masashi 電子線回折への機械学習の応用 NIMS week 2017 2024-04-25 10:01:39 +0900 Presentation 2017 3 上杉 文彦, 越谷 翔悟, 三石 和貴, 木本 浩司 Diffraction imageデータへの最小二乗スペクトル分解の適用 第73回日本顕微鏡学会学術講演会 2024-04-25 10:01:39 +0900 Presentation 2017 4 三石 和貴, ベカレビッチ ラマン, 大西 剛, 上杉 文彦, 竹口 雅樹, 稲熊 宜之, 大野 隆央, 高田 和典 ステージスキャンとナノサイズ制限視野絞りによる 格子定数測定の精度評価 第73回日本顕微鏡学会学術講演会 2024-04-25 10:01:39 +0900 Presentation 2017 5 UESUGI, Fumihiko, KOSHIYA, Shogo, MITSUISHI, Kazutaka, KIMOTO, Koji ALS-MCR application for Diffraction imaging data EDGE 2017: Enhanced Data Generated by Electrons 2024-04-25 10:01:39 +0900 Presentation 2017 6 ベカレビッチ ラマン, 三石 和貴, 大西 剛, 上杉 文彦, 竹口 雅樹, Y. Inaguma, 大野 隆央, 高田 和典 Two-dimensional Gaussian Fitting for Accurate Lattice Constant Measurement from Selected Area Diffraction Map EDGE 2017: Enhanced Data Generated by Electrons. 8th Internation 2024-04-25 10:01:39 +0900 Presentation 2017 7 上杉 文彦, 越谷 翔悟, 三石 和貴, 木本 浩司 多変量解析のDiffraction pattern mapへの適用 共用・計測　合同シンポジウム2017 2024-04-25 10:01:39 +0900 Presentation 2017 8 上杉 文彦 TEMデータへの多変量解析の適用 荷電粒子ビームの工業への応用第132委員会 第224回研究会 2024-04-25 10:01:39 +0900 Presentation 2016 1 上杉 文彦 Determination of Mg and Hf substitutional site in AlN with atomic resolution STEM-EDS 第2回　マイクロ‐ナノテクノロジー技術に関する日仏ワークショップ 2024-04-25 10:01:39 +0900 Presentation 2016 2 石川　史太郎, 赤松　良彦, 渡辺 健太郎, 上杉 文彦, 朝比奈　俊輔, Uwe Jahn, 下村　哲 GaAsBiナノワイヤの分析 平成28年度ナノテクノロジープラットフォーム総会 2024-04-25 10:01:39 +0900 Presentation 2016 3 上杉 文彦 Dual EDS検出器を搭載したTEMによる原子分解能EDS測定 NIMS WEEK 2016 2024-04-25 10:01:39 +0900 Presentation 2016 4 上杉 文彦 多結晶試料から得られたDiffraction pattern mapへの多変量解析の適用 72回学術講演会 2024-04-25 10:01:39 +0900 Presentation 2016 5 石川　史太郎, 赤松　良彦, 渡辺 健太郎, 上杉 文彦, 朝比奈　俊輔, Uwe Jahn, 下村　哲 分子線エピタキシーによるSi(111) 基板上GaAs/GaAsBi コア-シェルナノワイヤ成長 2016年 第63回応用物理学会春季学術講演会 2024-04-25 10:01:39 +0900 Presentation 2016 6 石川　史太郎, 赤松　良彦, 渡辺 健太郎, 上杉 文彦, 朝比奈　俊輔, Uwe Jahn, 下村　哲 Si(111) 基板上GaAs/GaAsBi マルチコアーシェルナノワイヤの特性 2016年 第63回応用物理学会春季学術講演会 2024-04-25 10:01:39 +0900