SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > プロフィール > 上杉 文彦

  • 論文・発表

[研究論文] |[書籍] |[会議録] |[口頭発表] |[特許]

研究論文 TSV

2017
  1. Tomohiro Miyata, Fumihiko Uesugi, Teruyasu Mizoguchi. Real-space analysis of diffusion behavior and activation energy of individual monatomic ions in a liquid. Science Advances. 3 [12] (2017) e1701546 10.1126/sciadv.1701546
  2. Yuta Saito, Paul Fons, Kotaro Makino, Kirill V. Mitrofanov, Fumihiko Uesugi, Masaki Takeguchi, Alexander V. Kolobov, Junji Tominaga. Compositional tuning in sputter-grown highly-oriented Bi–Te films and their optical and electronic structures. Nanoscale. 9 [39] (2017) 15115-15121 10.1039/c7nr04709f
2015
  1. Fumitaro Ishikawa, Yoshihiko Akamatsu, Kentaro Watanabe, Fumihiko Uesugi, Shunsuke Asahina, Uwe Jahn, Satoshi Shimomura. Metamorphic GaAs/GaAsBi Heterostructured Nanowires. Nano Letters. 15 [11] (2015) 7265-7272 10.1021/acs.nanolett.5b02316
  2. Yasuhiro NAKAO, Kiyoshi OZAWA, Yoshihiro NEMOTO, Fumihiko UESUGI, Hiroki FUJII, Takashi MOCHIKU. Structural variation of Li<sub>2</sub>MnO<sub>3</sub> during charge&ndash;discharge cycling. Journal of the Ceramic Society of Japan. 123 [1439] (2015) 589-594 10.2109/jcersj2.123.589
  3. Hiromichi Kuriyama, Hidesato Saruwatari, Hideki Satake, Amika Shima, Fumihiko Uesugi, Hiroki Tanaka, Tooru Ushirogouchi. Observation of anisotropic microstructural changes during cycling in LiNi 0.5 Co 0.2 Mn 0.3 O 2 cathode material. Journal of Power Sources. 275 (2015) 99-105 10.1016/j.jpowsour.2014.10.197

書籍 TSV

会議録 TSV

2016
  1. Tomohiro Miyata, UESUGI, Fumihiko, Teruyasu Mizoguchi. OBSERVATION OF SINGLE ATOMS AND THE NANO DOMAIN STRUCTURE IN AN IONIC LIQUID USING SCANNING-TEM. Proceeding of 26th EUCHEM on Molten Salts and Ionic Liquids 2016, 9999-1-9999-1

口頭発表 TSV

2018
  1. 三石 和貴, ベカレビッチ ラマン, 上杉 文彦, 竹口 雅樹. Lattice Constant Variation Mapping by Nano-size Selected Area Electron Diffraction. ナノ学会合同部会. 2018
  2. BEKAREVICH Raman, MITSUISHI Kazutaka, OHNISHI Tsuyoshi, UESUGI Fumihiko, TAKEGUCHI Masaki. Strain Mapping Method for Determination of Lattice Constant Changes in Battery Materials. 14th International Conference on Atomically Controlled Surfaces, Interfaces and Nanostructures (ACSIN-14) in conjunction with 26th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM26). 2018
  3. 上杉 文彦, 三石 和貴, 木本 浩司, 石井 真史. 畳み込みニューラルネットワークを用いた電子回折パターンの分類. 第79回 応用物理学会秋季学術講演会. 2018
  4. BEKAREVICH, Raman, MITSUISHI, Kazutaka, OHNISHI, Tsuyoshi, MANO, Takaaki, UESUGI, Fumihiko, TAKEGUCHI, Masaki. Accurate Determination of Lattice Constant Deviation at Nanoscale by Diffraction Mapping. 19th International Microscopy Congress. 2018
  5. 上杉 文彦. 高分解能STEM + Dual SSD EDSの事例紹介. Thermo Fisher Scientific XPS・EDS ユーザーズフォーラム2018. 2018
  6. MITSUISHI, Kazutaka, BEKAREVICH, Raman, OHNISHI, Tsuyoshi, MANO, Takaaki, UESUGI, Fumihiko, TAKEGUCHI, Masaki. Measurement of Local Lattice Constant Change by Nanoscale Diffraction Mapping for Material Interfaces. The 3rd International Symposium on “Recent Trends in the Elucid. 2018
  7. ベカレビッチ ラマン, 三石 和貴, 上杉 文彦, 竹口 雅樹, 大西 剛, 間野 高明, 大野 隆央. Accurate Measurement of the Lattice Constant Deviation at Thin Film Interface by diffraction mapping. the 74rd Annual Meeting of The Japanese Society of Microscopy. 2018
  8. 上杉 文彦, 三石 和貴, 木本 浩司, 石井 真史. Diffraction patternへの機械学習の適用. 日本顕微鏡学会第74回学術講演会. 2018
  9. 上杉 文彦, 三石 和貴, 木本 浩司, 石井 真史. Diffraction patternへの機械学習の適用. 日本顕微鏡学会第74回学術講演会. 2018
  10. 上杉 文彦, 越谷 翔悟, 三石 和貴, 木本 浩司, 石井 真史. Approaches to analyze data acquired by recent (S)TEM. 共用・計測合同シンポジウム2018. 2018
2017
  1. BEKAREVICH, Raman, MITSUISHI, Kazutaka, UESUGI, Fumihiko, TAKEGUCHI, Masaki, MANO, Takaaki, OHNO, Takahisa. Diffraction mapping for evaluation of the lattice constant deviation at thin film interface. The 3rd East-Asia Microscopy Conference. 2017
  2. UESUGI, Fumihiko, MITSUISHI, Kazutaka, KIMOTO, Koji, ISHII, Masashi. Applications of machine learning to electron beam diffraction analysis. NIMS week 2017. 2017
  3. 上杉 文彦, 越谷 翔悟, 三石 和貴, 木本 浩司. Diffraction imageデータへの最小二乗スペクトル分解の適用. 第73回日本顕微鏡学会学術講演会. 2017
  4. 三石 和貴, ベカレビッチ ラマン, 大西 剛, 上杉 文彦, 竹口 雅樹, 稲熊 宜之, 大野 隆央, 高田 和典. ステージスキャンとナノサイズ制限視野絞りによる 格子定数測定の精度評価. 第73回日本顕微鏡学会学術講演会. 2017
  5. UESUGI, Fumihiko, KOSHIYA, Shogo, MITSUISHI, Kazutaka, KIMOTO, Koji. ALS-MCR application for Diffraction imaging data. EDGE 2017: Enhanced Data Generated by Electrons. 2017
  6. BEKAREVICH, Raman, MITSUISHI, Kazutaka, OHNISHI, Tsuyoshi, UESUGI, Fumihiko, TAKEGUCHI, Masaki, Y. Inaguma, OHNO, Takahisa, TAKADA, Kazunori. Two-dimensional Gaussian Fitting for Accurate Lattice Constant Measurement from Selected Area Diffraction Map. EDGE 2017: Enhanced Data Generated by Electrons. 8th Internation. 2017
  7. 上杉 文彦, 越谷 翔悟, 三石 和貴, 木本 浩司. 多変量解析のDiffraction pattern mapへの適用. 共用・計測 合同シンポジウム2017. 2017
  8. 上杉 文彦. TEMデータへの多変量解析の適用. 荷電粒子ビームの工業への応用第132委員会 第224回研究会. 2017
2016
  1. 上杉 文彦. Determination of Mg and Hf substitutional site in AlN with atomic resolution STEM-EDS. 第2回 マイクロ‐ナノテクノロジー技術に関する日仏ワークショップ. 2016
  2. 石川 史太郎, 赤松 良彦, 渡辺 健太郎, 上杉 文彦, 朝比奈 俊輔, Uwe Jahn, 下村 哲. GaAsBiナノワイヤの分析. 平成28年度ナノテクノロジープラットフォーム総会. 2016
  3. 上杉 文彦. Dual EDS検出器を搭載したTEMによる原子分解能EDS測定. NIMS WEEK 2016. 2016
  4. 上杉 文彦. 多結晶試料から得られたDiffraction pattern mapへの多変量解析の適用. 72回学術講演会. 2016
  5. 石川 史太郎, 赤松 良彦, 渡辺 健太郎, 上杉 文彦, 朝比奈 俊輔, Uwe Jahn, 下村 哲. 分子線エピタキシーによるSi(111) 基板上GaAs/GaAsBi コア-シェルナノワイヤ成長. 2016年 第63回応用物理学会春季学術講演会. 2016
  6. 石川 史太郎, 赤松 良彦, 渡辺 健太郎, 上杉 文彦, 朝比奈 俊輔, Uwe Jahn, 下村 哲. Si(111) 基板上GaAs/GaAsBi マルチコアーシェルナノワイヤの特性. 2016年 第63回応用物理学会春季学術講演会. 2016

特許 TSV

登録特許
    公開特許
      外国特許

        ▲ページトップへ移動