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研究論文 TSV

2014
  1. Hideki Yoshikawa, Kazuhiro Yoshihara, Daisuke Watanabe, Hiromi Tanaka, Shigeo Tanuma. Proposal for common data transfer format for simulation softwares used in surface electron spectroscopies. Surface and Interface Analysis. 46 [10-11] (2014) 931-935 10.1002/sia.5390
  2. B. Da, H. Shinotsuka, H. Yoshikawa, Z. J. Ding, S. Tanuma. Extended Mermin Method for Calculating the Electron Inelastic Mean Free Path. Physical Review Letters. 113 [6] (2014) 10.1103/physrevlett.113.063201
  3. 田沼 繁夫. 第III章 資料編. マイクロビームアナリシス・ハンドブック. (2014) 656-657
2011
  1. 荻原 俊弥, 永富 隆清, 金 慶中, 田沼 繁夫. 傾斜試料ホルダーを用いた極低角度電子・イオン入射による超高深さ分解能オージェ深さ方向分析. 表面科学. 32 [10] (2011) 664-669 10.1380/jsssj.32.664
  2. 田沼 繁夫. 用語辞典/分担執筆. 分析化学用語辞典. (2011) (全)1-(全)465
  3. C. Tsukada, S. Ogawa, H. Niwa, S. Yagi, T. Nomoto, G. Kutluk, H. Namatame, M. Taniguchi. Adsorption Reaction of Amino Acid Molecule on Pd Thin Layer Surface Constructed by Nano-dots under Water Environment. e-Journal of Surface Science and Nanotechnology. 9 (2011) 289-292 10.1380/ejssnt.2011.289
  4. S. Tanuma, C. J. Powell, D. R. Penn. Calculations of electron inelastic mean free paths. IX. Data for 41 elemental solids over the 50 eV to 30 keV range. Surface and Interface Analysis. 43 [3] (2011) 689-713 10.1002/sia.3522
2010
  1. T. Nagatomi, S. Tanuma, K. Goto. Absolutely determined inelastic mean free paths for 300-3000 eV electrons in 10 elemental solids. Surface and Interface Analysis. 42 [10-11] (2010) 1537-1540 10.1002/sia.3570
  2. 小畠 雅明, 岩井 秀夫, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, 田中 彰博, 鈴木 峰晴, 小林 啓介. ラボ用硬X線光電子分光装置の開発. 表面科学. 31 [9] (2010) 487-492 10.1380/jsssj.31.487
  3. H. Jin, H. Shinotsuka, H. Yoshikawa, H. Iwai, S. Tanuma, S. Tougaard. Measurement of optical constants of Si and SiO2 from reflection electron energy loss spectra using factor analysis method. Journal of Applied Physics. 107 [8] (2010) 083709 10.1063/1.3346345
  4. Tatsunori TOCHIO, Shusuke SAKAKURA, Hirofumi OOHASHI, Hirohisa MIZOTA, Yanhui ZOU, Yoshiaki ITO, Sei FUKUSHIMA, Shigeo TANUMA, Takashi SHOJI, Hajime FUJIMURA, Michiru YAMASHITA. X-ray Fluorescence Analysis of Cr6+ Component in Mixtures of Cr2O3 and K2CrO4. Analytical Sciences. 26 [2] (2010) 277-279 10.2116/analsci.26.277
  5. Takaharu NAGATOMI, Shigeo TANUMA. Surface Excitations in Surface Electron Spectroscopies Studied by Reflection Electron Energy-Loss Spectroscopy and Elastic Peak Electron Spectroscopy. Analytical Sciences. 26 [2] (2010) 165-176 10.2116/analsci.26.165
  6. S Fukushima, T Ogiwara, T Kimura, S Tanuma. A study of the appearance of Li Kα. IOP Conference Series: Materials Science and Engineering. 7 (2010) 012010 10.1088/1757-899x/7/1/012010
  7. H. Amekura, M. Tanaka, Y. Katsuya, H. Yoshikawa, H. Shinotsuka, S. Tanuma, M. Ohnuma, Y. Matsushita, K. Kobayashi, Ch. Buchal, S. Mantl, N. Kishimoto. Melting of Zn nanoparticles embedded in SiO2 at high temperatures: Effects on surface plasmon resonances. Applied Physics Letters. 96 [2] (2010) 023110 10.1063/1.3290984
2009
  1. 福島 整, 荻原 俊弥, 木村 隆, 田沼 繁夫. 超軟X線分光におけるLi Kα強度への化学状態の影響. 表面科学. 30 [7] (2009) 391-396 10.1380/jsssj.30.391
  2. Hideki Yoshikawa, Aurel M. Vlaicu, Masahiro Kimura, Akito Masuhara, Shigeo Tanuma, Hachiro Nakanishi, Hidetoshi Oikawa. X-Ray Photoelectron Spectroscopy of Core (Silver)–Shell (Polydiacetylene) Type Hybridized Nanocrystals. e-Journal of Surface Science and Nanotechnology. 7 (2009) 711-714 10.1380/ejssnt.2009.711
  3. 田沼 繁夫. X線光電子分光法およびオージェ電子分光法による定量分析の標準化. 表面科学. 24 [4] (2009) 233-238 10.1380/jsssj.24.233
  4. K. Kumagai, S. Tanuma, C.J. Powell. Energy dependence of electron stopping powers in elemental solids over the 100eV to 30keV energy range. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. 267 [1] (2009) 167-170 10.1016/j.nimb.2008.10.094
2008
  1. Mineharu Suzuki, Sei Fukushima, Shigeo Tanuma. Efficiency of visual peak detection in X-ray photoelectron spectra. Surface and Interface Analysis. 40 [10] (2008) 1337-1343 10.1002/sia.2894
  2. H Iwai, H Yoshikawa, S Fukushima, S Tanuma. Evaluation of Chemical State Analysis and Imaging by Micro XPS. Microscopy and Microanalysis. 14 [S2] (2008) 480-481 10.1017/s1431927608086510
  3. 田沼 繁夫. XPSによる表面分析入門. PETROTECH. 31 [7] (2008) 532-535
  4. A. Jablonski, S. Tanuma, C. J. Powell. Modified predictive formula for the electron stopping power. Journal of Applied Physics. 103 [6] (2008) 063708 10.1063/1.2891047
  5. S. Tanuma, C. J. Powell, D. R. Penn. Calculations of stopping powers of 100eV–30keV electrons in 31 elemental solids. Journal of Applied Physics. 103 [6] (2008) 063707 10.1063/1.2891044
  6. Shigeo TANUMA, Hajime ASAHI, Seizo MORITA, Hideo SUGAI, Toyonobu YOSHIDA, Masaru TSUKADA, Osamu TAKAI, Yoshio SAITO. IUVSTA Scientific and Technical Divisions (STD)の報告. Shinku. 50 [12] (2008) 703-707 10.3131/jvsj.50.703
2005
  1. S. Tanuma, C. J. Powell, D. R. Penn. Calculations of stopping powers of 100 eV to 30 keV electrons in 10 elemental solids. Surface and Interface Analysis. 37 [11] (2005) 978-988 10.1002/sia.2092
  2. S. Tanuma, T. Shiratori, T. Kimura, K. Goto, S. Ichimura, C. J. Powell. Experimental determination of electron inelastic mean free paths in 13 elemental solids in the 50 to 5000 eV energy range by elastic-peak electron spectroscopy. Surface and Interface Analysis. 37 [11] (2005) 833-845 10.1002/sia.2102
  3. A. Jablonski, C. J. Powell, S. Tanuma. Monte Carlo strategies for simulations of electron backscattering from surfaces. Surface and Interface Analysis. 37 [11] (2005) 861-874 10.1002/sia.2104
  4. 木村 隆, 杉崎 敬, 西田 憲二, 石川 信博, 田沼 繁夫. EPMA散布図分析を応用したNi‐P無電解メッキとはんだ接合域の解析(I). 日本金属学会誌. 68 [1] (2005) 8-13 10.2320/jinstmet.68.8
  5. H. Oikawa, A.M. Vlaicu, M. Kimura, YOSHIKAWA, Hideki, TANUMA, Shigeo, A. Masuhara, H. Kasai, H. Nakanishi. Optoelectronic Interfacial Interaction in Metal-Polydiacetylene Gynridized Nanocrystal. NONLINEAR OPTICS, QUANTUM OPTICS. 34 (2005) 275-278
  6. M. Suzuki, KAISE, Masatsugu, KIMURA, Takashi, TANUMA, Shigeo. Problems caused by ion sputtering for the mesh-replica method and causion in measuring sputtered surface profiles. JOURNAL OF SURFACE ANALYSIS. 12 [2] (2005) 178-182
  7. 田沼 繁夫. オージェ電子分光法,X線光電子分光法による表面定量分析の国際標準化. 真空. 48 [4] (2005) 261-264
  8. S. Tanuma, T. Kimura, K. Nishida, S. Hashimoto, M. Inoue, T. Ogiwara, M. Suzuki, K. Miura. Quantitative evaluation of surface damage on SiO2/Si specimen caused by electron beam irradiation. Applied Surface Science. 241 [1-2] (2005) 122-126 10.1016/j.apsusc.2004.09.028
  9. C.J. Powell, A. Jablonski, F. Salvat, TANUMA, Shigeo, D.R. Penn. New Developments in Data for Auger Electron Spectroscopy and X-ray Photoelectron Spectroscopy. JOURNAL OF SURFACE ANALYSIS. 12 [2] (2005) 88-96
  10. S. Tanuma, C. J. Powell, D. R. Penn. Calculations of electron inelastic mean free paths. Surface and Interface Analysis. 37 [1] (2005) 1-14 10.1002/sia.1997
2004
  1. M. P. Seah, S. J. Spencer, F. Bensebaa, I. Vickridge, H. Danzebrink, M. Krumrey, T. Gross, W. Oesterle, E. Wendler, B. Rheinländer, Y. Azuma, I. Kojima, N. Suzuki, M. Suzuki, S. Tanuma, D. W. Moon, H. J. Lee, Hyun Mo Cho, H. Y. Chen, A. T. S. Wee, T. Osipowicz, J. S. Pan, W. A. Jordaan, R. Hauert, U. Klotz, C. van der Marel, M. Verheijen, Y. Tamminga, C. Jeynes, P. Bailey, S. Biswas, U. Falke, N. V. Nguyen, D. Chandler-Horowitz, J. R. Ehrstein, D. Muller, J. A. Dura. Critical review of the current status of thickness measurements for ultrathin SiO2 on Si Part V: Results of a CCQM pilot study. Surface and Interface Analysis. 36 [9] (2004) 1269-1303 10.1002/sia.1909
  2. Z. Berényi, B. Aszalós-Kiss, J. Tóth, D. Varga, L. Kövér, K. Tőkési, I. Cserny, S. Tanuma. Inelastic mean free paths of Ge in the range of 2–10 keV electron energy. Surface Science. 566-568 (2004) 1174-1178 10.1016/j.susc.2004.06.080
  3. 田沼 繁夫. 表面電子分光法における信号の減衰は如何に記述されるか? II.誘電関数とIMFP. JOURNAL OF SURFACE ANALYSIS. 11 [2] (2004) 123-128
  4. 木村 隆, 西田 憲二, 田沼 繁夫, 井上雅彦, 鈴木峰晴, 橋本哲, 三浦薫. 二酸化シリコン薄膜(SiO2)の電子線照射損傷を定量的に評価する. 表面科学会誌. 25 [4] (2004) 212-216
  5. 田沼 繁夫. 表面電子分光法における信号の減衰は如何に記述されるか? I.概要. JOURNAL OF SURFACE ANALYSIS. 11 [1] (2004) 33-37

書籍 TSV

2015
  1. Joseph Woicik. Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy (HAXPES). Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy (HAXPES). 2015 , 111-140 10.1007/978-3-319-24043-5_5
2014
  1. 田沼 繁夫. 表面化学分析分析法の国際標準化(ISO/TC201). マイクロビームアナリシス・ハンドブック. 2014 , 608-619
2004
  1. 田沼 繁夫. XPS:X線光電子分光法. 表面科学の基礎と応用 日本表面科学会編(エヌ・ティー・エス出版). 2004 , 660-671
  2. 田沼 繁夫, 木村 隆. X線分析. 分析化学データハンドブック(丸善出版). 2004 , 139-145

会議録 TSV

2010
  1. JIN, Hua, YOSHIKAWA, Hideki, TANUMA, Shigeo, Sven Tougaard. Energy loss function for Si determined from reflection electron energy loss spectra with factor analysis method. SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS 2010, 1076-1081
  2. T. Nagatomi, S. Tanuma, K. Goto. Absolutely determined inelastic mean free paths for 300-3000 eV electrons in 10 elemental solids. SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS 2010, 1537-1540
  3. S Fukushima, T Ogiwara, T Kimura, S Tanuma. A study of the appearance of Li Kα. IOP CONFERENCE SERIES:MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING 2010, 012010-1-012010-6
2008
  1. OGIWARA, Toshiya, KIMURA, Takashi, FUKUSHIMA, Sei, TSUKAMOTO Kazunori, TAZAWA Toyohiko, TANUMA, Shigeo. Analysis of ultra-light elements with a newly developed ultra soft x-ray spectrometer for electron probe microanalysis.. MICROCHIMICA ACTA 2008, 451-454
  2. FUKUSHIMA, Sei, OGIWARA, Toshiya, KIMURA, Takashi, Kazunori Tsukamoto, Toyohiko Tazawa, TANUMA, Shigeo. Theoretical Study about Si L2,3 Spectra with The Cluster Calculation. MICROSCOPY AND MICROANALYSIS 2008, 1446-1447
  3. KIMURA, Takashi, IWASAKI, Satoshi, SAKURAYA, Kazuyuki, TANUMA, Shigeo. The Quantitative Analysis of Super-Low Phosphorus Content of SUS316L Type Stainless Steel With EPMA Calibration Curve Method. MICROSCOPY AND MICROANALYSIS 2008, 1136-1137
  4. OGIWARA, Toshiya, KIMURA, Takashi, FUKUSHIMA, Sei, TSUKAMOTO Kazunori, TAZAWA Toyohiko, TANUMA, Shigeo. The Non-destructive Chemical State Analysis of Al-Cu Inter-metallic Compound by Ultra-soft X-ray Spectrometer with Al Lα. MICROSCOPY AND MICROANALYSIS 2008, 842-843
  5. H Iwai, H Yoshikawa, S Fukushima, S Tanuma. Evaluation of Chemical State Analysis and Imaging by Micro XPS. MICROSCOPY AND MICROANALYSIS 2008, 480-481
  6. FUKUSHIMA, Sei, KIMURA, Takashi, OGIWARA, Toshiya, Kazunori Tsukamoto, Toyohiko Tazawa, TANUMA, Shigeo. NEW-MODEL ULTRA-SOFT X-RAY SPECTROMETER FOR ELECTRON PROBE MICROANALYSIS. MICROCHIMICA ACTA 2008, 399-404
  7. KIMURA, Takashi, AOYAGI, Takeshi, SAKURAYA, Kazuyuki, TANUMA, Shigeo. The FE-WDS-EPMA analysis of the segregation at the grain boundary of stainless steel. . MICROSCOPY AND MICROANALYSIS 2008, 1448-1449
2007
  1. 荻原 俊弥, 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫. 電子線励起超軟X線分光装置によるLi-Kα、Al-Lα特性X線を用いた材料解析技術. 2007 JEOL EPMA・表面分析ユーザーズミーティング(東京) 2007, 1-21
  2. 荻原 俊弥, 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫. 電子線励起超軟X線分光装置によるLi-Kα、Al-Lα特性X線を用いた材料解析技術. 2007 JEOL EPMA・表面分析ユーザーズミーティング(名古屋) 2007, 1-22
2006
  1. TANUMA, Shigeo, T.Shiratori, K. Goto, S. Ichimura, M. Suzuki. Measurements and Comparison of Electron Inelastic Mean Free Paths in 13 Elemental Solids in the 100 eV to 5000eV Energy Range by Elastic-Peak Electron Spectroscopy. JSPS 141 Committee ACTIVRY REPORT 5th International Symposium on Atomic Level Chatracterizations for New Materials and Devices 2006, 451-452
  2. FUKUSHIMA, Sei, KIMURA, Takashi, OGIWARA, Toshiya, K. Tsukamoto, T. Tazawa, TANUMA, Shigeo. Electron Probe Microanalysis of Li Kα with Newly Developed Ultra-Soft X-ray Spectrometer.. Microscopy & Microanalysis 2006 2006, 256-257
  3. KIMURA, Takashi, NISHIDA, KENJI, TANUMA, Shigeo. Spatial Resolution of a Wavelength-Dispersive Electron Probe Microanalyzer Equipped with a Thermal Field Emission Gun. MICROCHIMICA ACTA 2006, 175-178

口頭発表 TSV

2018
  1. 原田 善之, 達 博, 田沼 繁夫, 吉川 英樹. 高エネルギー分解能REELSによるSi試料の角度分解測定. 2018年日本表面真空学会学術講演会. 2018
  2. 田沼 繁夫, 篠塚 寛志, C. J. Powell, D.R. Penn. 50 eVから200keVにおける電子の非弾性散乱の計算;42種類の無機化合物について. 2018年日本表面真空学会学術講演会. 2018
  3. 達 博, 吉川 英樹, 田沼 繁夫. ナノ材料の特性評価のための仮想基板法. 2018年日本表面真空学会学術講演会. 2018
  4. DA, Bo, HOU, Zhufeng, LIU, Jiangwei, YOSHIKAWA, Hideki, TANUMA, Shigeo, zhejun Ding. Virtual Substrate Method for Nanomaterials Characterization. MPS-2018. 2018
  5. 三浦 薫, 渡辺 明男, 野田 哲二, 田沼 繁夫. アンケートから見たユーザーニーズ ~ 共用設備・技術の強化・拡充の方向性 ~. 第51回表面分析研究会. 2018
  6. 仲村 和貴, 村上 諒, 片岡 範行, 陰山 弘典, 篠塚 寛志, 吉川 英樹, 田中 博美, 松本 凌, 田沼 繁夫, 吉原 一紘. 参照スペクトルを用いた動的Shirley法によるX線光電子分光スペクトルの解析. 第65回応用物理学会 春季学術講演会. 2018
  7. 村上 諒, 陰山 弘典, 仲村 和貴, 片岡 範行, 田中 博美, 松本 凌, 篠塚 寛志, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, 吉原 一紘. 動的Shirley法によるXPSスペクトル解析範囲の全自動最適化. 第65回応用物理学会 春季学術講演会. 2018
  8. X Liu, ホー ズーフォン, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, ZJ Ding, 達 博. Predict Electron IMFP Using Machine Learning. MI・計測 合同シンポジウム. 2018
  9. 達 博, ホー ズーフォン, 劉 江偉, 吉川 英樹, 田沼 繁夫. Data-driven analysis method. MI・計測 合同シンポジウム. 2018
  10. 仲村 和貴, 村上 諒, 陰山 弘典, 片岡 範行, 田中 博美, 松本 凌, 篠塚 寛志, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, 吉原 一紘. 参照スペクトルを用いた動的Shirley法によるX線光電子分光スペクトルの解析 〜産業分野を活性化する自動解析ソフトウェアの実現を目指して〜. 第23回高専シンポジウム. 2018
  11. 陰山 弘典, 仲村 和貴, 村上 諒, 片岡 範行, 田中 博美, 松本 凌, 篠塚 寛志, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, 吉原 一紘. 動的Shirley法を用いたXPSスペクトル解析におけるアルゴリズムの改良 〜端点付近のロバストなスペクトルの自動処理〜. 第23回高専シンポジウム. 2018
  12. 村上 諒, 仲村 和貴, 陰山 弘典, 片岡 範行, 田中 博美, 松本 凌, 篠塚 寛志, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, 吉原 一紘. X線光電子分光スペクトルにおける大量データ解析プログラムの開発. 第23回高専シンポジウム. 2018
2017
  1. DA, Bo, YOSHIKAWA, Hideki, TANUMA, Shigeo. Virtual substrate method for nanomaterials characterization. The 8th International Symposium on Surface Science. 2017
  2. T. Noda, TANUMA, Shigeo, TAKEGUCHI, Masaki, YOSHIHARA, Kunio, MIURA, Kaoru, OKUMURA, Kana. Research for nanotechnology in NIMS. 3rd International Nano-Industry Forum & Exhibition in Daejeon. 2017
  3. 篠塚 寛志, 吉川 英樹, 達 博, 田沼 繁夫. HAXPESにおける光電子の情報深さとそれに関連する物理量. 2017年真空・表面科学合同講演会:第37回表面科学学術講演会・第58回. 2017
  4. DA, Bo, YOSHIKAWA, Hideki, TANUMA, Shigeo. Virtual substrate method for nanomaterials characterization. JSPS 141 committee meeting. 2017
  5. DA, Bo, YOSHIKAWA, Hideki, TANUMA, Shigeo. Electron transport properties of monolayer graphene measured from secondary electron microscopy according to the substrate variational method. EMAS Workshop / IUMAS Meeting. 2017
  6. 西尾 満章, 吉川 英樹, 田沼 繁夫. EPMAにおける1keV以下の質量吸収係数の検討. 共用・計測合同シンポジウム2017. 2017
  7. 達 博, 劉 江偉, ンギュエン クウォン ター, 塚越 一仁, 岩井 秀夫, 吉川 英樹, 田沼 繁夫. Virtual substrate method for nanomaterials characterization. 共用・計測 合同シンポジウム2017 . 2017
  8. 西尾 満章, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, 今井 基晴, 磯田 幸宏. EPMAによるMg-Ge合金の定量 −質量吸収係数は正確か?−. 第46回表面分析研究会. 2017
  9. 片岡 範行, 村上 諒, 田中 博美, 松本 凌, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, 吉原 一紘. 全自動解析を目指したスペクトル分析ソフトウェアの開発. 第22回高専シンポジウム. 2017
  10. 村上 諒, 片岡 範行, 田中 博美, 松本 凌, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, 吉原 一紘. X線光電子分光スペクトル解析における標準データ参照機能の導入. 第22回高専シンポジウム. 2017
2016
  1. 永富隆清, 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. GaAs超格子試料のAESスパッタ深さ分析における深さ分解能パラメータ. 第36回表面科学学術講演会(2016年真空•表面科学合同講演会. 2016
  2. 吉川 英樹, 田沼 繁夫. 検出角 70°の広角まで対応可能なXPS平均脱出深さの経験式の提案. 第36回表面科学学術講演会. 2016
  3. YOSHIKAWA, Hideki, TANUMA, Shigeo. Empirical equation of mean escape depths for wide-emission-angle X-ray photoelectron spectroscopy. 7th International Symposium on Pracical Surface Analysis (PSA16). 2016
  4. Takaharu NAGATOMI, OGIWARA, Toshiya, TANUMA, Shigeo. Investigation of Depth Resolution Parameters in Auger Electron Spectroscopy Sputter Depth Profiling of GaAs/AlAs Superlattice under Different Experimental Conditions. 7th International Symposium on Practical Surface Analysis (PSA-1. 2016
  5. DA, Bo, YOSHIKAWA, Hideki, TANUMA, Shigeo, IWAI, Hideo. Low Energy Electron-Electron Interaction Information of Graphene Measured from Secondary Electron Microscopy. 7th International Symposium on Practical Surface Analysis. 2016
  6. 片岡範行, 田中博美, 松本 凌, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, 吉原一紘. 解析者に結果が依存しないスペクトル分析ソフトウェアの開発. 日本高専学会第22回年会. 2016
  7. DA, Bo, YOSHIKAWA, Hideki, TANUMA, Shigeo. Extracting pure nanomaterial information by surface analysis using the chop-nod method. the 20th International Vacuum Congress. 2016
  8. 田中博美, 西澤侑吾, 松本 凌, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, 吉原一紘. 改良型動的Shirley法によるXPSスペクトル解析の安定化. 第63回応用物理学会春季学術講演会. 2016
  9. DA, Bo, YOSHIKAWA, Hideki, TANUMA, Shigeo. Chop-nod method: Opening up a new world for surface analysis. MANA International Symposium 2016. 2016
  10. 達 博, 吉川 英樹, 田沼 繁夫. Chop-nod method in surface electron spectroscopy. 共用・計測 合同シンポジウム2016. 2016
  11. 田沼 繁夫, 後藤啓典, 吉川 英樹, パウエル, 達 博, 上田隆一, 篠塚寛志. Inelastic Mean Free Paths, Mean Escape Depths, and Effective Attenuation Lengths for Surface Electron Spectroscopies II. 第46回表面分析研究会. 2016
  12. 西澤侑吾, 田中博美, 松本 凌, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, 吉原一紘. 動的Shirley法によるXPSバックグラウンドの自動推定. 第21回高専シンポジウム. 2016
2015
  1. 田沼 繁夫. 研究・開発と表面分析. 第43回湘南ハイテクセミナー. 2015
  2. 吉川 英樹, 田沼 繁夫. Super Extended Mermin Method for Calculating Electron Inelastic Mean Free Path. Symposium on Practical Surface Analysis 2015 (PSA-15). 2015
  3. 田沼 繁夫, 後藤啓典, 吉川 英樹, パウエル, 達 博, 上田隆一, 篠塚寛志. Inelastic Mean Free Paths, Mean Escape Depths, and Effective Attenuati on Lenths for Surface Electron Spectroscopies I. 2015年度 実用表面分析講演会. 2015
  4. DA, Bo, YOSHIKAWA, Hideki, TANUMA, Shigeo. Extended Mermin Method in Determining Electron Inelastic Mean Free Path. 10th International Symposium on Atomic Level Characterizations. 2015
  5. YOSHIKAWA, Hideki, TANAKA, Hajime, JIN, Hua, IWAI, Hideo, TANUMA, Shigeo. Factor analysis of angle-resolved REELS spectra for compound semiconductors to obtain energy loss functions. 10th International Symposium on Atomic Level Characterizations. 2015
  6. YOSHIKAWA, Hideki, TANUMA, Shigeo. Mean escape depths for X-ray photoelectron spectroscopy in the wide kinetic-energies and emission-angles. ECASIA 2015. 2015
  7. DA, Bo, YOSHIKAWA, Hideki, TANUMA, Shigeo. An Improved Extended Mermin Method for Calculating Electron Inelastic Mean Free Path. 16th European Conference on Application of Surface and Interface. 2015
  8. 西尾 満章, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, 今井 基晴, 磯田 幸宏. EPMAによるMg-Ge合金の定量 −質量吸収係数は正確か?−. 日本分析化学会第64年会. 2015
  9. DA, Bo, YOSHIKAWA, Hideki, TANUMA, Shigeo. Super Extended Mermin Method for Calculating Electron Inelastic Mean Free Path. LEE2015. 2015
  10. TANUMA, Shigeo, YOSHIKAWA, Hideki, K. Goto, C. J. Powell. Inelastic Mean Free Paths, Mean Escape Depths, and Effective Attenuation Lengths for Surface Electron Spectroscopies. Low Energy Electrons: Dynamics and Correlation near Surfaces and. 2015
  11. 西澤 侑吾, 松本 凌, 田中 博美, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, 吉原 一紘. X線光電子分光スペクトルの解析を支援するソフトウェアの開発 . 日本高専学会第21回年会. 2015
  12. YOSHIKAWA, Hideki, TANUMA, Shigeo. Extended Mermin Method in Determining Electron Inelastic Mean Free Path. NIMS Conference 2015. 2015
  13. YOSHIKAWA, Hideki, TANAKA, Hajime, JIN, Hua, TANUMA, Shigeo, IWAI, Hideo. Factor analysis of angle-resolved REELS spectra for compound semiconductors toward building database of energy loss functions. NIMS conference 2015. 2015
  14. NISHIO, Mitsuaki, YOSHIKAWA, Hideki, TANUMA, Shigeo, IMAI, Motoharu, ISODA, Yukihiro. Quantification of electron microprobe analysis for Mg in MgGe alloy *Reexamination of databases of mass absorption coefficients of MgKα*. NIMS Conference 2015. 2015
  15. 荻原 俊弥, 吉川 英樹, 田沼 繁夫. 試料冷却を用いたSiO2およびAl2O3酸化薄膜のオージェスペクトル測定の基礎的検討. 第75回分析化学討論会. 2015
  16. 櫻田委大, 橋本哲, 後藤啓典, 田沼 繁夫. AES 分光スペクトルを用いた極低加速電圧領域における反射電子像コント ラストの評価. 第71回学術講演会. 2015
  17. 達 博, 吉川 英樹, 田沼 繁夫. An Improved Method for Calculating Electron Inelastic Mean Free Paths. MANA International Symposium 2015. 2015
  18. 田沼 繁夫. 表面定量分析における標準化の現状と課題:物理データベースからシミュレータへ. 第44回表面分析研究会 SASJ設立20周年記念講演会. 2015
2014
  1. 田沼 繁夫. 研究・開発とX線を利用した分析. 第41回湘南ハイテクセミナー. 2014
  2. Ryo Matsumoto, Hiromi Tanaka, YOSHIKAWA, Hideki, TANUMA, Shigeo, Kazuhiro Yoshihara. Software Development for Supporting Surface Analysis. International Symposium on Technology for Sustainability. 2014
  3. A. Jablonski, C. J. Powell, TANUMA, Shigeo. Effective Attenuation Lengths for Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy (HAXPES). AVS 61st International Symposium. 2014
  4. 吉川 英樹, 田沼 繁夫. 電子分光シミュレーターの物質情報学への展開のためのデータベース構築. 第34回表面科学学術講演会. 2014
  5. 荻原 俊弥, 吉川 英樹, 田沼 繁夫. 試料冷却ステージを用いた極低角度入射ビームオージェ深さ方向分析.AES-DPデータベース開発に向けて. 第34回表面科学学術講演会. 2014
  6. 松本凌, 田中博美, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, 吉原一紘. Shirley法の改善によるXPSバックグラウンドの高精度算定. 第34回表面科学学術講演会. 2014
  7. TANUMA, Shigeo, SHINOTSUKA, Hiroshi, DA, Bo, YOSHIKAWA, Hideki, C. J. Powell. Electron Inelastic Mean Free Paths in Liquid Water for Energies from10 eV to 10 keV. 7th International Symposium on Surface Science. 2014
  8. YOSHIKAWA, Hideki, TANUMA, Shigeo. Mean escape depth for X-ray photoelectron spectroscopy in the kinetic energy region from 0.1 to 10 keV and in the emission angle region up to 80 degree. 7th International Symposium on Surface Science. 2014
  9. 達 博, 篠塚 寛志, 吉川 英樹, 丁泽军, 田沼 繁夫. 電子非弾性平均自由行程を計算するための改良された方法. The 7th International Symposium on Surface Science (ISSS7). 2014
  10. 荻原 俊弥, 吉川 英樹, 田沼 繁夫. 試料冷却を用いたオージェ深さ方向分析の基礎的検討. 2014年度実用表面分析講演会. 2014
  11. 松本凌, 西澤侑吾, 田中博美, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, 吉原一紘. 端点位置に影響されないShirley法によるXPSバックグラウンドの算定. 2014年度 実用表面分析講演会PSA14. 2014
  12. 松本凌, 田中博美, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, 吉原一紘. 表面分析支援ソフトウェアの開発 - 動的Shirley法によるXPSバックグラウンド推定の高度化. 平成26年度電気・情報関連学会中国支部連合大会. 2014
  13. 田沼 繁夫. 表面化学分析の現状と標準化の展望. 表面分析講演会. 2014
  14. 田沼 繁夫. 固体試料における電子のIMFP, EAL, MEDの推定. 「SEMの物理学」分科会 合宿討論会. 2014
  15. 吉川 英樹, 田沼 繁夫. 表面深層の化学状態分析: 硬Ⅹ線光電子分光. 第14回NIMSフォーラム. 2014
  16. 西尾 満章, 田沼 繁夫, 今井 基晴, 磯田 幸宏. EPMAによるMgGe合金の定量. 日本分析化学会第63年会. 2014
  17. 達 博, 篠塚 寛志, 吉川 英樹, 丁 泽军, 田沼 繁夫. An Improved Method for Calculating Electron Inelastic Mean Free Paths. 学振マイクロビームアナリシス第 141 委員会第 157 回研究会. 2014
  18. 田沼 繁夫. 表面化学分析の現状と標準化の展望. 日本電子 SA事業ユニット セミナー. 2014
  19. 岩井 秀夫, 田中 彰博, 田沼 繁夫. TOF-SIMSの分析事例と最近の動向. 共用・計測 合同シンポジウム2014. 2014
  20. 松本凌, 荒木優一, 田中博美, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, 吉原一紘. 動的Shirley法によるXPSバックグラウンド除去の全自動化とCOMPROへの組み込み. 第42回表面分析研究会. 2014
2013
  1. 田沼 繁夫. 研究・開発とX線を利用した分析. 第39回湘南ハイテクセミナー. 2013
  2. TANUMA, Shigeo. Analysis of electron inelastic scattering in solids over wide energy range and its application to surface chemical analysis. 2nd KVS-­VSJ-­SSSJ Joint Symposium. 2013
  3. 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. 極低角度入射ビームを用いたオージェ深さ方向分析による極薄膜多層試料の評価. 第33回表面科学学術講演会. 2013
  4. 松本凌, 荒木優一, 田中博美, 吉川 英樹, 田沼 繁夫. 表面分析支援ソフトウェアの開発. 2013年真空・表面科学合同講演会. 2013
  5. 吉川 英樹, 渡部大介, 吉原一紘, 田中博美, 田沼 繁夫. 表面分析スペクトルシミュレーターにおけるデータベース構築のための共通データフォーマットの提. 2013年真空・表面科学合同講演会. 2013
  6. 吉川 英樹, 岩井 秀夫, 新井 正男, 田沼 繁夫. 角度分解反射電子エネルギー損失分光スペクトルの因子分析から求めた化合物半導体の誘電関数. 2013年真空・表面学術合同講演会. 2013
  7. TANUMA, Shigeo. Calculations and Measurements of Electron Inelastic Mean Free Paths in Solids . 6th International Symposium on Practical Surface Analysi. 2013
  8. IWAI, Hideo, OGIWARA, Toshiya, TANAKA, Akihiro, TANUMA, Shigeo, FUKUSHIMA, Sei, KIMURA, Takashi. Electron Beam Damages on SiO2 Thin Films (VAMAS-SCA Round Robin). PSA-13. 2013
  9. YOSHIKAWA, Hideki, Kazuhiro YOSHIHARA, Daisuke WATANABE, Hiromi TANAKA, TANUMA, Shigeo. Proposal of a Structured Data Transfer Format for Simulation Softwares and Related Database of Surface Electron Spectroscopies. 6th International Symposium on Practical Surface Analysis. 2013
  10. 松本凌, 荒木優一, 田中博美, 吉川 英樹, 田沼 繁夫. 表面分析支援ソフトウェアの開発. 第64回電気・情報関連学会中国支部連合大会. 2013
  11. YOSHIKAWA, Hideki, Kazuhiro YOSHIHARA, Daisuke WATANABE, Hiromi TANAKA, TANUMA, Shigeo. Proposal of Common Data Transfer Format for Simulation Softwares of Surface Electron Spectroscopies. 15th European Conference on Applications of Surface & Interface. 2013
  12. TANUMA, Shigeo, YOSHIKAWA, Hideki, H. Shinotsuka, UEDA, Ryuichi. Calculations of Mean Escape Depths of Photoelectrons in Elemental Solids Excited by Linearly Polarized X-ray for High Energy Photoelectron Spectroscopy. 15th European Conference on Surface and Interface Analysis. 2013
  13. MATSUSHITA, Yoshitaka, T. Onimaru, S. Tsutsui, K. T. Matsumoto, SATO, Akira, KAISE, Masatsugu, SEKIKAWA, Sigeyoshi, TANUMA, Shigeo, T. Takabatake. Superconductors, LnT2Zn20 (Ln = La, Pr, T = Ru, Ir): Their Crystal Structures. The 12th International Conference on Quasicrystals (ICQ12). 2013
  14. 田沼 繁夫. ISO TC201(表面化学分析), VAMAS TWA2(表面化学分析)における国際標準化の現状と展望. 表面化学分析技術国際標準化セミナー『表面・微小領域分析における国. 2013
  15. TANUMA, Shigeo. Calculations of Electron Inelastic Mean Free Paths in Solids over the 10 eV to 200 keV Energy Range with the Relativistic Full Penn Algorithm. IUVSTA Workshop on Nanostructure Characterization by Electron Be. 2013
  16. YOSHIKAWA, Hideki, TANUMA, Shigeo. Energy loss functions and IMFPs derived by factor analysis of reflection electron energy loss spectra. 71 IUVSTA Workshop. 2013
  17. 吉川 英樹, 渡部大介, 吉原一紘, 田中博美, 田沼 繁夫. 表面分析のシミュレーター用入力ファイル及び参照スペクトルの記述のためのXMLを用いた共通データフォーマットの提案. 第41回表面分析研究会. 2013
  18. 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. 極低角度入射ビームを用いたオージェ深さ方向分析による酸化物薄膜の分析. 第73回分析化学討論会. 2013
  19. 岩井 秀夫, 小畠雅明, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, 小林啓介. 実験室系硬X線光電子分光装置の開発と応用. 共用・計測 合同シンポジウム2013. 2013
  20. 田沼 繁夫, 吉川 英樹, 篠塚寛志, 上田 隆一. Calculations of Mean Escape Depths of Photoelectrons in Elemental Solids Excited by Linearly Polarized X-ray for High Energy Photoelectron Spectroscopy. 表面分析研究会第40回研究会. 2013
  21. 後藤敬典, 山内幸彦, 田沼 繁夫. 金属とその酸化物のオージェ・2次電子放射特性:Li,Mg,CuBe. 第40回表面分析研究会. 2013
  22. 田沼 繁夫, 吉川 英樹, 上田 隆一, 篠塚寛志. Calculations of Mean Escape Depths of Photoelectrons in Elemental Solids Excited by Linearly Polarized X-ray for High Energy Photoelectron Spectroscopy. 第40回表面分析研究会. 2013
  23. 永富隆清, 柳内克昭, 田沼 繁夫. 表面分析及び標準化に関するIUVSAワークショップ. 学術振興会第141委員会第151回研究会. 2013
  24. TANUMA, Shigeo. Present Status of Standardization of Quantitative Surface Chemical Analysis by AES and XPS. iSAS13. 2013
  25. TANAKA, Akihiro, IWAI, Hideo, OGIWARA, Toshiya, TANUMA, Shigeo, FUKUSHIMA, Sei, KIMURA, Takashi. Definition and quantification of unintended degradations. iSAS-13. 2013
2012
  1. 田沼 繁夫. 電子の非弾性散乱データベースの現状と展望. 第32回表面科学学術講演会. 2012
  2. 永富隆清, 田沼 繁夫. オージェ電子分光法分析における電子線誘起試料損傷の 標準化とデータベース化 −SiO2 薄膜表面の損傷過程−. 第32回表面科学学術講演会. 2012
  3. 西尾 満章, 田沼 繁夫. 低加速EPMAにおける蒸着膜の影響. 第32回表面科学学術講演会. 2012
  4. TANUMA, Shigeo. モノづくりを支える表面分析技術: 表面分析の現状とその課題. 第13回真空シンポジウム 「日本のモノづくりを支える最新の表面分. 2012
  5. 後藤啓典, 井上雅彦, 山内幸彦, 田沼 繁夫. 2次電子の利得を通常のSEMなどで正確に計測する試みと低速一次電子照射による2次電子のエネルギー分布. マイクロビーム141委員会 第149回委員会. 2012
  6. 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫. 極低角度入射ビームを用いた高感度,高深さ分解能オージェ深さ方向分析による極薄膜多層試料の分析. 日本分析化学会第61年会. 2012
  7. 西尾 満章, 田沼 繁夫. 低加速電圧EPMAによる軽元素定量の検討. 第61回 日本分析化学会年会. 2012
  8. 田沼 繁夫. ナノ計測と標準化. ナノテクノロジー社会受容特論. 2012
  9. 吉川 英樹, 吉原一紘, 田沼 繁夫. 「データ解析ソフトウェアCOMPROの新機能」―角度分解XPSを使った半導体バンド曲りの定量評価―. 第39回表面分析研究会. 2012
  10. 後藤敬典, 井上雅彦, 田沼 繁夫, 山内幸彦. F.Cup と試料電流による2次電子利得の推測と2次電子の特性;エネルギー分布・オージェ遷移・損失. 第39回表面分析研究会. 2012
  11. 西尾 満章, 田沼 繁夫. EPMAに夜薄膜の定量分析-モンテカルロ法と解析的方法の発生関数の比較-. 第72回分析化学論会. 2012
  12. 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫. 傾斜ホルダーを利用した極低角度入射ビームによるデルタドープ多層薄膜のオージェ深さ方向分析. 第72回分析化学討論会. 2012
  13. TANUMA, Shigeo, SHINOTSUKA, Hiroshi, C.J. Powell, D.R. Penn. Database of electron stopping powers in elemental solids for surface analysis. AMDS 2012, The 3rd Asian Materials Data Symposium. 2012
  14. 田沼 繁夫. 精密3次元分析のための電子輸送シミュレータの開発をめざして- 最表面と表層の分析情報分離 -. X線光電子分光高精度定量化のための基礎物理. 2012
  15. 田中 彰博, 木村 隆, 福島 整, 岩井 秀夫, 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. VAMAS-電子ビーム損傷ラウンドロビン試験報告. 表面分析研究会. 2012
  16. 田沼 繁夫. 感度係数法による表面定量分析の現状と課題. 第38回表面分析研究会. 2012
  17. 後藤啓典, 井上雅彦, 田沼 繁夫, 山内幸彦. 走査型オージェ電子顕微鏡を使った2次電子利得の絶対計測;Au,Ag,Cu. 第38回表面分析研究会. 2012
2011
  1. 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫. 極低角度入射ビームを用いた極薄膜多層試料のオージェ深さ方向分析. 第31回表面科学学術講演会. 2011
  2. 西尾 満章, 田沼 繁夫. EPMAによる薄膜の定量分析. 第31回表面科学学術講演会. 2011
  3. 篠塚 寛志, 田沼 繁夫, C.J. Powell, D.R. Penn. 10eV - 30 keVにおける固体中の電子阻止能の計算. 第31回表面科学学術講演会. 2011
  4. 田沼 繁夫. 研究・開発とX線分析. 第35回湘南ハイテクセミナー. 2011
  5. 田沼 繁夫, 永富隆清. 感度係数法による表面定量分析. マイクロビームアナリシス第141委員会第146回委員会. 2011
  6. 田沼 繁夫. 角度分解ー反射電子スペクトルを用いた誘電関数計測法の開発と応用. NIMS-AIST 計算・計測シミュレーション合同WS. 2011
  7. 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫. 極低角度入射ビームを用いた高感度,高分解能オージェ深さ方向分析による極薄膜多層試料の分析. 2011年度実用表面分析講演会. 2011
  8. 篠塚 寛志, 吉川 英樹, 田沼 繁夫. 固体中における電子の非弾性散乱に関するモデルエネルギー損失関数の評価. 2011年度 実用表面分析講演会. 2011
  9. 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫. 高傾斜試料ホルダーを用いた極低角度電子・イオン入射オージェ深さ方向分析. 日本分析化学会第60年会. 2011
  10. KUMAGAI, Kazuhiro, TANUMA, Shigeo, C. J. Powell. Analysis of the Energy Dependence of Electron Stopping Powers in Elemental Solids over the 50 eV to 30 keV Energy Range. ECASIA . 2011
  11. YOSHIKAWA, Hideki, JIN, Hua, TANAKA, Hajime, SHINOTSUKA, Hiroshi, IWAI, Hideo, ARAI, Masao, Sven Tougaard, TANUMA, Shigeo. Dielectric functions of GaAs and GaSb by factor analysis of reflection electron energy loss spectra. ECASIA2011. 2011
  12. SHINOTSUKA, Hiroshi, YOSHIKAWA, Hideki, TANUMA, Shigeo. Evaluation of model energy loss functions for electron inelastic scattering in solids. ECASIA. 2011
  13. SHINOTSUKA, Hiroshi, TANUMA, Shigeo, C.J. Powell, D.R. Penn. Calculations of electron stopping powers for 41 elemental solids over the 50 eV to 30 keV range with the full Penn algorithm. ECAISA 11. 2011
  14. TANAKA, Akihiro, KIMURA, Takashi, FUKUSHIMA, Sei, IWAI, Hideo, OGIWARA, Toshiya, TANUMA, Shigeo. Summary of the VAMAS Round-Robin Test for Practical Analyses on the Electron Beam Damage to SiO2/Si Specimens. ECASIA 2011. 2011
  15. 依田貴稔, 木下健太郎, 岸田悟, 荻原 俊弥, 岩井 秀夫, 福島 整, 田沼 繁夫. 原子間力顕微鏡を用いたReRAM フィラメントの物性解析. 集積回路研究会. 2011
  16. 田中 肇, 篠塚 寛志, 岩井 秀夫, 吉川 英樹, 田沼 繁夫. 角度可変反射電子エネルギー損失スペクトルの因子分析を用いた解析 −Ⅲ族-Ⅴ族半導体(GaSb,GaP,GaN)におけるエネルギー損失関数−. 第36回表面分析研究会. 2011
2010
  1. 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫. 半球型電子分光器を搭載したオージェ電子分光装置を用いた分析. 秋田県産業技術総合研究センター高度技術研究所セミナー. 2010
  2. 谷舗浩紀, 永富隆清, 高井義造, 荻原 俊弥, 田沼 繁夫, K. J. Kim. 斜入射・検出法を用いたデルタドープ層の高感度AES及びXPSスパッタ深さ分析. 第30回表面科学学術講演会. 2010
  3. 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫. 傾斜ホルダーを用いた極低角度電子・イオン入射オージェ深さ方向分析. 第30回表面科学学術講演会. 2010
  4. 吉川 英樹, 金 華, 田中 肇, 篠塚 寛志, 岩井 秀夫, 新井 正男, 田沼 繁夫. 反射電子エネルギー損失分光スペクトル解析への因子分析の応用 -Si, SiO2, GaAsのエネルギー損失関数の導出. 第30回表面科学学術講演会・第51回真空に関する連合講演会. 2010
  5. 田沼 繁夫, 篠塚 寛志, C.J. Powell, D.R. Penn. 電子の非弾性平均自由行程および阻止能における 計算モデルの比較 . 第30回表面科学学術講演会. 2010
  6. TANUMA, Shigeo, C,J. Powell, D.R. Penn. Electron Inelastic Mean Free Paths for 41 Elemental Solids. PSA10 International symposium on practical surface analysis. 2010
  7. Hiroki TANISHIKI, OGIWARA, Toshiya, Takaharu NAGATOMI, Yoshizo TAKAI, K. J. Kim, TANUMA, Shigeo. High-sensitive depth profiling of delta-doped layers by glancing angle irradiation and detection. International Symposium on Practical Surface Analysis (PSA-10). 2010
  8. OGIWARA, Toshiya, Takaharu NAGATOMI, K. J. Kim, TANUMA, Shigeo. High Depth Resolution Auger Depth Profiling using a 85°-High-Angle Inclined Holder. International Symposium on Practical Surface Analysis (PSA-10). 2010
  9. YOSHIKAWA, Hideki, JIN, Hua, SHINOTSUKA, Hiroshi, IWAI, Hideo, ARAI, Masao, Sven Tougaard, TANUMA, Shigeo. Energy loss functions and optical constants of a few semiconductors determined by factor analysis of reflection electron energy loss spectra. PSA10 International symposium on practical surface analysis. 2010
  10. IWAI, Hideo, KOBATA, Masaaki, PIS, Igor, YOSHIKAWA, Hideki, TANUMA, Shigeo, YAMAZUI Hiromichi, SUZUKI Mineharu, MATSUDA Hiroyuki, DAIMON Hiroshi, KOBAYASHI, Keisuke. Deveolpment of Hard X-ray Photoemission Spectrometer for Lab Use. PSA-10. 2010
  11. 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫. 半球型電子分光器を搭載したオージェ電子分光装置のジオメトリー特性と高傾斜ホルダーを利用した高分解能オージェ深さ方向分析Ⅱ. 日本分析化学会第59年会. 2010
  12. 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫. 半球型電子分光器を搭載したオージェ電子分光装置のジオメトリー特性と傾斜ホルダーを利用した超高深さ分解能オージェ深さ方向分析. 2010 JAIMAコンファレンス 実用的表面分析を目指した活動 − Powel. 2010
  13. IWAI, Hideo, KOBATA, Masaaki, PIS, Igor, YOSHIKAWA, Hideki, TANUMA, Shigeo, KOBAYASHI, Keisuke, YAMAZUI Hiromichi, TAKAHASHI Hiroaki, KODAMA Minoru, TANAKA Akihiro, SUZUKI Mineharu, IKENAGA Eiji, MACHIDA Masatake, MATSUDA Hiroyuki, DAIMON Hiroshi. Development of Angle Resolved HXPS Instrument for Laboratory Use. 18th International Vacuum Congress (IVC-18) . 2010
  14. TANUMA, Shigeo, C.J. Powell, D.R. Penn. Calculations of electron inelastic mean free paths for 41 elemental solids over the 50 eV to 30 keV range. 18th International Vacuum Congress (IVC-18). 2010
  15. OGIWARA, Toshiya, TakaharuNAGATOMI, TANUMA, Shigeo. High Depth Resolution Auger Depth Profiling Analysis Using Inclined Holder. Microscopy and Microanalysis 2010. 2010
  16. 田沼 繁夫. AES,XPS分析における感度係数法による定量. 実用表面分析セミナー2010. 2010
  17. 田沼 繁夫. AES,XPS分析における感度係数法による定量. 実用表面分析セミナー2010. 2010
  18. FUKUSHIMA, Sei, OGIWARA, Toshiya, SHINOTSUKA, Hiroshi, KIMURA, Takashi, TANUMA, Shigeo. The Change of Al L2,3 at the Welding Interface between Al and Cu. VUVX2010. 2010
  19. 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫. Si/BNデルタドープSIMS標準試料のオージェ深さ方向分析. 第35回表面分析研究会. 2010
  20. 後藤啓典, 竹中貴久, 田沼 繁夫, 黒河 明, 山内幸彦. AESによる非破壊計測―Si/BN多層膜. 第35回表面分析研究会. 2010
  21. 田沼 繁夫. 標準物質と表面分析の標準化(1). 第35回表面分析研究会. 2010
  22. AMEKURA, Hiroshi, TANAKA, Masahiko, YOSHIKAWA, Hideki, SHINOTSUKA, Hiroshi, TANUMA, Shigeo, N. Ishikawa, OHNUMA, Masato, MATSUSHITA, Yoshitaka, KOBAYASHI, Keisuke, KISHIMOTO, Naoki. Surface plasmon resonance and interband transitions of metal nanoparticles: What are the "interband transitions"?. The intenational conference on NANOPHOTONICS 2010. 2010
  23. 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫. 半球型電子分光器を搭載したオージェ電子分光装置のジオメトリー特性と高傾斜ホルダーを利用した高分解能オージェ深さ方向分析. 第71回分析化学討論会. 2010
  24. SHINOTSUKA, Hiroshi, TANUMA, Shigeo, YOSHIKAWA, Hideki, FUJIKAWA Takashi. Calculation of Emission Depth Distribution Functions for CuO and SiO2 by the Monte Carlo Simulation and the Quantum Mechanical Scattering Theory. Korean-Chinese-Japanese Cooperative Program. 2010
  25. Mineharu Suzuki, FUKUSHIMA, Sei, TANUMA, Shigeo. Report of Visual Peak Detection in XPS in VAMAS/TWA2/A9. The 1st meeting of Korean-Chinese-Japanese Cooperative Program. 2010
  26. OGIWARA, Toshiya, Takaharu Nagatomi, TANUMA, Shigeo. High Depth Resolution Auger Depth profiling Analysis Using a High Angle Inclined Holder. The 1st meeting of Korean-Chinese-Japanese Cooperative Program . 2010
  27. IWAI, Hideo, KOBATA, Masaaki, YOSHIKAWA, Hideki, TANUMA, Shigeo, KOBAYASHI, Keisuke, YAMAZUI Hiromichi, TAKAHASHI Hiroaki, KODAMA Minoru, TANAKA Akihiro, SUZUKI Mineharu, IKENAGA Eiji, YANG Ke, MACHIDA Masatake, SON Jin-Young, MATSUDA Hiroyuki, DAIMON Hiroshi. Development of Angle Resolved HAXPES Instrument for Laboratory Use. The 1st meeting of Korean-Chinese-Japanese Cooperative Program. 2010
  28. TANUMA, Shigeo. Current status of VAMAS activities in NIMS and the report of project A7 in TWA2. The 1st meeting of Korean-Chinese-Japanese Cooperative Program. 2010
  29. YOSHIKAWA, Hideki, JIN, Hua, SHINOTSUKA, Hiroshi, IWAI, Hideo, ARAI, Masao, TANUMA, Shigeo, Sven Tougaard. Factor analysis of REELS spectra to determine optical properties and IMFPs. The 1st meeting of Korean-Chinese-Japanese Cooperative Program. 2010
  30. 吉川 英樹, 金 華, 篠塚 寛志, 岩井 秀夫, 田沼 繁夫. 反射電子エネルギー損失スペクトルにおける因子分析の基礎的扱い. 第34回表面分析研究会. 2010
  31. 田沼 繁夫, 永富隆清. AES- XPSにおけるバックグラウンドに関する研究. 第34回表面分析研究会. 2010
2009
  1. YOSHIKAWA, Hideki, VLAICU, AurelMihai, Masahiro KIMURA, Akito MASUHARA, TANUMA, Shigeo, Hachiro NAKANISHI, Hidetoshi OIKAWA. Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy and XANES Analyses of Core (Silver)-Shell (Polydiacetylene) Type Hybridized Nanocrystals. 7th International Symposium on Atomic Level Characterizations fo. 2009
  2. 田沼 繁夫. X線分析と研究開発 . 第31回湘南ハイテクセミナー (第40回研修フォーラム) 「研究開発と分. 2009
  3. 永富隆清, 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. 深さ分析プロファイルの分解能、界面幅、界面位置はどうやって決めるのか?. PSA-09. 2009
  4. 篠塚 寛志, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, 藤川高志. モンテカルロ計算および量子力学的散乱理論によるCuOおよびSiO2の放出深さ分布関数の計算. PSA-09 . 2009
  5. 吉川 英樹, 木村昌弘, 増原陽人, 田沼 繁夫, 中西八郎, 及川英俊. コアシェル構造を持つAg-ジアセチレン ナノ粒子の硬Ⅹ線光電子分光およびⅩ線吸収スペクトル解析. Symposium on Practical Surface Anlysis 2009 (PSA-09). 2009
  6. 岩井 秀夫, 小畠 雅明, 山瑞拡路, 田中彰博, 鈴木峰晴, 池永英司, 松田博之, 大門寛, 田沼 繁夫, 小林 啓介. 実験室系硬X線光電子分光分析装置の開発. PSA-09. 2009
  7. 田沼 繁夫. 41元素固体における IMFPの計算. PSA-09. 2009
  8. 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫. 半球型電子分光器を搭載したオージェ電子分光装置のジオメトリー特性と傾斜ホルダーを利用した超高深さ分解能オージェ深さ方向分析. PSA-09  2009年度実用表面分析講演会. 2009
  9. 岩井 秀夫, 小畠 雅明, 山瑞拡路, 田中彰博, 鈴木峰晴, 池永英司, 松田博之, 大門寛, 田沼 繁夫, 小林 啓介. ラボ用高エネルギーXPSの開発. 第29回表面科学学術講演会. 2009
  10. 田沼 繁夫, 吉川 英樹, 後藤啓典. 弾性散乱ピーク強度比を用いた金属元素における 200 - 5000 eVのIMFPと SEPの同時推定. 第29回表面科学学術講演会. 2009
  11. 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. 高傾斜ホルダーを用いた極低角度電子・イオン入射オージェ深さ方向分析. 第29回表面科学学術講演会. 2009
  12. T. Nagatomi, TANUMA, Shigeo, Keisuke Goto. Electron Inelastic Mean Free Path and Surface Excitation Parameter in 10 Elemental Solids Determined by Absolute REELS analysis over 300-3000 eV Range. ECASIA'09. 2009
  13. SHINOTSUKA, Hiroshi, YOSHIKAWA, Hideki, TANUMA, Shigeo, Fujikawa Takashi. Calculation of Emission Depth Distribution Functions for CuO and SiO2 by the Monte Carlo Simulation and the Quantum Mechanical Scattering Theory. ECASIA’09. 2009
  14. TANUMA, Shigeo, YOSHIKAWA, Hideki, OKAMOTO, Naoki, Keisuke Goto. Estimation of Inelastic Mean Free Paths and Surface Excitation Parameters in Elemental Solids from Elastic Peak Intensity Ratios without Reference Material in the 200 - 5000 eV Energy Range. ECASIA'09. 2009
  15. OGIWARA, Toshiya, TANUMA, Shigeo. Auger Depth Profiling Analyses of InP/GaInAsP Multilayer Thin Films Using a Sample Cooling Stage. ECASIA’09. 2009
  16. IWAI, Hideo, KOBATA, Masaaki, YOSHIKAWA, Hideki, TANUMA, Shigeo, KOBAYASHI, Keisuke, YAMAZUI Hiromichi, TAKAHASHI Hiroaki, KODAMA Minoru, TANAKA Akihiro, SUZUKI Mineharu, IKENAGA Eiji, YANG Ke, MACHIDA Masatake, SON Jin-Young, MATSUDA Hiroyuki, DAIMON Hiroshi. Development of HXPS Instrument Combined with Monochromatic Cr Kα Focused X-ray Source and Wide Acceptance Objective Lens for Spectrometer. ECASIA'09. 2009
  17. 田沼 繁夫. ISO TC201(表面化学分析)国際標準化の現状と展望. JSCA 表面化学分析国際標準化セミナー. 2009
  18. 吉川 英樹, 金 華, 岩井 秀夫, 田沼 繁夫. データ処理〜ファクターアナリシス(因子分析)の使い方. 第33回表面分析研究会. 2009
  19. 田沼 繁夫. IMFP(第2回). 第33回表面分析研究会. 2009
  20. TANUMA, Shigeo, CJ Powell, DR Penn. Calculations of Electron Inelastic Mean Free Paths for 42 Elemental Solids over the 50 eV to 30 keV Range. International Workshop for New Opportunities in Hard X-ray PS. 2009
  21. YOSHIKAWA, Hideki, TANAKA, Hiromi, Masahiro Kimura, OGIWARA, Toshiya, KIMURA, Takashi, FUKUSHIMA, Sei, KUMAGAI, Kazuhiro, TANUMA, Shigeo, Mineharu Suzuki, KOBAYASHI, Keisuke. Asymmetry parameter and surface excitation parameter for Ni derived by angle-resolved and energy-resolved HX-PES analysis at SPring-8. HAXPES09. 2009
  22. TANUMA, Shigeo, CJ Powell, DR Penn. The inelastic mean free path: theory, experiment, and applications. International Workshop for New Opportunities in Hard X-ray PS. 2009
  23. 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. 傾斜ホルダーを利用した極低角度イオン入射オージェ深さ方向分析. 第70回分析化学討論会. 2009
  24. 田沼 繁夫. Electron Transport Simulatorの開発. NIMSナノ計測センター&表面分析研究会合同シンポジウム. 2009
  25. 金 華, 吉川 英樹, 岩井 秀夫, 篠塚 寛志, 田沼 繁夫. Analysis of loss components for reflection electron energy loss spectra of Si. SASJ-ANCC/NIMS Joint Symposium. 2009
2008
  1. 田沼 繁夫. SiおよびSiO2表面における電子の非弾性散乱過程. 計測フロンティア研究部門 第15回公開セミナー. 2008
  2. TANUMA, Shigeo. Inelastic Mean Free Paths and Relative Sensitivity Factors for Quantitative Surface Analysis by electron spectroscopies. Current Status and Developent of Surface Characterization in Nan. 2008
  3. 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. 傾斜ホルダーを利用したオージェ電子分光法による角度分解計測および低角度イオン入射深さ方向分析の検討. 第28回表面科学学術講演会. 2008
  4. 福島 整, 荻原 俊弥, 木村 隆, 田沼 繁夫. Li Kαへの化学状態の影響. 第28回表面科学学術講演会. 2008
  5. JIN, Hua, IWAI, Hideo, YOSHIKAWA, Hideki, TANUMA, Shigeo. Analysis of angular and energy dependences of reflection energy loss spectra on several semiconductors. 5th International Symposium on Surface Science and Nanotechnolog. 2008
  6. SHINOTSUKA, Hiroshi, ARAI, Masao, YOSHIKAWA, Hideki, TANUMA, Shigeo. Theoretical calculation of optical constants for several elemental solids. The 5th International Symposium on Surface Science and Nanotechn. 2008
  7. TANUMA, Shigeo. Electron scattering in surface electron spectroscopy. The 5th International Symposium on Surface Science and Nanotechn. 2008
  8. 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. 傾斜ホルダーを用いた高分解能オージェ深さ方向分析. 実用表面分析シンポジウム PSA-08. 2008
  9. 吉川 英樹, 田中 博美, 木村昌弘, 荻原 俊弥, 木村 隆, 福島 整, 岡本 直樹, 熊谷 和博, 田沼 繁夫, 鈴木峰晴, 奥井眞人, 小林 啓介. Ⅹ線光電子スペクトルにおける非対称パラメーターと表面励起効果の定量評価. Symposium on Practical Surface Analysis 2008. 2008
  10. 岩井 秀夫, 小畠 雅明, 山瑞拡路, 田中彰博, 鈴木峰晴, 池永英司, 松田博之, 大門寛, 田沼 繁夫, 小林 啓介. 硬X線光電子分光のための単色化Cr Ka集束X線源の開発. 2008年度 実用表面分析講演会. 2008
  11. 金 華, 岩井 秀夫, 吉川 英樹, 田沼 繁夫. Analysis of principal components for angular and energy dependences for reflection electron energy loss spectra of Si. 2008年度 実用表面分析講演会. 2008
  12. 福島 整, 荻原 俊弥, 木村 隆, 田沼 繁夫. クラスター計算によるLi Kαへの化学状態の影響の検討. Symposium on Practical Surface Analysis 2008. 2008
  13. 篠塚 寛志, 田沼 繁夫, 荒井礼子, 藤川高志. Quantum mechanical depth distribution function calculated by multiple scattering theory. 2008年度 実用表面分析講演会. 2008
  14. 田沼 繁夫. 電子分光入門.IMFPを測る. 2008年度 実用表面分析講演会 . 2008
  15. SHINOTSUKA, Hiroshi, Arai Hiroko, Fujikawa Takashi, TANUMA, Shigeo. QUANTUM MECHANICAL DEPTH DISTRIBUTION FUNCTION CALCULATED BY MULTIPLE SCATTERING THEORY. 55th IUVSTA Workshop on Electron Transport Parameters Applied.... 2008
  16. TANUMA, Shigeo, KUMAGAI, Kazuhiro, C.J. Powell. ANALYSIS OF ENERGY DEPEDENCE OF ELECTRON STOPPING POWERS IN ELEMENTAL SOLIDS OVER . 55th IUVSTA Workshop on Electron Transport Parameters Applied in. 2008
  17. 田沼 繁夫. ISO TC201(表面化学分析)国際標準化の現状と展望. 2008 表面化学分析国際標準化セミナー. 2008
  18. FUKUSHIMA, Sei, OGIWARA, Toshiya, KIMURA, Takashi, Kazunori Tsukamoto, Yoyohiko Tazawa, TANUMA, Shigeo. The intensity changes of ultra-soft X-ray spectra of several light element oxides. Microscopy & Microanalysis 2008 Meeting. 2008
  19. OGIWARA, Toshiya, TANUMA, Shigeo. Quantitative Evaluation of Auger Depth Profiles by LOGIT.. Microscopy and Microanalysis 2008. 2008
  20. 田沼 繁夫. バックグラウンドプロジェクト:経過報告. 第32回表面分析研究会. 2008
  21. 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. 角度分解計測を利用した高精度オージェ深さ方向分析. 第69回分析化学討論会. 2008
  22. YOSHIKAWA, Hideki, TANAKA, Hiromi, Masahiro Kimura, OGIWARA, Toshiya, KIMURA, Takashi, FUKUSHIMA, Sei, OKAMOTO, Naoki, KUMAGAI, Kazuhiro, TANUMA, Shigeo, Mineharu Suzuki, OKUI, Masato, KOBAYASHI, Keisuke. Asymmetry parameter and depth distribution function derived by angle-resolved and energy-resolved XPS analysis at SPring-8. Maxp-Plank institute and NIMS workshop. 2008
  23. 東 義隆, 福島 整, 田沼 繁夫. 光電子スペクトルの時間空間におけるコンボリューション処理の検討. 第31回表面分析研究会. 2008
  24. 田沼 繁夫. バックグラウンドプロジェクト:絶対オージェスペクトルの解析. 第31回表面分析研究会. 2008
  25. 佐藤 秀勝, 岩井 秀夫, 福島 整, 木村 隆, 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. 電子線照射によるSiO2薄膜損傷の入射角依存性試験. 第31回表面分析研究会. 2008
  26. 田沼 繁夫. ISO/TC201表面化学分析およびTC202マイクロビーム分析の国際標準化の現状と展望. ナノテクノロジー国際標準化ワークショップ. 2008
2007
  1. 田沼 繁夫. X線分析と研究開発. 第27回湘南ハイテクセミナー「研究開発と分析技術」. 2007
  2. KIMURA, Takashi, AOYAGI, Takeshi, SUGISAKI Takashi, TANUMA, Shigeo. The analysis of joining boundary between Ni-P electroless plate . PSA-07. 2007
  3. YOSHIKAWA, Hideki, OKAMOTO, Naoki, FUKUSHIMA, Sei, TANUMA, Shigeo. Emission depth distribution function derived from electron simulator based on Monte Carlo method including multi pole effect. International Symposium on Practical Surface Analysis (PSA-07). 2007
  4. OGIWARA, Toshiya, TANUMA, Shigeo. Analysis of Auger Depth Profiles Using a Logistic Function Profile Fit.. 4th International Symposium on Practical Surface Analysis 2007. 2007
  5. FUKUSHIMA, Sei, KIMURA, Takashi, OGIWARA, Toshiya, Kazunoru Tsukamoto, Toyohiko Tazawa, TANUMA, Shigeo. New-Model Electron Probe Ultra-Soft X-ray Microanalyzer. PSA-07. 2007
  6. TANUMA, Shigeo. Calculations of electron inelastic mean free paths in solids. 4th international symposium on practical surface analysis. 2007
  7. IWAI, Hideo, SUZUKIMineraru, TANUMA, Shigeo. Monochromatic Al Kα X-ray Flux Measurement for XPS. 4th International Symposium on Pracatical Surface Analysis. 2007
  8. ISOZAKI, Yuko, OGIWARA, Toshiya, KIMURA, Takashi, TANUMA, Shigeo. Observation of Fine Structure of Nanoparticles . PSA-07. 2007
  9. SATO, Hidekatsu, FUKUSHIMA, Sei, KIMURA, Takashi, TANUMA, Shigeo. Incident angle dependence of electron beam damage of SiO2/Si in Auger Microprobe Analysis. 実用表面分析国際シンポジウムPSA-07. 2007
  10. AZUMA, Yoshitaka, FUKUSHIMA, Sei, TANUMA, Shigeo. THE STUDY OF CONVOLUTION PROCESS ON TIME DOMAIN FOR RESOLUTION ENHANCEMENT TECHNIQUE. PSA-07. 2007
  11. 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫, 田澤豊彦, 塚本一徳. 電子線励起超軟X線分光分析装置の開発. 第27回表面科学講演大会. 2007
  12. 佐藤 秀勝, 福島 整, 木村 隆, 田沼 繁夫. 電子線照射によるSiO2薄膜損傷の入射角依存性. 第27回表面科学講演大会. 2007
  13. TANUMA, Shigeo, KUMAGAI, Kazuhiro, C.J. Powell. Energy dependence of electron stopping powers in elemental solids over the 50 - 30,000 eV energy range. ALC'07. 2007
  14. 吉川 英樹, 荻原 俊弥, 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫. 角度分解光電子分光における光電子生成時の多極子成分の評価. NIMSナノ計測センター研究成果発表会. 2007
  15. 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫, 荻原 俊弥. フィールドエミッション電子銃波長分散型EPMAによる鉛フリーはんだ接合境界の微視的評価. 平成19年度 NIMSナノ計測センター研究成果発表会. 2007
  16. 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫, 荻原 俊弥. 電子線励起超軟X線分光装置による状態分析の可能性. 平成19年度 NIMSナノ計測センター研究成果発表会. 2007
  17. 木村 隆, 西田憲二, 田沼 繁夫, 山田浩之. フィールド・エミッション電子銃を搭載した波長分散型サブミクロンEPMAの開発. 日本金属学会2007年秋季大会. 2007
  18. 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. LOGIT関数を用いたオージェデプスプロファイルの解析. 日本分析化学会第56年会. 2007
  19. SATO, Hidekatsu, FUKUSHIMA, Sei, TANUMA, Shigeo. EVALUATION OF ELECTRON BEAM DAMAGE OF SIO2/SI IN AUGER MICROPROBE ANALYSIS : RESULTS OF A ROUND ROBIN TEST. ECASIA '07. 2007
  20. KUMAGAI, Kazuhiro, TANUMA, Shigeo, C. J. Powell. ENERGY DEPENDENCE OF ELECTRON STOPPING POWERS OVER THE 50 - 30,000 EV ENERGY RANGE . ECASIA '07. 2007
  21. TANUMA, Shigeo, YOSHIKAWA, Hideki, OKAMOTO, Naoki, Keisuke GOTO. DETERMINATION OF ELECTRON INELASTIC MEAN FREE PATHS IN ELEMENTAL SOLIDS IN THE 100 TO 5000 EV BY ABSOLUTE ELASTIC-PEAK ELECTRON SPECTROSCOPY. ECASIA '07. 2007
  22. A. Jabloski, TANUMA, Shigeo, C.J. Powell. MODIFIED PREDICTIVE FORMULA FOR THE ELECTRON STOPPING POWER. ECASIA '07. 2007
  23. AZUMA, Yoshitaka, FUKUSHIMA, Sei, TANUMA, Shigeo, Satoshi, OTA, OHASHI, Hirofumi, Tatsnori Tochio, Yoshiaki Ito. THE TRIAL STUDY OF REMOVAL TECHNIQUES OF THE EXCITATION SOURCE PROFILE FROM HIGH-ENERGY EXCITATION XPS SPECTRUM . ECASIA '07. 2007
  24. TANUMA, Shigeo, C. J. Powell, D. R. Penn. CALCULATIONS OF ELECTRON STOPPING POWERS FOR ELEMENTAL SOLIDS AND COMPOUNDS. ECASIA '07. 2007
  25. YOSHIKAWA, Hideki, TANAKA, Hiromi, Masahiro Kimura, OGIWARA, Toshiya, KIMURA, Takashi, FUKUSHIMA, Sei, OKAMOTO, Naoki, TANUMA, Shigeo, Mineharu Suzuki, KOBAYASHI, Keisuke. Multipole effect of asymmetry parameter derived by angle-resolved XPS analysis using high energy SR. ECASIA2007. 2007
  26. 田沼 繁夫. 電子分光法(XPS、AES)の国際標準化. 表面分析・微小領域分析における国際標準化の動向. 2007
  27. 田沼 繁夫. VAMAS TWA2 表面化学分析 の活動概要. VAMAS TWA-2(表面化学分析)公開討論会. 2007
  28. FUKUSHIMA, Sei, OGIWARA, Toshiya, KIMURA, Takashi, Kazunori Tsukamoto, Toyohiko Tazawa, TANUMA, Shigeo. Theoretical Study about Si LII,III Spectra with The Cluster Calculation. Microscopy & Microanalysis 2007 Meeting. 2007
  29. 田沼 繁夫. AES, XPSにおける感度係数法による定量。定量性を高めるために. ISO規格を基礎とした表面分析の実際. 2007
  30. Masahiro KIMURA, TANUMA, Shigeo, FUKUSHIMA, Sei. New Method for the Evaluation of the Distribution of Surface Incline. IVC-17/ICSS-13 and ICN+T2007. 2007
  31. KIMURA, Takashi, AOYAGI, Takeshi, TANUMA, Shigeo. The analysis of joining boundary between Ni-P electroless plate and lead-free Solder by wavelength-dispersive EPMA equipped with a FE electron gun.. 17th International Vacuum Congress. 2007
  32. OGIWARA, Toshiya, TANUMA, Shigeo. Analysis of Auger Depth Profiles by LOGIT. 17th International Vacuum Congress (IVC-17). 2007
  33. 熊谷 和博, 田沼 繁夫. 固体元素中における50 - 30,000eVのエネルギー範囲における電子阻のエネルギー依存性. 第30回表面分析研究会. 2007
  34. TANUMA, Shigeo, KUMAGAI, Kazuhiro, C.J. Powell. A proposed formula for electron stopping powers over the 50 - 30,000 eV energy range. 29th Annual Symposium on Applied Surface Analysis. 2007
  35. KUMAGAI, Kazuhiro, TANUMA, Shigeo, C,J, Powell. A proposed formula for electron stopping powers over the 50 - 30,000 eV energy range.. 29th Annual Symposium on Applied Surface Analysis. 2007
  36. FUKUSHIMA, Sei, KIMURA, Takashi, Kazunori Tsukamoto, Toyohiko Tazawa, TANUMA, Shigeo. NEW-MODEL ULTRA-SOFT X-RAY SPECTROMETER FOR ELECTRON PROBE MICROANALYSIS . 10th European Workshop of European Microbeam Analysis Society. 2007
  37. KIMURA, Takashi, AOYAGI, Takeshi, SAKURAYA, Kazuyuki, TANUMA, Shigeo. The analysis of the segregation at the grain boundary of stainless steel SUS-316L with FE-WDS-EPMA. Europian Microbeam Analysis S2007 . 2007
  38. SATO, Hidekatsu, FUKUSHIMA, Sei, KIMURA, Takashi, TANUMA, Shigeo. EVALUATION OF ELECTRONE BEAM DAMAGE OF SiO2/Si IN AUGER MICROPROBE ANALYSIS . 10th European Workshop of European Microbeam Analysis Society. 2007
  39. 木村 隆, 田沼 繁夫, 福島 整, 荻原 俊弥, 中村拓, 永富隆清, 高井義造. SiO2の電子線照射損傷への表面炭素汚染の影響. 第54回応用物理学関係連合講演会. 2007
  40. 木村 隆, 荻原 俊弥, 福島 整, 田沼 繁夫. 超軟X線分光器によるAl-Li化合物の状態分析. 日本金属学会2007年春期大会. 2007
  41. 荻原 俊弥, 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫, 塚本一徳, 田澤豊彦. 電子線励起超軟X線分光分析装置によるLiの特性X線を用いた材料解析技術. FC EXPO 2007. 2007
  42. 及川英俊, 増原陽人, 吉川 英樹, 田沼 繁夫. 有機―金属複合ナノ結晶の構造解析とその光学特性. 「 連 携 ラ ボ 」 第1回公開シンポジウム. 2007
2006
  1. TANUMA, Shigeo, C.J. Powell, D.R.Penn. Calculations of electron inelastic mean free paths in 21 inorganic and 12 organic compounds over the 50 - 30,000 eV energy range. AVS 53rd International Symposium & EXPO. 2006
  2. 荻原 俊弥, 木村 隆, 田沼 繁夫, 福島 整. 電子線励起超軟X線分光装置を用いた 各種材料のX線スペクトル形状の観察. 第26回表面科学講演大会. 2006
  3. 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫. 電子線励起超軟X線分光分析装置の開発. ナノ計測セミナー. 2006
  4. 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫. フィールドエミッション電子銃-波長分散型(FE-WDS-EPMA)による広領域のサブミクロン微細組織の評価. ナノ計測セミナー. 2006
  5. 田沼 繁夫. Calculations of electron inelastic mean free paths in 21 inorganic and 12 organic compounds over the 50 - 30,000 eV energy range. 2006年度実用表面分析講演会 PSA-06. 2006
  6. 熊谷 和博, 田沼 繁夫. 電子阻止能におけるエネルギー依存性の検討. 実用表面分析講演会. 2006
  7. 荻原 俊弥, 木村 隆, 田沼 繁夫, 福島 整. 電子線励起超軟X線分光装置による軽元素および実用材料の分析. 2006年度実用表面分析講演会Practical Surface Analysis 2006. 2006
  8. TANUMA, Shigeo, AZUMA, Yoshitaka, YOSHIKAWA, Hideki, KIMURA, Takashi, K. Goto. DETERMINATION OF ELECTRON INELASTIC MEAN FREE PATHS IN ELEMENTAL SOLIDS IN THE 200 TO 5000 EV ENERGY RANGE . 11th Joint Vacuum Conference. 2006
  9. 荻原 俊弥, 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫. 電子線励起超軟X線分光装置を用いた X線スペクトル形状の観察2. 日本分析化学会第55年会. 2006
  10. YOSHIKAWA, Hideki, Hidetoshi Oikawa, Mihai A. Vlaicu, Masahiro Kimura, TANUMA, Shigeo, Akito Masuhara, Hitoshi Kasai, Hachiro Nakanishi. High energy XPS analysis of Ag-diacetylene hybrid nano-particles related to plasmon damping. International Workshop on Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy. 2006
  11. 木村 隆, 荻原 俊弥, 福島 整, 田沼 繁夫. 超軟X線分光器によるAl-L特性線を用いた状態分析. 日本金属学会2006年秋季大会. 2006
  12. TANUMA, Shigeo, C.J. Powell, D.R. Penn. Calculations of electron inelastic mean free paths in inorganic and organic compounds over the 50 - 30,000 eV energy range. Modeling and Data for Electron Spectroscopies : Standardization . 2006
  13. YOSHIKAWA, Hideki, TANAKA, Hiromi, Masahiro Kimura, OGIWARA, Toshiya, KIMURA, Takashi, FUKUSHIMA, Sei, TANUMA, Shigeo, Mineharu Suzuki. Angle-resolved and Xray-energy-variable XPS analysis of 1s photoelectrons excited by high energy SR. Workshop of Modeling and Data for Electron Spectroscopies. 2006
  14. 田沼 繁夫. 電子分光法(XPS、AES)の国際標準化. 表面分析国際標準化セミナー 表面分析・微少領域分析における国差標. 2006
  15. 田沼 繁夫. TWA2 表面分析化学 2005年度のプロジェクトの概要と進捗. VAMAS国際標準化の最近の話題 ー計測技術. 2006
  16. FUKUSHIMA, Sei, OGIWARA, Toshiya, KIMURA, Takashi, Kazunori Tsukamoto, Toyohikoi Tazawa, TANUMA, Shigeo. Development of Ultra-Soft X-ray Spectrometer for Electron Probe Microanalysis . Microscopy & Microanalysis 2006. 2006
  17. OGIWARA, Toshiya, KIMURA, Takashi, FUKUSHIMA, Sei, TANUMA, Shigeo. Electron Probe Microanalysis of Li Kα with Newly Developed Ultra-Soft X-ray Spectrometer.. Microscopy and Microanalysis 2006. 2006
  18. KIMURA, Takashi, OGIWARA, Toshiya, FUKUSHIMA, Sei, TANUMA, Shigeo. The application of micro are analysis of Al-Cu junction by wavelength-dipersive EPMA equipped with a FE electron gun.. Microscopy and Microanalysis 2006. 2006
  19. 田沼 繁夫. AES, XPSにおける感度係数法による定量 -定量性を高めるために-. 実用表面分析セミナー. 2006
  20. 田沼 繁夫. XPSによる薄膜試料測定の標準化に関する調査. 第28回表面分析研究会. 2006
  21. 木村 隆, 荻原 俊弥, 福島 整, 田沼 繁夫. 超軟X線分光による化学状態分析の可能性. 第28回表面分析研究会. 2006
  22. 福島 整, 荻原 俊弥, 木村 隆, 田沼 繁夫, 塚本一徳, 田澤豊彦. 電子線励起超軟X線分光分析装置による超軟X線スペクトルの観察. 第28回表面分析研究会. 2006
  23. 荻原 俊弥, 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫. 電子線励起超軟X線分光装置を用いたX線スペクトル形状の観察. 日本分析化学会第67回分析化学討論会. 2006
  24. 田沼 繁夫, A.Jablsinksi, CJ Powell. 広エネルギー範囲における電子阻止能の一般式の提案. 日本分析化学会第67回 分析化学討論会. 2006
  25. A. Jablonski, TANUMA, Shigeo, CJ Powell. A predictive formula for the electron stopping power. SCANNING 2006. 2006
  26. TANUMA, Shigeo, C.J. Powell, DR. Penn. Calculations of electron stopping powers for elemental solids and compounds. SCANNING 2006. 2006
  27. 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫, 田澤豊彦, 塚本一徳. 超軟X線分光器によるLi-K特性線の検出. 日本金属学会2006年春季大会. 2006
  28. TANUMA, Shigeo, C.J. Powell, D.R. Penn. Calculations of electron inelastic mean free paths in organic compounds and elemental solids over the 50 - 30,000 eV energy range. International Symposium on Frontiers in Organic Photonics. 2006
  29. 田沼 繁夫. 絶対オージェスペクトルから何が見えるか?. 第27回表面分析研究会. 2006
  30. 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫, 田澤豊彦, 塚本一徳. グレーティング素子を応用した超軟X線分光分析装置の開発. マイクロビームアナリシス第141委員会第123回講演会. 2006
2005
  1. 田沼 繁夫. 研究開発とX線分析. 第23回湘南ハイテクセミナー. 2005
  2. 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫, 塚本一徳, 田澤豊彦. 電子線励起超軟X線分光分析装置の開発. 第25回表面科学講演大会. 2005
  3. TANUMA, Shigeo, C.J. Powell, D.R. Penn. Calculations of electron inelastic mean free paths in elemental solids and organic compounds over the 50 - 30,000 eV energy rang. International Symposium on Surface Science and Nanotechnology . 2005
  4. 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫, 塚本一徳, 田澤豊彦. ポリキャピラリーとグレーティング素子を用いた超軟X線分光器の開発. 2005年実用分析講演会. 2005
  5. 福島 整, 堀田 卓秀, 木村 隆, 田沼 繁夫, 鈴木昇. Siウェハーの初期酸化に関する観察. 2005年度 実用表面分析講演会. 2005
  6. 鈴木峰晴, 田沼 繁夫, 木村 隆. XPSスペクトルの自動検出方法の検討. 2005年度実用表面分析講演会. 2005
  7. A. Jablonski, TANUMA, Shigeo, C.J. Powell. New Universal Expressions for the Stopping Power over a Wide Energy Range. 11th European Conference on Applications of Surface and Interfac. 2005
  8. TANUMA, Shigeo, C.J. Powell, D.R. Penn. Calculations of electron inelastic mean free paths in 41 elemental solids over the 50 - 30,000 eV energy range. 11th European Conference on Applications of Surface and Interfac. 2005
  9. M. Arai, TANUMA, Shigeo, KIMURA, Takashi. Electron irradiation damage on aluminum oxide formed on galvanized steel sheet and its quantitative evaluation with low energy A. 11th European Conference on Applications of Surface and Interfac. 2005
  10. 木村 隆, 櫻谷 和之, 青柳 岳史, 田沼 繁夫. FE-EPMAによるSUS316Lの結晶粒界評価. 日本金属学会2005年度秋季大会. 2005
  11. M. Suzuki, TANUMA, Shigeo, KIMURA, Takashi, KIMURA, Masahiro, VLAICU, AurelMihai, A. Tanaka, YOSHIKAWA, Hideki, FUKUSHIMA, Sei. Inner shell photoemission spectra measured using high-energy photons from. 11th European Conference on Applications of Surface and Interfac. 2005
  12. TANUMA, Shigeo, C.J. Powell, D.R. Penn. Calculations of stopping powers of 100 eV to 30 keV electrons in ten elemental solids. 11th European Conference on Applications of Surface and Interfac. 2005
  13. 田沼 繁夫. 電子分光法(XPS、AES)の国際標準化. 表面化学分析国際標準化セミナー. 2005
  14. 小島勇夫, 田沼 繁夫. イオン銃調整の最適化. JAIMAコンファレンス. 2005
  15. 鈴木峰晴, 福島 整, 田沼 繁夫. XPSピーク自動検出法の評価. JAIMAコンファレンス. 2005
  16. 田沼 繁夫. VAMAS TWA2表面化学分析 活動の経緯. JAIMAコンファレンス. 2005
  17. 田沼 繁夫. 10種類の元素固体中の100eV ー30keV範囲における電子阻止能の計算. 表面分析研究会 第26回研究会. 2005
  18. OIKAWA, Hidetoshi, VLAICU, AurelMihai, KIMURA, Masahiro, YOSHIKAWA, Hideki, TANUMA, Shigeo, 増原陽人, 笠井均, 中西八郎. Optoelectronic Interfacial Interaction in Metal-Polydiacetylene Hybridized Nanocrystals:2. 8th International Conference on Organic Nonlinear Optics (ICONO'. 2005
  19. 田沼 繁夫. VAMASとISO-SASJとの関係について. 第25回表面分析研究会 ーVAMAS, ISOから標準化へ 今後の展望 ー. 2005
  20. 田沼 繁夫. AES(オージェ電子分光法)関連国際標準化. ISO TC201, TC201に係わる標準化の動向 - ナノテクノロジーに向けた. 2005
  21. 吉川 英樹, 及川 英俊, VLAICU AurelMihai, 木村昌弘, 福島 整, 田沼 繁夫, 増原陽人, 笠井均, 中西八郎. 高エネルギーXPSを用いた銀-ポリジアセチレンハイブリッドナノ結晶の電子構造解析. 第18回日本放射光学会. 2005
2004
  1. TANUMA, Shigeo, KIMURA, Takashi, 橋本哲, 井上雅彦, 鈴木峰晴. Round robin study of evaluation of electron beam damage of SiO2/Si in Auger microprobe analysis. AVS 51st International Symposium. 2004
  2. TANUMA, Shigeo. Experimental Determination of Electron Inelastic Mean Free Paths in Fourteen Elemental Solids in the 50 eV to 5,000 eV Energy Ra. Workshop on Modeling Electron Transport for Applications in Elec. 2004
  3. 荒井正浩, 浜中真人, 速水弘子, 木村 隆, 西田 憲二, 田沼 繁夫. 溶融亜鉛メッキ被膜表面に生成した薄膜アルミニウム酸化層の電子線照射損傷挙動とその定量評価. 第24回表面科学講演大会. 2004
  4. TANUMA, Shigeo, C. J. Powell, D.R. Penn. Calculations of Inelastic Mean Free Paths and Stopping Powers of 50 eV to 30 keV Electrons in Solids. Workshop on Modeling Electron Transport for Applications in Elec. 2004
  5. 鈴木峰晴, TANUMA, Shigeo, YOSHIKAWA, Hideki, FUKUSHIMA, Sei. Observation of a Large Surface Excitation Effect from Silicon and Silicon Dioxide with X-ray Photoelectron Spectroscopy using Sy. Workshop on Modeling Electron Transport for Applications in Elec. 2004
  6. 木村 隆, 西田 憲二, 田沼 繁夫, 山田浩之. FE電子銃搭載した波長分散型EPMA(FE-EPMA)によるサブミクロン分析. 第40回X線分析討論会. 2004
  7. 及川 英俊, VLAICU AUREL MIHAI, 木村 昌弘, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, 増原陽人, 笠井均, 中西八郎. 銀ーポリジアセチレンハイブリッドナノ結晶の界面電子構造と光学特性. JST CREST 第5回「分子複合系の構築と機能」公開シンポジウム. 2004
  8. NISHIDA, KENJI, KIMURA, Takashi, FUKUSHIMA, Sei, TANUMA, Shigeo. Application of ZAF correction to the low energy electron probe microanalysis. 3rd International Symposium on Practical Surface Analysis (PSA-0. 2004
  9. TANUMA, Shigeo, KIMURA, Takashi, TSUKAMOTO, YOSHIKO, 伊藤沙希. A Round Robin Study of Quantitative Evaluation of Electron Beam Damage on SiO2 Specimen in AES analysis. 3rd International Symposium on Practical Surface Analysis, PSA-0. 2004
  10. AWANE, Toru, KIMURA, Takashi, NISHIDA, KENJI, AOYAGI, Takeshi, TANUMA, Shigeo. Removal of X-ray Absorbers on an Etched Surface of Metallic Materials with Focused Ion Beam for Grazing Exit Electron Probe Micr. 3rd International Symposium on Practical Surface Analysis, PSA-0. 2004
  11. KIMURA, Takashi, NISHIDA, KENJI, TANUMA, Shigeo. Optimum condition for minute region analysis in FE-EPMA. 3rd International Symposium on Practical Surface Analysis (PSA-0. 2004
  12. KIMURA, Takashi, NISHIDA, KENJI, TANUMA, Shigeo. Development of a Submicron Analysis Wavelength Dispersive (WDS) EPMA with a Thermal Field Emission (FE) type Electron Gun. 3rd International Symposium on Practical Surface Analysis (PSA-0. 2004
  13. 粟根 徹, 木村 隆, 西田 憲二, 青柳 岳史, 田沼 繁夫. 斜出射EPMA法に於ける分析X線の吸収体のFIB法による除去. 2004年日本金属学会秋期講演大会. 2004
  14. 西田 憲二, 佐藤 敦史, 川岸 京子, 木村 隆, 田沼 繁夫, 原田 広史. Ni基超合金中に微量添加されたYのEPMA分析. 日本金属学会2004年秋期大会. 2004
  15. 木村 隆, 西田 憲二, 田沼 繁夫. FE-EPMAによるX線発生領域と分析条件の関係. 日本金属学会2004年秋季大会. 2004
  16. 田沼 繁夫. XPSおよびAESによる定量化. 表面分析国際標準化セミナー 表面分析・微小領域分析における国際標. 2004
  17. 田沼 繁夫. TWA2 表面化学分析. VAMASセミナー 先進材料の特性評価と国際標準化戦略. 2004
  18. TANUMA, Shigeo, 白鳥翼, 後藤敬典, 一村信吾, C.J. Powell, D.R. Penn. Calculations and measurements of IMFPs in 13 elements in the 50 - 5000 eV energy range. IUVSTA Workshop on Electron Scattering in Solids: From Fundament. 2004
  19. 橋本哲, 田中千津子, 田沼 繁夫. XPSの定量分析における表面電子励起. 第24回表面分析研究会. 2004
  20. OIKAWA, Hidetoshi, 増原陽人, TANUMA, Shigeo, 笠井均, 中西八郎. Optoelectronic Interfacial Interaction in Metal-Polydiacetylene Hybridized Nanocrystals. International Symposium on Polymer Physics, PP2004. 2004
  21. 田沼 繁夫, 白鳥翼, 木村 隆, 一村信吾, 後藤敬典. 弾性散乱分光によるNi標準試料を用いたMo, Fe, Ga, Pt, Wの100 - 5000eV におけるIMFPの決定. 第65回分析化学討論会. 2004
  22. 西田 憲二, 木村 隆, 苅谷 義治, 田沼 繁夫, 寺嶋晋一, 田中將元. Sn-Ag鉛フリーはんだとNi-Pメッキ接合界面におよぼすAg濃度の影響. 日本金属学会2004年春期講演大会. 2004
  23. 田沼 繁夫. AES、XPSによる定量分析の国際標準化. 第51回応用物理学関係連合講演会シンポジウム. 2004
  24. 及川 英俊, 田沼 繁夫. XPS法によるハイブリッドナノ結晶の界面構造解析. JST、CREST 「有機ナノ結晶の作製・物性評価と多元ナノ構造への展開. 2004
  25. 田沼 繁夫. 表面電子励起効果に関する研究の現状. 第23回表面分析研究会. 2004
  26. 田沼 繁夫. XPSおよびAESによる表面定量分析法. 実用表面分析セミナー VAMAS,ISOを基礎とした表面分析の実際. 2004

特許 TSV

登録特許
  1. 特許第5711552号 エネルギー分析器の軸合わせ法および装置 (2015)
公開特許
    外国特許

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