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田沼 繁夫

田沼 繁夫 (TANUMA, Shigeo) 0000-0003-2628-9941

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2023
  1. Bo Da, Long Cheng, Xun Liu, Kunji Shigeto, Kazuhito Tsukagoshi, Toshihide Nabatame, Zejun Ding, Yang Sun, Jin Hu, Jiangwei Liu, Daiming Tang, Han Zhang, Zhaoshun Gao, Hongxuan Guo, Hideki Yoshikawa, Shigeo Tanuma. Cylindrically symmetric rotating crystals observed in crystallization process of InSiO film. Science and Technology of Advanced Materials: Methods. 3 [1] (2023) 10.1080/27660400.2023.2230870
  2. Shigeo Tanuma. Electron Inelastic Scattering in Surface Analysis. e-Journal of Surface Science and Nanotechnology. 21 [2] (2023) 2023-038 10.1380/ejssnt.2023-038
  3. J. M. Gong, M. S. S. Khan, B. Da, H. Yoshikawa, S. Tanuma, Z. J. Ding. A theoretical characterization method for non-spherical core–shell nanoparticles by XPS. Physical Chemistry Chemical Physics. 25 [31] (2023) 20917-20932 10.1039/d3cp01413d
  4. 田沼 繁夫. 表面電子分光法における信号の減衰は如何に記述されるか？ V.　誘電関数を用いた固体における電子の非弾性散乱断面積. Journal of Surface Analysis. 30 [1] (2023) 2-14 10.1384/jsa.30.2
  5. Aleksander Jablonski, Shigeo Tanuma, Cedric J. Powell. Calculations of electron inelastic mean free paths (IMFPs). XIV. Calculated IMFPs for LiF and Si3N4 and development of an improved predictive IMFP formula. Surface and Interface Analysis. 55 [8] (2023) 609-637 10.1002/sia.7217
  6. J.M. Gong, K. Tőkési, X. Liu, B. Da, H. Yoshikawa, S. Tanuma, Z.J. Ding. Determination of electron inelastic mean free path and stopping power of hafnium dioxide. Results in Physics. 51 (2023) 106609 10.1016/j.rinp.2023.106609
  7. Xun Liu, Dabao Lu, Zhufeng Hou, Kenji Nagata, Bo Da, Hideki Yoshikawa, Shigeo Tanuma, Yang Sun, Zejun Ding. Establishment and validation of an electron inelastic mean free path database for narrow bandgap inorganic compounds with a machine learning approach. Physical Chemistry Chemical Physics. 25 [27] (2023) 17923-17942 10.1039/d2cp04393a
  8. 田沼 繁夫. 表面分析における電子の非弾性散乱. 表面と真空. 66 [5] (2023) 292-298 10.1380/vss.66.292
2022
  1. 田沼 繁夫. 表面電子分光法における信号の減衰は如何に記述されるか？ IV.　単位系,平均自由行程, 一般化振動子強度. Journal of Surface Analysis. 29 [2] (2022) 72-81 10.1384/jsa.29.72
  2. B. Da, X. Liu, J.M. Gong, Z.H. Zhang, Z.J. Ding, N.T. Cuong, J. Hu, J.W. Liu, Z.S. Gao, H.X. Guo, H.X. Wang, H. Zhang, Y. Harada, H. Yoshikawa, S. Tanuma. Emitted secondary Electrons: In vacuo plasmon energy gain observation using a Three-Point probe method. Applied Surface Science. 596 (2022) 153616 10.1016/j.apsusc.2022.153616
  3. B. Da, X. Liu, L. H. Yang, J. M. Gong, Z. J. Ding, H. Shinotsuka, J. W. Liu, H. Yoshikawa, S. Tanuma. Evaluation of dielectric function models for calculation of electron inelastic mean free path. Journal of Applied Physics. 131 [17] (2022) 10.1063/5.0085984
  4. Kimihiko Ito, Yoshitomo Harada, Hideki Yoshikawa, Shigeo Tanuma. Chemical identification of lithium compounds by reflection electron energy loss spectroscopy. Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena. 257 (2022) 147206 10.1016/j.elspec.2022.147206
  5. Hiroshi Shinotsuka, Shigeo Tanuma, Cedric J. Powell. Calculations of electron inelastic mean free paths. XIII. Data for 14 organic compounds and water over the 50 eV to 200 keV range with the relativistic full Penn algorithm. Surface and Interface Analysis. 54 [5] (2022) 534-560 10.1002/sia.7064
  6. 田沼 繁夫. 電子分光法における表面感度と検出深さ. 表面と真空. 65 [3] (2022) 102-108 10.1380/vss.65.102
2021
  1. Hiroshi Shinotsuka, Hideki Yoshikawa, Shigeo Tanuma. First-principles Calculations of Optical Energy Loss Functions for 30 Compound and 5 Elemental Semiconductors. e-Journal of Surface Science and Nanotechnology. 19 [0] (2021) 70-87 10.1380/ejssnt.2021.70
  2. 原田 善之. “Word”で数式をきれいに記述するには. Journal of Surface Analysis. (2021) 111-116 10.1384/jsa.27.111
  3. Dabao Lu, Keisuke Goto, Bo Da, Jiangwei Liu, Hideki Yoshikawa, Shigeo Tanuma, Z.J. Ding. Secondary electron-, Auger electron- and reflected electron-spectroscopy study on sp2-hybridization carbon materials: HOPG, carbon glass and carbon fiber. Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena. 250 (2021) 147086 10.1016/j.elspec.2021.147086
  4. Xun Liu, Lihao Yang, Zhufeng Hou, Bo Da, Kenji Nagata, Hideki Yoshikawa, Shigeo Tanuma, Yang Sun, Zejun Ding. Machine learning approach for the prediction of electron inelastic mean free paths. Physical Review Materials. 5 [3] (2021) 033802 10.1103/physrevmaterials.5.033802
  5. L. H. Yang, B. Da, H. Yoshikawa, S. Tanuma, J. Hu, J. W. Liu, D. M. Tang, Z. J. Ding. Low-energy electron inelastic mean free path and elastic mean free path of graphene. Applied Physics Letters. 118 [5] (2021) 053104 10.1063/5.0029133
2020
  1. Hieu T. Nguyen-Truong, Bo Da, Lihao Yang, Zejun Ding, Hideki Yoshikawa, Shigeo Tanuma. Low-energy electron inelastic mean free path for monolayer graphene. Applied Physics Letters. 117 [3] (2020) 033103 10.1063/5.0016284
  2. Bo Da, Yang Sun, Zhufeng Hou, Jiangwei Liu, Nguyen Thanh Cuong, Kazuhito Tsukagoshi, Hideki Yoshikawa, Shigeo Tanuma, Jin Hu, Zhaoshun Gao, Zejun Ding. Measurement of the Low-Energy Electron Inelastic Mean Free Path in Monolayer Graphene. Physical Review Applied. 13 [4] (2020) 044055 10.1103/physrevapplied.13.044055
2019
  1. Xun Liu, Zhufeng Hou, Dabao Lu, Bo Da, Hideki Yoshikawa, Shigeo Tanuma, Yang Sun, Zejun Ding. Unveiling the principle descriptor for predicting the electron inelastic mean free path based on a machine learning framework. Science and Technology of Advanced Materials. 20 [1] (2019) 1090-1102 10.1080/14686996.2019.1689785
  2. Bo Da, Jiangwei Liu, Yoshitomo Harada, Nguyen T. Cuong, Kazuhito Tsukagoshi, Jin Hu, Lihao Yang, Zejun Ding, Hideki Yoshikawa, Shigeo Tanuma. Observation of Plasmon Energy Gain for Emitted Secondary Electron in Vacuo. The Journal of Physical Chemistry Letters. 10 [19] (2019) 5770-5775 10.1021/acs.jpclett.9b02135
  3. Bo Da, Hiroshi Shinotsuka, Hideki Yoshikawa, Shigeo Tanuma. Comparison of the Mermin and Penn models for inelastic mean‐free path calculations for electrons based on a model using optical energy‐loss functions. Surface and Interface Analysis. 51 [6] (2019) 627-640 10.1002/sia.6628
  4. Hiroshi Shinotsuka, Shigeo Tanuma, Cedric J. Powell, Dave R. Penn. Calculations of electron inelastic mean free paths. XII. Data for 42 inorganic compounds over the 50 eV to 200 keV range with the full Penn algorithm. Surface and Interface Analysis. 51 [4] (2019) 427-457 10.1002/sia.6598
2017
  1. 西澤 侑吾, 松本 凌, 田中 博美, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, 吉原 一紘. 初期端点の自動調整機能を付加した active Shirley 法による XPS バックグラウンドの自動推定. JOURNAL OF SURFACE ANALYSIS. [1] (2017) 36-46
  2. Bo Da, Jiangwei Liu, Mahito Yamamoto, Yoshihiro Ueda, Kazuyuki Watanabe, Nguyen Thanh Cuong, Songlin Li, Kazuhito Tsukagoshi, Hideki Yoshikawa, Hideo Iwai, Shigeo Tanuma, Hongxuan Guo, Zhaoshun Gao, Xia Sun, Zejun Ding. Virtual substrate method for nanomaterials characterization. Nature Communications. 8 (2017) 15629 10.1038/ncomms15629
  3. H. Shinotsuka, B. Da, S. Tanuma, H. Yoshikawa, C. J. Powell, D. R. Penn. Calculations of electron inelastic mean free paths. XI. Data for liquid water for energies from 50 eV to 30 keV. Surface and Interface Analysis. 49 [4] (2017) 238-252 10.1002/sia.6123
  4. 西尾 満章, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, 今井 基晴, 磯田 幸宏. 電子線マイクロアナライザーによるMg-Ge合金の定量・Mgkα に対するGeの質量吸収係数の検討ー. JOURNAL OF SURFACE ANALYSIS. 23 [2] (2017) 149-159
2016
  1. 松本 凌, 西澤 侑吾, 片岡 範行, 田中 博美, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, 吉原 一紘. 動的Shirley法によるXPSスペクトルのバックグラウンド自動推定と定量分析. Journal of Surface Analysis. 22 [3] (2016) 155-167 10.1384/jsa.22.155
  2. Ryo Matsumoto, Yugo Nishizawa, Noriyuki Kataoka, Hiromi Tanaka, Hideki Yoshikawa, Shigeo Tanuma, Kazuhiro Yoshihara. Reproducibility of XPS analysis for film thickness of SiO2/Si by active Shirley method. Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena. 207 (2016) 55-59 10.1016/j.elspec.2015.12.008
  3. CJ powell. Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy (HAXPES). Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy (HAXPES). 59 (2016) 111-140 10.1007/978-3-319-24043-5_5
2015
  1. 吉川 英樹, 田沼 繁夫. 電子分光スペクトルの逆問題解法を目指して. 表面科学. 36 [10] (2015) 521-526 10.1380/jsssj.36.521
  2. H. Shinotsuka, S. Tanuma, C. J. Powell, D. R. Penn. Calculations of electron inelastic mean free paths. X. Data for 41 elemental solids over the 50 eV to 200 keV range with the relativistic full Penn algorithm. Surface and Interface Analysis. 47 [9] (2015) 871-888 10.1002/sia.5789
2014
  1. Hideki Yoshikawa, Kazuhiro Yoshihara, Daisuke Watanabe, Hiromi Tanaka, Shigeo Tanuma. Proposal for common data transfer format for simulation softwares used in surface electron spectroscopies. Surface and Interface Analysis. 46 [10-11] (2014) 931-935 10.1002/sia.5390
  2. B. Da, H. Shinotsuka, H. Yoshikawa, Z. J. Ding, S. Tanuma. Extended Mermin Method for Calculating the Electron Inelastic Mean Free Path. Physical Review Letters. 113 [6] (2014) 063201 10.1103/physrevlett.113.063201
2013
  1. 永富隆清, 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. オージェ電子分光法. ぶんせき. 11 (2013) 671-677
  2. S. Tanuma, H. Yoshikawa, H. Shinotsuka, R. Ueda. Calculations of mean escape depths of photoelectrons in elemental solids excited by linearly polarized X-rays for high-energy photoelectron spectroscopy. Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena. 190 (2013) 127-136 10.1016/j.elspec.2013.08.011
  3. Mineharu Suzuki, Sei Fukushima, Shigeo Tanuma. Efficiency of automated peak identification with daily used commercial software for X-ray photoelectron spectra - report from VAMAS/TWA 2/A 9 project. Surface and Interface Analysis. 45 [7] (2013) 1174-1181 10.1002/sia.5245
  4. B. Da, Y. Sun, S. F. Mao, Z. M. Zhang, H. Jin, H. Yoshikawa, S. Tanuma, Z. J. Ding. A reverse Monte Carlo method for deriving optical constants of solids from reflection electron energy-loss spectroscopy spectra. Journal of Applied Physics. 113 [21] (2013) 214303 10.1063/1.4809544
  5. H. Jin, H. Shinotsuka, H. Yoshikawa, H. Iwai, M. Arai, S. Tanuma, S. Tougaard. Evaluation of robustness to surface conditions of the target factor analysis method for determining the dielectric function from reflection electron energy loss spectra: Application to GaAs. Surface and Interface Analysis. 45 [6] (2013) 985-992 10.1002/sia.5196
2012
  1. 荻原 俊弥, 永富 隆清, 金 慶中, 田沼 繁夫. 半球型電子分光器を搭載したオージェ電子分光装置のジオメトリー特性に基づいた傾斜ホルダーを利用した高感度，高深さ分解能オージェ深さ方向分析. Journal of Surface Analysis. 18 [3] (2012) 174-181 10.1384/jsa.18.174
  2. H. Shinotsuka, S. Tanuma, C.J. Powell, D.R. Penn. Calculations of electron stopping powers for 41 elemental solids over the 50eV to 30keV range with the full Penn algorithm. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. 270 (2012) 75-92 10.1016/j.nimb.2011.09.016
2011
  1. T. Nagatomi, H. Nakamura, Y. Takai, T. Ogiwara, T. Kimura, S. Tanuma. Effects of Carbon Contaminations on Electron-Induced Damage of SiO2 Film Surface at Different Electron Primary Energies. Journal of Surface Analysis. 18 [1] (2011) 26-35 10.1384/jsa.18.26
  2. 荻原 俊弥, 永富 隆清, 金 慶中, 田沼 繁夫. 傾斜試料ホルダーを用いた極低角度電子・イオン入射による超高深さ分解能オージェ深さ方向分析. 表面科学. 32 [10] (2011) 664-669 10.1380/jsssj.32.664
  3. C. Tsukada, S. Ogawa, H. Niwa, S. Yagi, T. Nomoto, G. Kutluk, H. Namatame, M. Taniguchi. Adsorption Reaction of Amino Acid Molecule on Pd Thin Layer Surface Constructed by Nano-dots under Water Environment. e-Journal of Surface Science and Nanotechnology. 9 (2011) 289-292 10.1380/ejssnt.2011.289
  4. S. Tanuma, C. J. Powell, D. R. Penn. Calculations of electron inelastic mean free paths. IX. Data for 41 elemental solids over the 50 eV to 30 keV range. Surface and Interface Analysis. 43 [3] (2011) 689-713 10.1002/sia.3522
2010
  1. T. Nagatomi, S. Tanuma, K. Goto. Absolutely determined inelastic mean free paths for 300–3000 eV electrons in 10 elemental solids. Surface and Interface Analysis. 42 [10-11] (2010) 1537-1540 10.1002/sia.3570
  2. 小畠 雅明, 岩井 秀夫, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, 田中 彰博, 鈴木 峰晴, 小林 啓介. ラボ用硬X線光電子分光装置の開発. 表面科学. 31 [9] (2010) 487-492 10.1380/jsssj.31.487
  3. JIN, Hua, YOSHIKAWA, Hideki, TANUMA, Shigeo, Sven Tougaard. Energy loss function for Si determined from reflection electron energy loss spectra with factor analysis method. SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS. (2010) 1076-1081
  4. H. Jin, H. Shinotsuka, H. Yoshikawa, H. Iwai, S. Tanuma, S. Tougaard. Measurement of optical constants of Si and SiO2 from reflection electron energy loss spectra using factor analysis method. Journal of Applied Physics. 107 [8] (2010) 083709 10.1063/1.3346345
  5. Takaharu NAGATOMI, Shigeo TANUMA. Surface Excitations in Surface Electron Spectroscopies Studied by Reflection Electron Energy-Loss Spectroscopy and Elastic Peak Electron Spectroscopy. Analytical Sciences. 26 [2] (2010) 165-176 10.2116/analsci.26.165
  6. Tatsunori TOCHIO, Shusuke SAKAKURA, Hirofumi OOHASHI, Hirohisa MIZOTA, Yanhui ZOU, Yoshiaki ITO, Sei FUKUSHIMA, Shigeo TANUMA, Takashi SHOJI, Hajime FUJIMURA, Michiru YAMASHITA. X-ray Fluorescence Analysis of Cr6+ Component in Mixtures of Cr2O3 and K2CrO4. Analytical Sciences. 26 [2] (2010) 277-279 10.2116/analsci.26.277
  7. H. Amekura, M. Tanaka, Y. Katsuya, H. Yoshikawa, H. Shinotsuka, S. Tanuma, M. Ohnuma, Y. Matsushita, K. Kobayashi, Ch. Buchal, S. Mantl, N. Kishimoto. Melting of Zn nanoparticles embedded in SiO2 at high temperatures: Effects on surface plasmon resonances. Applied Physics Letters. 96 [2] (2010) 023110 10.1063/1.3290984
2009
  1. 福島 整, 荻原 俊弥, 木村 隆, 田沼 繁夫. 超軟Ｘ線分光におけるLi Kα強度への化学状態の影響. 表面科学. 30 [7] (2009) 391-396 10.1380/jsssj.30.391
  2. Hideki Yoshikawa, Aurel M. Vlaicu, Masahiro Kimura, Akito Masuhara, Shigeo Tanuma, Hachiro Nakanishi, Hidetoshi Oikawa. X-Ray Photoelectron Spectroscopy of Core (Silver)-Shell (Polydiacetylene) Type Hybridized Nanocrystals. e-Journal of Surface Science and Nanotechnology. 7 (2009) 711-714 10.1380/ejssnt.2009.711
  3. K. Kumagai, S. Tanuma, C.J. Powell. Energy Dependence of Electron Stopping Powers in Elemental Solids over the 100 eV to 30 keV Energy Range. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. 267 [1] (2009) 167-170 10.1016/j.nimb.2008.10.094
2008
  1. S. Tanuma, H. Yoshikawa, N. Okamoto, K. Goto. Estimation of Inelastic Mean Free Paths in Au and Cu from Their Elastic Peak Intensity Ratios without IMFP Values of Reference Material in The 200 – 5000 eV Energy Range. Journal of Surface Analysis. 15 [2] (2008) 195-199 10.1384/jsa.15.195
  2. Mineharu Suzuki, Sei Fukushima, Shigeo Tanuma. Efficiency of Visual Peak Detection in X-ray Photoelectron Spectra. Surface and Interface Analysis. 40 [10] (2008) 1337-1343 10.1002/sia.2894
  3. OGIWARA, Toshiya, KIMURA, Takashi, FUKUSHIMA, Sei, TSUKAMOTO Kazunori, TAZAWA Toyohiko, TANUMA, Shigeo. The Non-destructive Chemical State Analysis of Al-Cu Inter-metallic Compound by Ultra-soft X-ray Spectrometer with Al Lα. MICROSCOPY AND MICROANALYSIS. (2008) 842-843
  4. FUKUSHIMA, Sei, OGIWARA, Toshiya, KIMURA, Takashi, Kazunori Tsukamoto, Toyohiko Tazawa, TANUMA, Shigeo. Theoretical Study about Si L2,3 Spectra with The Cluster Calculation. MICROSCOPY AND MICROANALYSIS. (2008) 1446-1447
  5. H Iwai, H Yoshikawa, S Fukushima, S Tanuma. Evaluation of Chemical State Analysis and Imaging by Micro XPS. Microscopy and Microanalysis. 14 [S2] (2008) 480-481 10.1017/s1431927608086510
  6. KIMURA, Takashi, AOYAGI, Takeshi, SAKURAYA, Kazuyuki, TANUMA, Shigeo. The FE-WDS-EPMA analysis of the segregation at the grain boundary of stainless steel. . MICROSCOPY AND MICROANALYSIS. (2008) 1448-1449
  7. KIMURA, Takashi, IWASAKI, Satoshi, SAKURAYA, Kazuyuki, TANUMA, Shigeo. The Quantitative Analysis of Super-Low Phosphorus Content of SUS316L Type Stainless Steel With EPMA Calibration Curve Method. MICROSCOPY AND MICROANALYSIS. (2008) 1136-1137
  8. OGIWARA, Toshiya, KIMURA, Takashi, FUKUSHIMA, Sei, TSUKAMOTO Kazunori, TAZAWA Toyohiko, TANUMA, Shigeo. Analysis of ultra-light elements with a newly developed ultra soft x-ray spectrometer for electron probe microanalysis.. MICROCHIMICA ACTA. (2008) 451-454
  9. A. Jablonski, S. Tanuma, C. J. Powell. Modified Predictive Formula for the Electron Stopping Power. Journal of Applied Physics. 103 [6] (2008) 063708 10.1063/1.2891047
  10. S. Tanuma, C. J. Powell, D. R. Penn. Calculations of Stopping Powers of 100 eV to 30 keV Electrons in 31 Elemental Solids. Journal of Applied Physics. 103 [6] (2008) 063707 10.1063/1.2891044
2007
  1. 田沼 繁夫. オージェ電子分光法における背面散乱補正　I．広い分析条件で使用可能な電子の背面散乱補正式の開発. Journal of Surface Analysis. 14 [1] (2007) 9-19 10.1384/jsa.14.9
  2. 田沼 繁夫, 岩井 秀夫, 吉川 英樹. 電子分光法による表面分析の動向. ぶんせき. (2007) 643-649
  3. 木村 隆, 西田憲二, 田沼 繁夫, 山田浩之. フィールド・エミッション電子銃を搭載した波長分散型サブミクロンEPMAの開発. まてりあ. 46 [2] (2007) 90-92
2006
  1. 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫, Toyohiko TAZAWA, Kazunori TSUKAMOTO. 電子線励起超軟X線分光装置の開発. 表面科学. 27 [9] (2006) 540-545 10.1380/jsssj.27.540
  2. 田沼 繁夫. 表面電子分光法における電子の散乱効果の研究. 表面科学. 27 [11] (2006) 657-661 10.1380/jsssj.27.657
  3. A. Jablonski, TANUMA, Shigeo, C.J. Powell. A predictive formula for the electron stopping power. JOURNAL OF SURFACE ANALYSIS. 13 [2] (2006) 170-177
  4. KIMURA, Takashi, NISHIDA, KENJI, TANUMA, Shigeo. Spatial Resolution of a Wavelength-Dispersive Electron Probe Microanalyzer Equipped with a Thermal Field Emission Gun. MICROCHIMICA ACTA. (2006) 175-178
  5. S. Tanuma. Summary of ISO/TC 201 Standard: XX ISO 18118: 2004 - Surface chemical analysis - Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy. Surface and Interface Analysis. 38 [3] (2006) 178-180 10.1002/sia.2177
  6. A. Jablonski, S. Tanuma, C. J. Powell. New universal expression for the electron stopping power for energies between 200 eV and 30 keV. Surface and Interface Analysis. 38 [2] (2006) 76-83 10.1002/sia.2202
2005
  1. S. Tanuma, T. Shiratori, T. Kimura, K. Goto, S. Ichimura, C. J. Powell. Experimental Determination of Electron Inelastic Mean Free Paths in 13 Elemental Solids in the 50 eV to 5000 eV Energy Range by Elastic-peak Electron Spectroscopy. Surface and Interface Analysis. 37 [11] (2005) 833-845 10.1002/sia.2102
  2. A. Jablonski, C. J. Powell, S. Tanuma. Monte Carlo Strategies for Simulations of Electron Backscattering from Surfaces. Surface and Interface Analysis. 37 [11] (2005) 861-874 10.1002/sia.2104
  3. S. Tanuma, C. J. Powell, D. R. Penn. Calculations of stopping powers of 100 eV to 30 keV electrons in ten elemental solids. Surface and Interface Analysis. 37 [11] (2005) 978-988 10.1002/sia.2092
  4. H. Oikawa, A.M. Vlaicu, M. Kimura, YOSHIKAWA, Hideki, TANUMA, Shigeo, A. Masuhara, H. Kasai, H. Nakanishi. Optoelectronic Interfacial Interaction in Metal-Polydiacetylene Gynridized Nanocrystal. NONLINEAR OPTICS, QUANTUM OPTICS. 34 (2005) 275-278
  5. M. Suzuki, KAISE, Masatsugu, KIMURA, Takashi, TANUMA, Shigeo. Problems caused by ion sputtering for the mesh-replica method and causion in measuring sputtered surface profiles. JOURNAL OF SURFACE ANALYSIS. 12 [2] (2005) 178-182
  6. 田沼 繁夫. オージェ電子分光法，X線光電子分光法による表面定量分析の国際標準化. 真空. 48 [4] (2005) 261-264
  7. S. Tanuma, T. Kimura, K. Nishida, S. Hashimoto, M. Inoue, T. Ogiwara, M. Suzuki, K. Miura. Quantitative evaluation of surface damage on SiO2/Si specimen caused by electron beam irradiation. Applied Surface Science. 241 [1-2] (2005) 122-126 10.1016/j.apsusc.2004.09.028
  8. C.J. Powell, A. Jablonski, F. Salvat, TANUMA, Shigeo, D.R. Penn. New Developments in Data for Auger Electron Spectroscopy and X-ray Photoelectron Spectroscopy. JOURNAL OF SURFACE ANALYSIS. 12 [2] (2005) 88-96
  9. S. Tanuma, C. J. Powell, D. R. Penn. Calculations of electron inelastic mean free paths.VIII. Data for 15 elemental solids over the 50-2000 eV range. Surface and Interface Analysis. 37 [1] (2005) 1-14 10.1002/sia.1997
2004
  1. 木村 隆, 杉崎 敬, 西田 憲二, 石川 信博, 田沼 繁夫. EPMA散布図分析を応用したNi-P無電解メッキとはんだ接合域の解析（Ⅰ）. 日本金属学会誌. 68 [1] (2004) 8-13 10.2320/jinstmet.68.8
  2. Z. Berényi, B. Aszalós-Kiss, J. Tóth, D. Varga, L. Kövér, K. Tőkési, I. Cserny, S. Tanuma. Inelastic mean free paths of Ge in the range of 2-10 keV electron energy. Surface Science. 566-568 (2004) 1174-1178 10.1016/j.susc.2004.06.080
  3. M. P. Seah, S. J. Spencer, F. Bensebaa, I. Vickridge, H. Danzebrink, M. Krumrey, T. Gross, W. Oesterle, E. Wendler, B. Rheinländer, Y. Azuma, I. Kojima, N. Suzuki, M. Suzuki, S. Tanuma, D. W. Moon, H. J. Lee, Hyun Mo Cho, H. Y. Chen, A. T. S. Wee, T. Osipowicz, J. S. Pan, W. A. Jordaan, R. Hauert, U. Klotz, C. van der Marel, M. Verheijen, Y. Tamminga, C. Jeynes, P. Bailey, S. Biswas, U. Falke, N. V. Nguyen, D. Chandler-Horowitz, J. R. Ehrstein, D. Muller, J. A. Dura. Critical review of the current status of thickness measurements for ultrathin SiO2 on Si Part V: Results of a CCQM pilot study. Surface and Interface Analysis. 36 [9] (2004) 1269-1303 10.1002/sia.1909
  4. AWANE, Toru, KIMURA, Takashi, NISHIDA, KENJI, TANUMA, Shigeo, ISHIKAWA, Nobuhiro. Grazing Exit Electron Probe Microanalysis of Submicrometer deposits in Metallic Materials. SPECTROCHIMICA ACTA PART B-ATOMIC SPECTROSCOPY. (2004) 1235-1241
  5. 田沼 繁夫. 表面電子分光法における信号の減衰は如何に記述されるか？ II.誘電関数とIMFP. JOURNAL OF SURFACE ANALYSIS. 11 [2] (2004) 123-128
  6. 木村 隆, 西田 憲二, 田沼 繁夫, 井上雅彦, 鈴木峰晴, 橋本哲, 三浦薫. 二酸化シリコン薄膜（SiO2）の電子線照射損傷を定量的に評価する. 表面科学会誌. 25 [4] (2004) 212-216
  7. 田沼 繁夫. 表面電子分光法における信号の減衰は如何に記述されるか？ I.概要. JOURNAL OF SURFACE ANALYSIS. 11 [1] (2004) 33-37

書籍 TSV

2022
  1. TANUMA, Shigeo, C. J. Powell. Inelastic Scattering of Electrons in Solids. International Tables for Crystallography, Vol. I, X-ray Absorption Spectroscopy and Related Techniques. International Union of Crystallography, 2022, 7.
2016
  1. CJ powell. Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy (HAXPES). Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy (HAXPES). Springer International Publishing, 2015, 111-140. 10.1007/978-3-319-24043-5_5
2014
  1. 田沼 繁夫. 表面化学分析分析法の国際標準化(ISO/TC201). マイクロビームアナリシス・ハンドブック. , 2014, 608-619.
2004
  1. 田沼 繁夫, 木村 隆. X線分析. 分析化学データハンドブック（丸善出版）. , 2004, 139-145.
  2. 田沼 繁夫. XPS:X線光電子分光法. 表面科学の基礎と応用　日本表面科学会編（エヌ・ティー・エス出版）. , 2004, 660-671.

会議録 TSV

2010
  1. S Fukushima, T Ogiwara, T Kimura, S Tanuma. A study of the appearance of Li Kalpha. IOP CONFERENCE SERIES:MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING. (2010) 012010-1-012010-6 10.1088/1757-899x/7/1/012010
2009
  1. IWAI, Hideo, John S. Hammond, TANUMA, Shigeo. Recent Status of Thin Film Analyses by XPS. JOURNAL OF SURFACE ANALYSIS. (2009) 264-270
  2. SHINOTSUKA, Hiroshi, YOSHIKAWA, Hideki, TANUMA, Shigeo. Calculation of Depth Distribution Functions for CuO and SiO2. JOURNAL OF SURFACE ANALYSIS. (2009) 317-320
  3. JIN, Hua, YOSHIKAWA, Hideki, IWAI, Hideo, TANUMA, Shigeo. Analysis of angular and energy dependences of reflection energy loss spectra on several semiconductors. e-Journal of Surface Science and Nanotechnology. (2009) 199-202
  4. TANUMA, Shigeo. An Improved Backscattering Correction Equation for Wide Analytical Conditions on Quantitative Auger Analysis. JOURNAL OF SURFACE ANALYSIS. (2009) 312-316
  5. YOSHIKAWA, Hideki, TANAKA, Hiromi, Masahiro Kimura, OGIWARA, Toshiya, KIMURA, Takashi, FUKUSHIMA, Sei, KUMAGAI, Kazuhiro, TANUMA, Shigeo, Mineharu Suzuki, KOBAYASHI, Keisuke. Evaluation of Depth Distribution Function for AR-XPS using Synchrotron Radiation Hard X-ray. JOURNAL OF SURFACE ANALYSIS. (2009) 254-258
  6. JIN, Hua, YOSHIKAWA, Hideki, IWAI, Hideo, TANUMA, Shigeo, S. Tougaard. Inelastic scattering cross section of Si from angular dependent reflection electron energy loss spectra . JOURNAL OF SURFACE ANALYSIS. (2009) 321-324
  7. OGIWARA, Toshiya, TANUMA, Shigeo. Auger Depth Profiling Analysis Using a inclined Holder . JOURNAL OF SURFACE ANALYSIS. (2009) 246-248
2008
  1. FUKUSHIMA, Sei, KIMURA, Takashi, OGIWARA, Toshiya, Kazunori Tsukamoto, Toyohiko Tazawa, TANUMA, Shigeo. NEW-MODEL ULTRA-SOFT X-RAY SPECTROMETER FOR ELECTRON PROBE MICROANALYSIS. MICROCHIMICA ACTA. (2008) 399-404
2007
  1. 荻原 俊弥, 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫. 電子線励起超軟X線分光装置によるLi-Kα、Al-Lα特性X線を用いた材料解析技術. 2007 JEOL EPMA・表面分析ユーザーズミーティング（名古屋）. (2007) 1-22
  2. 荻原 俊弥, 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫. 電子線励起超軟X線分光装置によるLi-Kα、Al-Lα特性X線を用いた材料解析技術. 2007 JEOL EPMA・表面分析ユーザーズミーティング（東京）. (2007) 1-21
2006
  1. FUKUSHIMA, Sei, KIMURA, Takashi, OGIWARA, Toshiya, K. Tsukamoto, T. Tazawa, TANUMA, Shigeo. Electron Probe Microanalysis of Li Kα with Newly Developed Ultra-Soft X-ray Spectrometer.. Microscopy & Microanalysis 2006. (2006) 256-257
  2. TANUMA, Shigeo, T.Shiratori, K. Goto, S. Ichimura, M. Suzuki. Measurements and Comparison of Electron Inelastic Mean Free Paths in 13 Elemental Solids in the 100 eV to 5000eV Energy Range by Elastic-Peak Electron Spectroscopy. JSPS 141 Committee ACTIVRY REPORT 5th International Symposium on Atomic Level Chatracterizations for New Materials and Devices . (2006) 451-452

口頭発表 TSV

2023
  1. DA, Bo, LIU, Jiangwei, KOHARA, Shinji, YOSHIKAWA, Hideki, TANUMA, Shigeo. Simulation of diffractive electron lenses using Monte Carlo method. Symposium on Practical Surface Analysis 2023　(PSA-23). 2023
  2. DA, Bo, LIU, Jiangwei, KOHARA, Shinji, YOSHIKAWA, Hideki, TANUMA, Shigeo. Diffractive electron lenses: using thin film materials to focus electron beams. The 14th International Vacuum Electron Sources Conference (IVESC 2023). 2023
  3. DA, Bo, LIU, Jiangwei, YOSHIKAWA, Hideki, TANUMA, Shigeo. Heuristic data-driven spectral analysis for nanomaterial information embed in the background. Chinese Materials Conference 2022-2023. 2023
  4. A. Jablonski, 田沼 繁夫, C. J. Powell. 電子の非弾性平均自由行程の一般式:JTP 式の開発. 第60回表面分析研究会. 2023
  5. DA, Bo, LIU, Jiangwei, YOSHIKAWA, Hideki, TANUMA, Shigeo. White electron beam technique in electron-beam based techniques. Surface Analysis Technology Conference　2023第四届表面分析技術研討会. 2023
  6. 田沼 繁夫. 電子分光法における表面定量分析の標準化の歩み. 2023年JSCA国際標準化セミナー. 2023
2022
  1. DA, Bo, LIU, Jiangwei, YOSHIKAWA, Hideki, TANUMA, Shigeo. Data-driven information extraction of passivation layers in stainless steel from electron microscopy. International Conference on the Cooperation and Integration of Industry, Education, Research and Application 2022 — Metal-based New Materials and Advanced Manufacturing Technology Subforum (ICIERA-2022). 2022
2021
  1. 原田 善之, 角谷 正友, 篠塚 寛志, 登坂 弘明, 吉川 英樹, 田沼 繁夫. XPSデータセットにおけるピーク分離および解析の現状とその課題. 2021年日本表面真空学会学術講演会. 2021
  2. LIU, Xun, Lihao Yang, Dabao Lu, Zhufeng Hou, NAGATA, Kenji, DA, Bo, YOSHIKAWA, Hideki, TANUMA, Shigeo, Yang Sun, Zejun Ding. Prediction of electron inelastic mean free paths for inorganic compounds with a machine learning approach. 13th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '21 (ALC '21 Online). 2021
2020
  1. 永田 賢二, 角谷 正友, 田沼 繁夫, 篠塚 寛志, 登坂 弘明, 原田 善之, 松波 成行, 吉川 英樹, 庄野逸, 村上諒. BIC自動ピークフィッティング技術を用いたXPSデータセットのハイスループット解析手法. 2020年度 実用表面分析講演会 Symposium on Practical Surface Analysis 2020 (PSA-20). 2020
  2. DA, Bo, LIU, Jiangwei, YOSHIKAWA, Hideki, TANUMA, Shigeo. Data-driven spectral analysis method in electron-beam based techniques. 2020年日本表面真空学会学術講演会. 2020
  3. DA, Bo, YOSHIKAWA, Hideki, TANUMA, Shigeo. A general method to determine universal formula for given database. The 4th Forum of Materials Genome Engineering. 2020
  4. 桑島 功, 細谷 順子, 松田 朝彦, 小野寺 千栄, 田邉 浩介, 石井 真史, 徐 一斌, 田沼 繁夫, 谷藤 幹子. NIMS物質・材料データベース (MatNavi)と材料データリポジトリ (MDR)の現状. データ駆動材料開発パートナーシップ会員向けイベント（20201016）／https://www.nims.go.jp/MaDIS/au38ru000000058p.html. 2020
  5. 原田 善之, 角谷 正友, 篠塚 寛志, 登坂 弘明, 松波 成行, 田沼 繁夫, 吉川 英樹. XPSデータセットの自動解析によるGaN初期酸化過程解析のハイスループット化. 第81回応用物理学会秋季学術講演会. 2020
2019
  1. LIU, Jiangwei, DA, Bo, YOSHIKAWA, Hideki, TANUMA, Shigeo. Data-driven spectral analysis method in electron-beam based techniques. TIAかけはし「-計算と計測のデータ同化による革新的物質材料解析手法の調査-」. 2019
  2. DA, Bo, LIU, Jiangwei, YOSHIKAWA, Hideki, TANUMA, Shigeo. White-beam electron technique for nanomaterial characterization. PSA19. 2019
  3. DA, Bo, LIU, Jiangwei, YOSHIKAWA, Hideki, TANUMA, Shigeo. Characterization of nanomaterials with secondary electron microscopy. ALC19. 2019
  4. 原田 善之, 達 博, 篠塚 寛志, 田沼 繁夫, 吉川 英樹, 柳原英人. 可視光から超軟X線帯の誘電関数データベースの構築。酸化鉄のエネルギー損失関数と非弾性平均自由行程の導出. 第80回応用物理学会秋季学術講演会. 2019
  5. DA, Bo, LIU, Jiangwei, YOSHIKAWA, Hideki, TANUMA, Shigeo. Virtual substrate method for nanomaterials characterization. ECASIA19. 2019
  6. DA, Bo, YOSHIKAWA, Hideki, TANUMA, Shigeo. Virtual substrate method for nanomaterials characterization. 21st International Vacuum Congress. 2019
  7. 田沼 繁夫. Testing and Standards for Surface Analysis (TASSA) レポート創設とJournal of Surface Analysis (JSA)発刊のころ. - 表面分析の標準化を目指して -. 第53回表面分析研究会. 2019
  8. 原田 善之, 達 博, 篠塚 寛志, 田沼 繁夫, 吉川 英樹, 柳原英人. 可視光から超軟X線帯の誘電関数データベースを目指した、高エネルギー分解能REELS装置の開発. 表面分析研究会第53回研究会. 2019
  9. DABo, 吉川英樹, 田沼繁夫. Virtual substrate method for nanomaterials characterization. NIMS先端計測シンポジウム2019. 2019
2018
  1. 田沼 繁夫, 篠塚 寛志, C. J. Powell, D.R. Penn. 50 eVから200keVにおける電子の非弾性散乱の計算；42種類の無機化合物について. 2018年日本表面真空学会学術講演会. 2018
  2. 達 博, 吉川 英樹, 田沼 繁夫. ナノ材料の特性評価のための仮想基板法. 2018年日本表面真空学会学術講演会. 2018
  3. 原田 善之, 達 博, 田沼 繁夫, 吉川 英樹. 高エネルギー分解能REELSによるSi試料の角度分解測定. 2018年日本表面真空学会学術講演会. 2018
  4. 達 博, ホー ズーフォン, 劉 江偉, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, zjding. Virtual Substrate Method for Nanomaterials Characterization. MPS-2018. 2018
  5. 三浦 薫, 渡辺 明男, 野田 哲二, 田沼 繁夫. アンケートから見たユーザーニーズ ~ 共用設備・技術の強化・拡充の方向性 ~. 第51回表面分析研究会. 2018
  6. 村上 諒, 陰山 弘典, 仲村 和貴, 片岡 範行, 田中 博美, 松本 凌, 篠塚 寛志, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, 吉原 一紘. 動的Shirley法によるXPSスペクトル解析範囲の全自動最適化. 第65回応用物理学会 春季学術講演会. 2018
  7. 仲村 和貴, 村上 諒, 片岡 範行, 陰山 弘典, 篠塚 寛志, 吉川 英樹, 田中 博美, 松本 凌, 田沼 繁夫, 吉原 一紘. 参照スペクトルを用いた動的Shirley法によるX線光電子分光スペクトルの解析. 第65回応用物理学会 春季学術講演会. 2018
  8. 達 博, ホー ズーフォン, 劉 江偉, 吉川 英樹, 田沼 繁夫. Data-driven analysis method. MI・計測　合同シンポジウム. 2018
  9. X Liu, ホー ズーフォン, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, ZJ Ding, 達 博. Predict Electron IMFP Using Machine Learning. MI・計測　合同シンポジウム. 2018
  10. 仲村 和貴, 村上 諒, 陰山 弘典, 片岡 範行, 田中 博美, 松本 凌, 篠塚 寛志, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, 吉原 一紘. 参照スペクトルを用いた動的Shirley法によるX線光電子分光スペクトルの解析 〜産業分野を活性化する自動解析ソフトウェアの実現を目指して〜. 第23回高専シンポジウム. 2018
  11. 村上 諒, 仲村 和貴, 陰山 弘典, 片岡 範行, 田中 博美, 松本 凌, 篠塚 寛志, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, 吉原 一紘. Ｘ線光電子分光スペクトルにおける大量データ解析プログラムの開発. 第23回高専シンポジウム. 2018
  12. 陰山 弘典, 仲村 和貴, 村上 諒, 片岡 範行, 田中 博美, 松本 凌, 篠塚 寛志, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, 吉原 一紘. 動的Shirley法を用いたXPSスペクトル解析におけるアルゴリズムの改良　〜端点付近のロバストなスペクトルの自動処理〜. 第23回高専シンポジウム. 2018
2017
  1. 達 博, 吉川 英樹, 田沼 繁夫. Virtual substrate method for nanomaterials characterization. The 8th International Symposium on Surface Science. 2017
  2. 野田哲二, 田沼 繁夫, 竹口 雅樹, 吉原 邦夫, 三浦 薫, 奥村 佳奈. 物質材料研究機構におけるナノテクノロジー研究. 3rd International Nano-Industry Forum & Exhibition in Daejeon. 2017
  3. 篠塚 寛志, 吉川 英樹, 達 博, 田沼 繁夫. HAXPESにおける光電子の情報深さとそれに関連する物理量. 2017年真空・表面科学合同講演会：第37回表面科学学術講演会・第58回. 2017
  4. 達 博, 吉川 英樹, 田沼 繁夫. Virtual substrate method for nanomaterials characterization. JSPS 141 committee meeting. 2017
  5. 達 博, 吉川 英樹, 田沼 繁夫. Electron transport properties of monolayer graphene measured from secondary electron microscopy according to the substrate variational method. EMAS Workshop / IUMAS Meeting. 2017
  6. 達 博, 劉 江偉, ンギュエン クウォン ター, 塚越 一仁, 岩井 秀夫, 吉川 英樹, 田沼 繁夫. Virtual substrate method for nanomaterials characterization. 共用・計測　合同シンポジウム2017 . 2017
  7. 西尾 満章, 吉川 英樹, 田沼 繁夫. EPMAにおける1keV以下の質量吸収係数の検討. 共用・計測合同シンポジウム2017. 2017
  8. 西尾 満章, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, 今井 基晴, 磯田 幸宏. EPMAによるMg-Ge合金の定量 －質量吸収係数は正確か？－. 第46回表面分析研究会. 2017
  9. 村上 諒, 片岡 範行, 田中 博美, 松本 凌, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, 吉原 一紘. X線光電子分光スペクトル解析における標準データ参照機能の導入. 第22回高専シンポジウム. 2017
  10. 片岡 範行, 村上 諒, 田中 博美, 松本 凌, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, 吉原 一紘. 全自動解析を目指したスペクトル分析ソフトウェアの開発. 第22回高専シンポジウム. 2017
2016
  1. 吉川 英樹, 田沼 繁夫. 検出角 70°の広角まで対応可能なXPS平均脱出深さの経験式の提案. 第36回表面科学学術講演会. 2016
  2. 永富隆清, 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. GaAs超格子試料のAESスパッタ深さ分析における深さ分解能パラメータ. 第３６回表面科学学術講演会（2016年真空•表面科学合同講演会. 2016
  3. 達 博, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, 岩井 秀夫. Low Energy Electron-Electron Interaction Information of Graphene Measured from Secondary Electron Microscopy. 7th International Symposium on Practical Surface Analysis. 2016
  4. 吉川 英樹, 田沼 繁夫. XPSにおける広角対応の平均脱出深さの経験式. 7th International Symposium on Pracical Surface Analysis (PSA16). 2016
  5. 永富隆清, 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. GaAs超格子試料のオージェ深さ方向分析における深さ分解能パラメータに関する検討. 7th International Symposium on Practical Surface Analysis (PSA-1. 2016
  6. 片岡範行, 田中博美, 松本 凌, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, 吉原一紘. 解析者に結果が依存しないスペクトル分析ソフトウェアの開発. 日本高専学会第22回年会. 2016
  7. 達 博, 吉川 英樹, 田沼 繁夫. Extracting pure nanomaterial information by surface analysis using the chop-nod method. the 20th International Vacuum Congress. 2016
  8. 田中博美, 西澤侑吾, 松本 凌, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, 吉原一紘. 改良型動的Shirley法によるXPSスペクトル解析の安定化. 第63回応用物理学会春季学術講演会. 2016
  9. 達 博, 吉川 英樹, 田沼 繁夫. Chop-nod method: Opening up a new world for surface analysis. MANA International Symposium 2016. 2016
  10. 達 博, 吉川 英樹, 田沼 繁夫. Chop-nod method in surface electron spectroscopy. 共用・計測　合同シンポジウム2016. 2016
  11. 田沼 繁夫, 後藤啓典, 吉川 英樹, パウエル, 達 博, 上田隆一, 篠塚寛志. Inelastic Mean Free Paths, Mean Escape Depths, and Effective Attenuation Lengths for Surface Electron Spectroscopies II. 第46回表面分析研究会. 2016
  12. 西澤侑吾, 田中博美, 松本 凌, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, 吉原一紘. 動的Shirley法によるXPSバックグラウンドの自動推定. 第21回高専シンポジウム. 2016
2015
  1. 田沼 繁夫. 研究・開発と表面分析. 第43回湘南ハイテクセミナー. 2015
  2. 吉川 英樹, 田沼 繁夫. Super Extended Mermin Method for Calculating Electron Inelastic Mean Free Path. Symposium on Practical Surface Analysis 2015 (PSA-15). 2015
  3. 田沼 繁夫, 後藤啓典, 吉川 英樹, パウエル, 達 博, 上田隆一, 篠塚寛志. Inelastic Mean Free Paths, Mean Escape Depths, and Effective Attenuati on Lenths for Surface Electron Spectroscopies I. 2015年度 実用表面分析講演会. 2015
  4. TANUMA, Shigeo, 篠塚寛志, パウエル, ペン. Calculations of electron inelastic mean free paths over the 50 eV to 200 keV range with the relativistic full Penn algorithm. ALC '15 (10th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices ’15). 2015
  5. 達 博, 吉川 英樹, 田沼 繁夫. Extended Mermin Method in Determining Electron Inelastic Mean Free Path. 10th International Symposium on Atomic Level Characterizations. 2015
  6. 吉川 英樹, 田中 肇, 金 華, 岩井 秀夫, 田沼 繁夫. 化合物半導体のエネルギー損失関数の導出のための角度分解REELSの因子分析. 10th International Symposium on Atomic Level Characterizations. 2015
  7. 吉川 英樹, 田沼 繁夫. 広範囲の運動エネルギーおよび角度におけるXPSの平均脱出深さ. ECASIA 2015. 2015
  8. 達 博, 吉川 英樹, 田沼 繁夫. An Improved Extended Mermin Method for Calculating Electron Inelastic Mean Free Path. 16th European Conference on Application of Surface and Interface. 2015
  9. 達 博, 吉川 英樹, 田沼 繁夫. Chop-nod method: Opening up a new world for surface analysis. LEE2015. 2015
  10. 西尾 満章, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, 今井 基晴, 磯田 幸宏. EPMAによるMg-Ge合金の定量 －質量吸収係数は正確か？－. 日本分析化学会第64年会. 2015
  11. 田沼 繁夫, 吉川 英樹, 後藤啓典, パウエル. Inelastic Mean Free Paths, Mean Escape Depths, and Effective Attenuation Lengths for Surface Electron Spectroscopies. Low Energy Electrons: Dynamics and Correlation near Surfaces and. 2015
  12. 西澤 侑吾, 松本　凌, 田中　博美, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, 吉原　一紘. X線光電子分光スペクトルの解析を支援するソフトウェアの開発 . 日本高専学会第21回年会. 2015
  13. 吉川 英樹, 田中 肇, 金 華, 田沼 繁夫, 岩井 秀夫. エネルギー損失関数のデータベース構築を目的とした化合物半導体の角度分解REELSスペクトルの因子分析. NIMS conference 2015. 2015
  14. 吉川 英樹, 田沼 繁夫. Extended Mermin Method in Determining Electron Inelastic Mean Free Path. NIMS Conference 2015. 2015
  15. 西尾 満章, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, 今井 基晴, 磯田 幸宏. 電子線マイクロアナライザーによるMgGe合金中のMgの定量　*MgKαの質量吸収係数の検討*. NIMS Conference 2015. 2015
  16. 荻原 俊弥, 吉川 英樹, 田沼 繁夫. 試料冷却を用いたSiO2およびAl2O3酸化薄膜のオージェスペクトル測定の基礎的検討. 第７５回分析化学討論会. 2015
  17. 櫻田委大, 橋本哲, 後藤啓典, 田沼 繁夫. AES 分光スペクトルを用いた極低加速電圧領域における反射電子像コント ラストの評価. 第71回学術講演会. 2015
  18. 達 博, 吉川 英樹, 田沼 繁夫. An Improved Method for Calculating Electron Inelastic Mean Free Paths. MANA International Symposium 2015. 2015
  19. 田沼 繁夫. 表面定量分析における標準化の現状と課題：物理データベースからシミュレータへ. 第44回表面分析研究会 SASJ設立20周年記念講演会. 2015
2014
  1. 田沼 繁夫. 研究・開発とＸ線を利用した分析. 第41回湘南ハイテクセミナー. 2014
  2. 松本凌, 田中博美, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, 吉原一紘. 表面分析を支援するソフトウェアの開発. International Symposium on Technology for Sustainability. 2014
  3. A. Jablonski, C. J. Powell, 田沼 繁夫. Effective Attenuation Lengths for Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy (HAXPES). AVS 61st International Symposium. 2014
  4. 吉川 英樹, 田沼 繁夫. 電子分光シミュレーターの物質情報学への展開のためのデータベース構築. 第34回表面科学学術講演会. 2014
  5. 荻原 俊弥, 吉川 英樹, 田沼 繁夫. 試料冷却ステージを用いた極低角度入射ビームオージェ深さ方向分析.AES-DPデータベース開発に向けて. 第３４回表面科学学術講演会. 2014
  6. 松本凌, 田中博美, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, 吉原一紘. Shirley法の改善によるXPSバックグラウンドの高精度算定. 第34回表面科学学術講演会. 2014
  7. 吉川 英樹, 田沼 繁夫. 0.1〜10 keVでエネルギー範囲で80度までの放出角度の条件下での光電子の平均脱出深さ. 7th International Symposium on Surface Science. 2014
  8. 田沼 繁夫, 篠塚 寛志, 達 博, 吉川 英樹, パウエル. Electron Inelastic Mean Free Paths in Liquid Water for Energies from10 eV to 10 keV. 7th International Symposium on Surface Science. 2014
  9. 達 博, 篠塚 寛志, 吉川 英樹, 丁泽军, 田沼 繁夫. 電子非弾性平均自由行程を計算するための改良された方法. The 7th International Symposium on Surface Science (ISSS7). 2014
  10. 荻原 俊弥, 吉川 英樹, 田沼 繁夫. 試料冷却を用いたオージェ深さ方向分析の基礎的検討. 2014年度実用表面分析講演会. 2014
  11. 松本凌, 西澤侑吾, 田中博美, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, 吉原一紘. 端点位置に影響されないShirley法によるXPSバックグラウンドの算定. 2014年度 実用表面分析講演会PSA14. 2014
  12. 松本凌, 田中博美, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, 吉原一紘. 表面分析支援ソフトウェアの開発 - 動的Shirley法によるXPSバックグラウンド推定の高度化. 平成26年度電気・情報関連学会中国支部連合大会. 2014
  13. 田沼 繁夫. 表面化学分析の現状と標準化の展望. 表面分析講演会. 2014
  14. 田沼 繁夫. 固体試料における電子のIMFP, EAL, MEDの推定. 「SEMの物理学」分科会 合宿討論会. 2014
  15. 吉川 英樹, 田沼 繁夫. 表面深層の化学状態分析： 硬Ⅹ線光電子分光. 第14回NIMSフォーラム. 2014
  16. 西尾 満章, 田沼 繁夫, 今井 基晴, 磯田 幸宏. EPMAによるMgGe合金の定量. 日本分析化学会第63年会. 2014
  17. 達 博, 篠塚 寛志, 吉川 英樹, 丁 泽军, 田沼 繁夫. An Improved Method for Calculating Electron Inelastic Mean Free Paths. 学振マイクロビームアナリシス第 141 委員会第 157 回研究会. 2014
  18. 田沼 繁夫. 表面化学分析の現状と標準化の展望. 日本電子　SA事業ユニット セミナー. 2014
  19. 岩井 秀夫, 田中 彰博, 田沼 繁夫. TOF-SIMSの分析事例と最近の動向. 共用・計測　合同シンポジウム2014. 2014
  20. 松本凌, 荒木優一, 田中博美, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, 吉原一紘. 動的Shirley法によるXPSバックグラウンド除去の全自動化とCOMPROへの組み込み. 第42回表面分析研究会. 2014
2013
  1. 田沼 繁夫. 研究・開発とＸ線を利用した分析. 第39回湘南ハイテクセミナー. 2013
  2. 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. 極低角度入射ビームを用いたオージェ深さ方向分析による極薄膜多層試料の評価. 第33回表面科学学術講演会. 2013
  3. 田沼 繁夫. Analysis of electron inelastic scattering in solids over wide energy range and its application to surface chemical analysis. 2nd KVS-­VSJ-­SSSJ Joint Symposium. 2013
  4. 松本凌, 荒木優一, 田中博美, 吉川 英樹, 田沼 繁夫. 表面分析支援ソフトウェアの開発. 2013年真空・表面科学合同講演会. 2013
  5. 吉川 英樹, 渡部大介, 吉原一紘, 田中博美, 田沼 繁夫. 表面分析スペクトルシミュレーターにおけるデータベース構築のための共通データフォーマットの提. 2013年真空・表面科学合同講演会. 2013
  6. 吉川 英樹, 岩井 秀夫, 新井 正男, 田沼 繁夫. 角度分解反射電子エネルギー損失分光スペクトルの因子分析から求めた化合物半導体の誘電関数. 2013年真空・表面学術合同講演会. 2013
  7. 田沼 繁夫. Calculations and Measurements of Electron Inelastic Mean Free Paths in Solids . 6th International Symposium on Practical Surface Analysi. 2013
  8. 岩井 秀夫, 荻原 俊弥, 田中 彰博, 田沼 繁夫, 福島 整, 木村 隆. 電子ビームがSiO2の薄膜に与える損傷(VAMAS-SCAラウンドロビン試験報告). PSA-13. 2013
  9. 吉川 英樹, 吉原一紘, 渡部大介, 田中博美, 田沼 繁夫. 表面電子分光のシミュレーターおよびデータベースの為のデータ変換フォーマットの提案. 6th International Symposium on Practical Surface Analysis. 2013
  10. 松本凌, 荒木優一, 田中博美, 吉川 英樹, 田沼 繁夫. 表面分析支援ソフトウェアの開発. 第64回電気・情報関連学会中国支部連合大会. 2013
  11. 田沼 繁夫, 吉川 英樹, 篠塚寛志, 上田 隆一. Calculations of Mean Escape Depths of Photoelectrons in Elemental Solids Excited by Linearly Polarized X-ray for High Energy Photoelectron Spectroscopy. 15th European Conference on Surface and Interface Analysis. 2013
  12. 吉川 英樹, 吉原一紘, 渡部大介, 田中博美, 田沼 繁夫. 表面電子分光シミュレーターのための共通データ変換フォーマットの提案. 15th European Conference on Applications of Surface & Interface. 2013
  13. 松下 能孝, T. Onimaru, S. Tsutsui, K. T. Matsumoto, 佐藤 晃, 貝瀬 正次, 関川 重芳, 田沼 繁夫, T. Takabatake. Superconductors, LnT2Zn20 (Ln = La, Pr, T = Ru, Ir): Their Crystal Structures. The 12th International Conference on Quasicrystals (ICQ12). 2013
  14. 田沼 繁夫. ISO TC201（表面化学分析）,　VAMAS　TWA2(表面化学分析)における国際標準化の現状と展望. 表面化学分析技術国際標準化セミナー『表面・微小領域分析における国. 2013
  15. 吉川 英樹, 田沼 繁夫. 反射電子エネルギー損失スペクトルの因子分析によって求めたエネルギー損失関数と平均自由行程. 71 IUVSTA Workshop. 2013
  16. 田沼 繁夫. Calculations of Electron Inelastic Mean Free Paths in Solids over the 10 eV to 200 keV Energy Range with the Relativistic Full Penn Algorithm. IUVSTA Workshop on Nanostructure Characterization by Electron Be. 2013
  17. 吉川 英樹, 渡部大介, 吉原一紘, 田中博美, 田沼 繁夫. 表面分析のシミュレーター用入力ファイル及び参照スペクトルの記述のためのXMLを用いた共通データフォーマットの提案. 第41回表面分析研究会. 2013
  18. 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. 極低角度入射ビームを用いたオージェ深さ方向分析による酸化物薄膜の分析. 第73回分析化学討論会. 2013
  19. 岩井 秀夫, 小畠雅明, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, 小林啓介. 実験室系硬X線光電子分光装置の開発と応用. 共用・計測　合同シンポジウム2013. 2013
  20. 田沼 繁夫, 吉川 英樹, 篠塚寛志, 上田 隆一. Calculations of Mean Escape Depths of Photoelectrons in Elemental Solids Excited by Linearly Polarized X-ray for High Energy Photoelectron Spectroscopy. 表面分析研究会第40回研究会. 2013
  21. 後藤敬典, 山内幸彦, 田沼 繁夫. 金属とその酸化物のオージェ･2次電子放射特性：Li,Mg,CuBe. 第40回表面分析研究会. 2013
  22. 田沼 繁夫, 吉川 英樹, 上田 隆一, 篠塚寛志. Calculations of Mean Escape Depths of Photoelectrons in Elemental Solids Excited by Linearly Polarized X-ray for High Energy Photoelectron Spectroscopy. 第40回表面分析研究会. 2013
  23. 永富隆清, 柳内克昭, 田沼 繁夫. 表面分析及び標準化に関するIUVSAワークショップ. 学術振興会第141委員会第151回研究会. 2013
  24. 田沼 繁夫. Present Status of Standardization of Quantitative Surface Chemical Analysis by AES and XPS. iSAS13. 2013
  25. 田中 彰博, 岩井 秀夫, 荻原 俊弥, 田沼 繁夫, 福島 整, 木村 隆. 測定時試料損傷の定義と定量評価の方法に関する考察. iSAS-13. 2013
2012
  1. 田沼 繁夫. 電子の非弾性散乱データベースの現状と展望. 第32回表面科学学術講演会. 2012
  2. 永富隆清, 田沼 繁夫. オージェ電子分光法分析における電子線誘起試料損傷の 標準化とデータベース化 －SiO2 薄膜表面の損傷過程－. 第32回表面科学学術講演会. 2012
  3. 西尾 満章, 田沼 繁夫. 低加速EPMAにおける蒸着膜の影響. 第32回表面科学学術講演会. 2012
  4. 田沼 繁夫. モノづくりを支える表面分析技術: 表面分析の現状とその課題. 第13回真空シンポジウム 「日本のモノづくりを支える最新の表面分. 2012
  5. 後藤啓典, 井上雅彦, 山内幸彦, 田沼 繁夫. 2次電子の利得を通常のSEMなどで正確に計測する試みと低速一次電子照射による2次電子のエネルギー分布. マイクロビーム141委員会　第149回委員会. 2012
  6. 西尾 満章, 田沼 繁夫. 低加速電圧ＥＰＭＡによる軽元素定量の検討. 第61回　日本分析化学会年会. 2012
  7. 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫. 極低角度入射ビームを用いた高感度，高深さ分解能オージェ深さ方向分析による極薄膜多層試料の分析. 日本分析化学会第61年会. 2012
  8. 田沼 繁夫. ナノ計測と標準化. ナノテクノロジー社会受容特論. 2012
  9. 吉川 英樹, 吉原一紘, 田沼 繁夫. 「データ解析ソフトウェアCOMPROの新機能」―角度分解XPSを使った半導体バンド曲りの定量評価―. 第39回表面分析研究会. 2012
  10. 後藤敬典, 井上雅彦, 田沼 繁夫, 山内幸彦. F.Cup と試料電流による２次電子利得の推測と２次電子の特性；エネルギー分布・オージェ遷移・損失. 第39回表面分析研究会. 2012
  11. 西尾 満章, 田沼 繁夫. EPMAに夜薄膜の定量分析-モンテカルロ法と解析的方法の発生関数の比較-. 第72回分析化学論会. 2012
  12. 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫. 傾斜ホルダーを利用した極低角度入射ビームによるデルタドープ多層薄膜のオージェ深さ方向分析. 第72回分析化学討論会. 2012
  13. 田沼 繁夫, 篠塚 寛志, C.J. Powell, D.R. Penn. Database of electron stopping powers in elemental solids for surface analysis. AMDS 2012, The 3rd Asian Materials Data Symposium. 2012
  14. 田沼 繁夫. 精密3次元分析のための電子輸送シミュレータの開発をめざして- 最表面と表層の分析情報分離 -. X線光電子分光高精度定量化のための基礎物理. 2012
  15. 田沼 繁夫. 感度係数法による表面定量分析の現状と課題. 第38回表面分析研究会. 2012
  16. 田中 彰博, 木村 隆, 福島 整, 岩井 秀夫, 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. VAMAS-電子ビーム損傷ラウンドロビン試験報告. 表面分析研究会. 2012
  17. 後藤啓典, 井上雅彦, 田沼 繁夫, 山内幸彦. 走査型オージェ電子顕微鏡を使った2次電子利得の絶対計測；Au,Ag,Cu. 第38回表面分析研究会. 2012
2011
  1. 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫. 極低角度入射ビームを用いた極薄膜多層試料のオージェ深さ方向分析. 第３１回表面科学学術講演会. 2011
  2. 西尾 満章, 田沼 繁夫. EPMAによる薄膜の定量分析. 第31回表面科学学術講演会. 2011
  3. 篠塚 寛志, 田沼 繁夫, C.J. Powell, D.R. Penn. 10eV - 30 keVにおける固体中の電子阻止能の計算. 第31回表面科学学術講演会. 2011
  4. 田沼 繁夫. 研究・開発とＸ線分析. 第35回湘南ハイテクセミナー. 2011
  5. 田沼 繁夫, 永富隆清. 感度係数法による表面定量分析. マイクロビームアナリシス第141委員会第146回委員会. 2011
  6. 田沼 繁夫. 角度分解ー反射電子スペクトルを用いた誘電関数計測法の開発と応用. NIMS-AIST 計算・計測シミュレーション合同WS. 2011
  7. 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫. 極低角度入射ビームを用いた高感度，高分解能オージェ深さ方向分析による極薄膜多層試料の分析. 2011年度実用表面分析講演会. 2011
  8. 篠塚 寛志, 吉川 英樹, 田沼 繁夫. 固体中における電子の非弾性散乱に関するモデルエネルギー損失関数の評価. 2011年度　実用表面分析講演会. 2011
  9. 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫. 高傾斜試料ホルダーを用いた極低角度電子・イオン入射オージェ深さ方向分析. 日本分析化学会第60年会. 2011
  10. 吉川 英樹, 金 華, 田中 肇, 篠塚 寛志, 岩井 秀夫, 新井 正男, スベン　トゥガード, 田沼 繁夫. 反射電子エネルギー損失スペクトルの因子分析によるGaAsおよびGaSbの誘電関数. ECASIA2011. 2011
  11. 熊谷 和博, 田沼 繁夫, C. J. Powell. Analysis of the Energy Dependence of Electron Stopping Powers in Elemental Solids over the 50 eV to 30 keV Energy Range. ECASIA . 2011
  12. 篠塚 寛志, 吉川 英樹, 田沼 繁夫. Evaluation of model energy loss functions for electron inelastic scattering in solids. ECASIA. 2011
  13. 田中 彰博, 木村 隆, 福島 整, 岩井 秀夫, 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. SiO2/Si 試料の電子線損傷に関するVAMASラウンドロビン試験結果. ECASIA 2011. 2011
  14. 篠塚 寛志, 田沼 繁夫, C,J. Powell, D.R. Penn. Calculations of electron stopping powers for 41 elemental solids over the 50 eV to 30 keV range with the full Penn algorithm. ECAISA 11. 2011
  15. 依田貴稔, 木下健太郎, 岸田悟, 荻原 俊弥, 岩井 秀夫, 福島 整, 田沼 繁夫. 原子間力顕微鏡を用いたReRAM フィラメントの物性解析. 集積回路研究会. 2011
  16. 田中 肇, 篠塚 寛志, 岩井 秀夫, 吉川 英樹, 田沼 繁夫. 角度可変反射電子エネルギー損失スペクトルの因子分析を用いた解析　－Ⅲ族-Ⅴ族半導体(GaSb,GaP,GaN)におけるエネルギー損失関数－. 第36回表面分析研究会. 2011
2010
  1. 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫. 半球型電子分光器を搭載したオージェ電子分光装置を用いた分析. 秋田県産業技術総合研究センター高度技術研究所セミナー. 2010
  2. 谷舗浩紀, 永富隆清, 高井義造, 荻原 俊弥, 田沼 繁夫, K. J. Kim. 斜入射・検出法を用いたデルタドープ層の高感度AES及びXPSスパッタ深さ分析. 第30回表面科学学術講演会. 2010
  3. 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫. 傾斜ホルダーを用いた極低角度電子・イオン入射オージェ深さ方向分析. 第30回表面科学学術講演会. 2010
  4. 吉川 英樹, 金 華, 田中 肇, 篠塚 寛志, 岩井 秀夫, 新井 正男, 田沼 繁夫. 反射電子エネルギー損失分光スペクトル解析への因子分析の応用　-Si, SiO2, GaAsのエネルギー損失関数の導出. 第30回表面科学学術講演会・第51回真空に関する連合講演会. 2010
  5. 田沼 繁夫, 篠塚 寛志, C.J. Powell, D.R. Penn. 電子の非弾性平均自由行程および阻止能における 計算モデルの比較 . 第30回表面科学学術講演会. 2010
  6. 田沼 繁夫, C,J. Powell, D.R. Penn. Electron Inelastic Mean Free Paths for 41 Elemental Solids. PSA10 International symposium on practical surface analysis. 2010
  7. 荻原 俊弥, 永富隆清, K. J. Kim, 田沼 繁夫. 85度高傾斜ホルダーを利用した高分解能オージェ深さ方向分析. International Symposium on Practical Surface Analysis (PSA-10). 2010
  8. 谷舗浩紀, 荻原 俊弥, 永富隆清, 高井義造, K. J. Kim, 田沼 繁夫. 低角度入射および検出によるデルタドープ層の高感度深さ方向分析. International Symposium on Practical Surface Analysis (PSA-10). 2010
  9. 吉川 英樹, 金 華, 篠塚 寛志, 岩井 秀夫, 新井 正男, スベン　トガード, 田沼 繁夫. 反射電子エネルギー損失分光スペクトルの因子分析による幾つかの半導体におけるエネルギー損失関数および光学定数の導出. PSA10 International symposium on practical surface analysis. 2010
  10. 岩井 秀夫, 小畠 雅明, ピス イゴール, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, 山瑞拡路, 鈴木峰晴, 松田博之, 大門寛, 小林 啓介. 実験室系硬X線光電子分光装置の開発. PSA-10. 2010
  11. 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫. 半球型電子分光器を搭載したオージェ電子分光装置のジオメトリー特性と高傾斜ホルダーを利用した高分解能オージェ深さ方向分析Ⅱ. 日本分析化学会第59年会. 2010
  12. 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫. 半球型電子分光器を搭載したオージェ電子分光装置のジオメトリー特性と傾斜ホルダーを利用した超高深さ分解能オージェ深さ方向分析. 2010 JAIMAコンファレンス 実用的表面分析を目指した活動 −　Powel. 2010
  13. 岩井 秀夫, 小畠 雅明, ピス イゴール, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, 小林 啓介, 山瑞拡路, 高橋宏晃, 児玉稔, 田中彰博, 鈴木峰晴, 池永英司, 町田雅武, 松田博之, 大門寛. Development of Angle Resolved HXPS Instrument for Laboratory Use. 18th International Vacuum Congress (IVC-18) . 2010
  14. 田沼 繁夫, C.J. Powell, D.R. Penn. Calculations of electron inelastic mean free paths for 41 elemental solids over the 50 eV to 30 keV range. 18th International Vacuum Congress (IVC-18). 2010
  15. 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫. 傾斜ホルダーを用いた高分解能オージェ深さ方向分析. Microscopy and Microanalysis 2010. 2010
  16. 田沼 繁夫. AES,XPS分析における感度係数法による定量. 実用表面分析セミナー2010. 2010
  17. 田沼 繁夫. AES,XPS分析における感度係数法による定量. 実用表面分析セミナー2010. 2010
  18. 福島 整, 荻原 俊弥, 篠塚 寛志, 木村 隆, 田沼 繁夫. The Change of Al L2,3 at the Welding Interface between Al and Cu. VUVX2010. 2010
  19. 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫. Si/BNデルタドープSIMS標準試料のオージェ深さ方向分析. 第35回表面分析研究会. 2010
  20. 後藤啓典, 竹中貴久, 田沼 繁夫, 黒河　明, 山内幸彦. AESによる非破壊計測―Si/BN多層膜. 第35回表面分析研究会. 2010
  21. 田沼 繁夫. 標準物質と表面分析の標準化(1). 第35回表面分析研究会. 2010
  22. 雨倉 宏, 田中 雅彦, 吉川 英樹, 篠塚 寛志, 田沼 繁夫, 石川法人, 大沼 正人, 松下 能孝, 小林 啓介, 岸本 直樹. Surface plasmon resonance and interband transitions of metal nanoparticles: What are the "interband transitions"?. The intenational conference on NANOPHOTONICS 2010. 2010
  23. 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫. 半球型電子分光器を搭載したオージェ電子分光装置のジオメトリー特性と高傾斜ホルダーを利用した高分解能オージェ深さ方向分析. 第71回分析化学討論会. 2010
  24. 篠塚 寛志, 田沼 繁夫, 吉川 英樹, 藤川高志. Calculation of Emission Depth Distribution Functions for CuO and SiO2 by the Monte Carlo Simulation and the Quantum Mechanical Scattering Theory. Korean-Chinese-Japanese Cooperative Program. 2010
  25. 岩井 秀夫, 小畠 雅明, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, 小林 啓介, 山瑞拡路, 高橋宏晃, 児玉稔, 田中彰博, 鈴木峰晴, 池永英司, YANG Ke, 町田雅武, SON Jin-Young, 松田博之, 大門寛. Development of Angle Resolved HAXPES Instrument for Laboratory Use. The 1st meeting of Korean-Chinese-Japanese Cooperative Program. 2010
  26. 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫. 高傾斜ホルダーを用いた高分解能オージェ深さ方向分析. The 1st meeting of Korean-Chinese-Japanese Cooperative Program . 2010
  27. 田沼 繁夫. Current status of VAMAS activities in NIMS and the report of project A7 in TWA2. The 1st meeting of Korean-Chinese-Japanese Cooperative Program. 2010
  28. 鈴木峰晴, 福島 整, 田沼 繁夫. Report of Visual Peak Detection in XPS in VAMAS/TWA2/A9. The 1st meeting of Korean-Chinese-Japanese Cooperative Program. 2010
  29. 吉川 英樹, 金 華, 篠塚 寛志, 岩井 秀夫, 新井 正男, 田沼 繁夫, スベン　トガード. 光学定数およびIMFPを求めるための反射電子エネルギー損失スペクトルの因子分析. The 1st meeting of Korean-Chinese-Japanese Cooperative Program. 2010
  30. 吉川 英樹, 金 華, 篠塚 寛志, 岩井 秀夫, 田沼 繁夫. 反射電子エネルギー損失スペクトルにおける因子分析の基礎的扱い. 第34回表面分析研究会. 2010
  31. 田沼 繁夫, 永富隆清. AES- XPSにおけるバックグラウンドに関する研究. 第34回表面分析研究会. 2010
2009
  1. 吉川 英樹, VLAICU AurelMihai, 木村昌弘, 増原陽人, 田沼 繁夫, 中西八郎, 及川英俊. コア(銀)-シェル(ポリジアセチレン)構造を持つナノ粒子の硬X線光電子分光およびX線吸収スペクトル解析. 7th International Symposium on Atomic Level Characterizations fo. 2009
  2. 田沼 繁夫. X線分析と研究開発 . 第31回湘南ハイテクセミナー (第40回研修フォーラム) 「研究開発と分. 2009
  3. 永富隆清, 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. 深さ分析プロファイルの分解能、界面幅、界面位置はどうやって決めるのか？. PSA-09. 2009
  4. 吉川 英樹, 木村昌弘, 増原陽人, 田沼 繁夫, 中西八郎, 及川英俊. コアシェル構造を持つAg-ジアセチレン ナノ粒子の硬Ⅹ線光電子分光およびⅩ線吸収スペクトル解析. Symposium on Practical Surface Anlysis 2009 (PSA-09). 2009
  5. 篠塚 寛志, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, 藤川高志. モンテカルロ計算および量子力学的散乱理論によるCuOおよびSiO2の放出深さ分布関数の計算. PSA-09 . 2009
  6. 荻原 俊弥, 永富隆清, 田沼 繁夫. 半球型電子分光器を搭載したオージェ電子分光装置のジオメトリー特性と傾斜ホルダーを利用した超高深さ分解能オージェ深さ方向分析. PSA-09 　2009年度実用表面分析講演会. 2009
  7. 岩井 秀夫, 小畠 雅明, 山瑞拡路, 田中彰博, 鈴木峰晴, 池永英司, 松田博之, 大門寛, 田沼 繁夫, 小林 啓介. 実験室系硬X線光電子分光分析装置の開発. PSA-09. 2009
  8. 田沼 繁夫. 41元素固体における IMFPの計算. PSA-09. 2009
  9. 岩井 秀夫, 小畠 雅明, 山瑞拡路, 田中彰博, 鈴木峰晴, 池永英司, 松田博之, 大門寛, 田沼 繁夫, 小林 啓介. ラボ用高エネルギーXPSの開発. 第29回表面科学学術講演会. 2009
  10. 田沼 繁夫, 吉川 英樹, 後藤啓典. 弾性散乱ピーク強度比を用いた金属元素における 200 - 5000 eVのIMFPと SEPの同時推定. 第29回表面科学学術講演会. 2009
  11. 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. 高傾斜ホルダーを用いた極低角度電子・イオン入射オージェ深さ方向分析. 第29回表面科学学術講演会. 2009
  12. 永富隆清, 田沼 繁夫, 後藤啓典. Electron Inelastic Mean Free Path and Surface Excitation Parameter in 10 Elemental Solids Determined by Absolute REELS analysis over 300-3000 eV Range. ECASIA'09. 2009
  13. 篠塚 寛志, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, 藤川高志. Calculation of Emission Depth Distribution Functions for CuO and SiO2 by the Monte Carlo Simulation and the Quantum Mechanical Scattering Theory. ECASIA’09. 2009
  14. 田沼 繁夫, 吉川 英樹, 岡本 直樹, 後藤啓典. Estimation of Inelastic Mean Free Paths and Surface Excitation Parameters in Elemental Solids from Elastic Peak Intensity Ratios without Reference Material in the 200 - 5000 eV Energy Range. ECASIA'09. 2009
  15. 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. 試料冷却ステージを用いたInP/GaInAsP多層膜のオージェ深さ方向分析. ECASIA’09. 2009
  16. 岩井 秀夫, 小畠 雅明, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, 小林 啓介, 山瑞拡路, 高橋宏晃, 児玉稔, 田中彰博, 鈴木峰晴, 池永英司, YANG Ke, 町田雅武, SON Jin-Young, 松田博之, 大門寛. Development of HXPS Instrument Combined with Monochromatic Cr Kα Focused X-ray Source and Wide Acceptance Objective Lens for Spectrometer. ECASIA'09. 2009
  17. 田沼 繁夫. ISO TC201（表面化学分析）国際標準化の現状と展望. JSCA 表面化学分析国際標準化セミナー. 2009
  18. 吉川 英樹, 金 華, 岩井 秀夫, 田沼 繁夫. データ処理〜ファクターアナリシス（因子分析）の使い方. 第33回表面分析研究会. 2009
  19. 田沼 繁夫. IMFP（第２回）. 第33回表面分析研究会. 2009
  20. 田沼 繁夫, CJ Powell, DR Penn. Calculations of Electron Inelastic Mean Free Paths for 42 Elemental Solids over the 50 eV to 30 keV Range. International Workshop for New Opportunities in Hard X-ray PS. 2009
  21. 吉川 英樹, 田中 博美, 木村 昌弘, 荻原 俊弥, 木村 隆, 福島 整, 熊谷 和博, 田沼 繁夫, 鈴木 峰晴, 小林 啓介. SPring-8における角度分解＆エネルギー分解光電子分光による非対称パラメーターと表面励起パラメーターの定量評価. HAXPES09. 2009
  22. 田沼 繁夫, CJ Powell, DR Penn. The inelastic mean free path: theory, experiment, and applications. International Workshop for New Opportunities in Hard X-ray PS. 2009
  23. 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. 傾斜ホルダーを利用した極低角度イオン入射オージェ深さ方向分析. 第70回分析化学討論会. 2009
  24. TANUMA, Shigeo. An Improved Backscattering Correction Equation for Wide Analytical Conditions on Quantitative Auger Analysis. iSAS-09. 2009
  25. 田沼 繁夫. Electron Transport Simulatorの開発. NIMSナノ計測センター＆表面分析研究会合同シンポジウム. 2009
  26. 金 華, 吉川 英樹, 岩井 秀夫, 篠塚 寛志, 田沼 繁夫. Analysis of loss components for reflection electron energy loss spectra of Si. SASJ-ANCC/NIMS Joint Symposium. 2009
2008
  1. 田沼 繁夫. SiおよびSiO2表面における電子の非弾性散乱過程. 計測フロンティア研究部門 第15回公開セミナー. 2008
  2. 田沼 繁夫. Inelastic Mean Free Paths and Relative Sensitivity Factors for Quantitative Surface Analysis by electron spectroscopies. Current Status and Developent of Surface Characterization in Nan. 2008
  3. 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. 傾斜ホルダーを利用したオージェ電子分光法による角度分解計測および低角度イオン入射深さ方向分析の検討. 第２８回表面科学学術講演会. 2008
  4. 福島 整, 荻原 俊弥, 木村 隆, 田沼 繁夫. Li Kαへの化学状態の影響. 第28回表面科学学術講演会. 2008
  5. 金 華, 岩井 秀夫, 吉川 英樹, 田沼 繁夫. Analysis of angular and energy dependences of reflection energy loss spectra on several semiconductors. 5th International Symposium on Surface Science and Nanotechnolog. 2008
  6. 篠塚 寛志, 新井 正男, 吉川 英樹, 田沼 繁夫. Theoretical calculation of optical constants for several elemental solids. The 5th International Symposium on Surface Science and Nanotechn. 2008
  7. 田沼 繁夫. Electron scattering in surface electron spectroscopy. The 5th International Symposium on Surface Science and Nanotechn. 2008
  8. 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. 傾斜ホルダーを用いた高分解能オージェ深さ方向分析. 実用表面分析シンポジウム PSA-08. 2008
  9. 金 華, 岩井 秀夫, 吉川 英樹, 田沼 繁夫. Analysis of principal components for angular and energy dependences for reflection electron energy loss spectra of Si. 2008年度 実用表面分析講演会. 2008
  10. 岩井 秀夫, 小畠 雅明, 山瑞拡路, 田中彰博, 鈴木峰晴, 池永英司, 松田博之, 大門寛, 田沼 繁夫, 小林 啓介. 硬Ｘ線光電子分光のための単色化Cr Ka集束X線源の開発. 2008年度 実用表面分析講演会. 2008
  11. 福島 整, 荻原 俊弥, 木村 隆, 田沼 繁夫. クラスター計算によるLi Kαへの化学状態の影響の検討. Symposium on Practical Surface Analysis 2008. 2008
  12. 吉川 英樹, 田中 博美, 木村昌弘, 荻原 俊弥, 木村 隆, 福島 整, 岡本 直樹, 熊谷 和博, 田沼 繁夫, 鈴木峰晴, 奥井眞人, 小林 啓介. Ⅹ線光電子スペクトルにおける非対称パラメーターと表面励起効果の定量評価. Symposium on Practical Surface Analysis 2008. 2008
  13. 篠塚 寛志, 田沼 繁夫, 荒井礼子, 藤川高志. Quantum mechanical depth distribution function calculated by multiple scattering theory. 2008年度 実用表面分析講演会. 2008
  14. 田沼 繁夫. 電子分光入門．IMFPを測る. ２００８年度 実用表面分析講演会 . 2008
  15. 田沼 繁夫, 熊谷 和博, C.J. Powell. ANALYSIS OF ENERGY DEPEDENCE OF ELECTRON STOPPING POWERS IN ELEMENTAL SOLIDS OVER . 55th IUVSTA Workshop on Electron Transport Parameters Applied in. 2008
  16. 篠塚 寛志, 荒井礼子, 藤川高志, 田沼 繁夫. 量子力学的多重散乱理論による深さ分布関数の計算. 55th IUVSTA Workshop on Electron Transport Parameters Applied.... 2008
  17. 田沼 繁夫. ISO TC201（表面化学分析）国際標準化の現状と展望. 2008 表面化学分析国際標準化セミナー. 2008
  18. 福島 整, 荻原 俊弥, 木村 隆, 塚本一徳, 田澤豊彦, 田沼 繁夫. The intensity changes of ultra-soft X-ray spectra of several light element oxides. Microscopy & Microanalysis 2008 Meeting. 2008
  19. 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. LOGIT関数によるオージェデプスプロファイルの定量評価. Microscopy and Microanalysis 2008. 2008
  20. 田沼 繁夫. バックグラウンドプロジェクト：経過報告. 第32回表面分析研究会. 2008
  21. 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. 角度分解計測を利用した高精度オージェ深さ方向分析. 第69回分析化学討論会. 2008
  22. 吉川 英樹, 田中 博美, 木村昌弘, 荻原 俊弥, 木村 隆, 福島 整, 岡本 直樹, 熊谷 和博, 田沼 繁夫, 鈴木峰晴, 奥井 眞人, 小林 啓介. SPring-8における角度分解・エネルギー分解XPSによって求めた非対称パラメータと深さ分布関数. Maxp-Plank institute and NIMS workshop. 2008
  23. 田沼 繁夫. バックグラウンドプロジェクト：絶対オージェスペクトルの解析. 第31回表面分析研究会. 2008
  24. 東 義隆, 福島 整, 田沼 繁夫. 光電子スペクトルの時間空間におけるコンボリューション処理の検討. 第31回表面分析研究会. 2008
  25. 佐藤 秀勝, 岩井 秀夫, 福島 整, 木村 隆, 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. 電子線照射によるSiO2薄膜損傷の入射角依存性試験. 第31回表面分析研究会. 2008
  26. 田沼 繁夫. ISO/TC201表面化学分析およびTC202マイクロビーム分析の国際標準化の現状と展望. ナノテクノロジー国際標準化ワークショップ. 2008
2007
  1. 田沼 繁夫. X線分析と研究開発. 第27回湘南ハイテクセミナー「研究開発と分析技術」. 2007
  2. 福島 整, 木村 隆, 荻原 俊弥, 塚本一徳, 田澤豊彦, 田沼 繁夫. New-Model Electron Probe Ultra-Soft X-ray Microanalyzer. PSA-07. 2007
  3. 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. ロジスティック関数を用いたオージェデプスプロファイルの解析. 4th International Symposium on Practical Surface Analysis 2007. 2007
  4. 木村 隆, 青柳 岳史, 杉崎敬, 田沼 繁夫. The analysis of joining boundary between Ni-P electroless plate . PSA-07. 2007
  5. 吉川 英樹, 岡本 直樹, 福島 整, 田沼 繁夫. 多極子成分を考慮したシミュレーターで求めた電子発生深さ分布関数. International Symposium on Practical Surface Analysis (PSA-07). 2007
  6. 田沼 繁夫. Calculations of electron inelastic mean free paths in solids. 4th international symposium on practical surface analysis. 2007
  7. 岩井 秀夫, 鈴木峰晴, 田沼 繁夫. XPSにおける単色化AlKαX線の強度測定. 4th International Symposium on Pracatical Surface Analysis. 2007
  8. 磯崎 優子, 荻原 俊弥, 木村 隆, 田沼 繁夫. ナノ粒子の微細構造観察. PSA-07. 2007
  9. 東 義隆, 福島 整, 田沼 繁夫. THE STUDY OF CONVOLUTION PROCESS ON TIME DOMAIN FOR RESOLUTION ENHANCEMENT TECHNIQUE. PSA-07. 2007
  10. 佐藤 秀勝, 福島 整, 木村 隆, 田沼 繁夫. Incident angle dependence of electron beam damage of SiO2/Si in Auger Microprobe Analysis. 実用表面分析国際シンポジウムPSA-07. 2007
  11. 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫, 田澤豊彦, 塚本一徳. 電子線励起超軟X線分光分析装置の開発. 第27回表面科学講演大会. 2007
  12. 佐藤 秀勝, 福島 整, 木村 隆, 田沼 繁夫. 電子線照射によるSiO2薄膜損傷の入射角依存性. 第27回表面科学講演大会. 2007
  13. 田沼 繁夫, 熊谷 和博, C.J. Powell. Energy dependence of electron stopping powers in elemental solids over the 50 - 30,000 eV energy range. ALC'07. 2007
  14. 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫, 荻原 俊弥. フィールドエミッション電子銃波長分散型EPMAによる鉛フリーはんだ接合境界の微視的評価. 平成19年度　ＮＩＭＳナノ計測センター研究成果発表会. 2007
  15. 吉川 英樹, 荻原 俊弥, 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫. 角度分解光電子分光における光電子生成時の多極子成分の評価. NIMSナノ計測センター研究成果発表会. 2007
  16. 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫, 荻原 俊弥. 電子線励起超軟X線分光装置による状態分析の可能性. 平成19年度　ＮＩＭＳナノ計測センター研究成果発表会. 2007
  17. 木村 隆, 西田憲二, 田沼 繁夫, 山田浩之. フィールド・エミッション電子銃を搭載した波長分散型サブミクロンEPMAの開発. 日本金属学会2007年秋季大会. 2007
  18. 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. LOGIT関数を用いたオージェデプスプロファイルの解析. 日本分析化学会第５６年会. 2007
  19. 佐藤 秀勝, 福島 整, 田沼 繁夫. EVALUATION OF ELECTRON BEAM DAMAGE OF SIO2/SI IN AUGER MICROPROBE ANALYSIS : RESULTS OF A ROUND ROBIN TEST. ECASIA '07. 2007
  20. 熊谷 和博, 田沼 繁夫, C. J. Powell. ENERGY DEPENDENCE OF ELECTRON STOPPING POWERS OVER THE 50 - 30,000 EV ENERGY RANGE . ECASIA '07. 2007
  21. 田沼 繁夫, 吉川 英樹, 岡本 直樹, 後藤啓典. DETERMINATION OF ELECTRON INELASTIC MEAN FREE PATHS IN ELEMENTAL SOLIDS IN THE 100 TO 5000 EV BY ABSOLUTE ELASTIC-PEAK ELECTRON SPECTROSCOPY. ECASIA '07. 2007
  22. 東 義隆, 福島 整, 田沼 繁夫, 太田 悟志, 大橋 浩史, 栃尾達紀, 伊藤嘉昭. THE TRIAL STUDY OF REMOVAL TECHNIQUES OF THE EXCITATION SOURCE PROFILE FROM HIGH-ENERGY EXCITATION XPS SPECTRUM . ECASIA '07. 2007
  23. A.Jabloski, 田沼 繁夫, C.J. Powell. MODIFIED PREDICTIVE FORMULA FOR THE ELECTRON STOPPING POWER. ECASIA '07. 2007
  24. 吉川 英樹, 田中 博美, 木村昌弘, 荻原 俊弥, 木村 隆, 福島 整, 岡本 直樹, 田沼 繁夫, 鈴木峰晴, 小林 啓介. 高エネルギーＸ線励起の角度分解XPSで評価した非対称パラメータにおける多重極成分. ECASIA2007. 2007
  25. 田沼 繁夫, C. J. Powell, D.R. Penn. CALCULATIONS OF ELECTRON STOPPING POWERS FOR ELEMENTAL SOLIDS AND COMPOUNDS. ECASIA '07. 2007
  26. 田沼 繁夫. 電子分光法（XPS、AES）の国際標準化. 表面分析・微小領域分析における国際標準化の動向. 2007
  27. 田沼 繁夫. VAMAS TWA2 表面化学分析 の活動概要. VAMAS TWA-2（表面化学分析）公開討論会. 2007
  28. 福島 整, 荻原 俊弥, 木村 隆, 塚本一徳, 田澤豊彦, 田沼 繁夫. Theoretical Study about Si LII,III Spectra with The Cluster Calculation. Microscopy & Microanalysis 2007 Meeting. 2007
  29. 田沼 繁夫. AES, XPSにおける感度係数法による定量。定量性を高めるために. ISO規格を基礎とした表面分析の実際. 2007
  30. 木村 隆, 青柳 岳史, 田沼 繁夫. The analysis of joining boundary between Ni-P electroless plate and lead-free Solder by wavelength-dispersive EPMA equipped with a FE electron gun.. 17th International Vacuum Congress. 2007
  31. 木村昌弘, 田沼 繁夫, 福島 整. New Method for the Evaluation of the Distribution of Surface Incline. IVC-17/ICSS-13 and ICN+T2007. 2007
  32. 荻原 俊弥, 田沼 繁夫. LOGITによるオージェデプスプロファイルの解析. 17th International Vacuum Congress (IVC-17). 2007
  33. 熊谷 和博, 田沼 繁夫. 固体元素中における50 - 30,000eVのエネルギー範囲における電子阻のエネルギー依存性. 第30回表面分析研究会. 2007
  34. 田沼 繁夫, 熊谷 和博, C.J. Powell. A proposed formula for electron stopping powers over the 50 – 30,000 eV energy range. 29th Annual Symposium on Applied Surface Analysis. 2007
  35. 熊谷 和博, 田沼 繁夫, C.J. Powell. A proposed formula for electron stopping powers over the 50 - 30,000 eV energy range.. 29th Annual Symposium on Applied Surface Analysis. 2007
  36. 木村 隆, 青柳 岳史, 櫻谷 和之, 田沼 繁夫. The analysis of the segregation at the grain boundary of stainless steel SUS-316L with FE-WDS-EPMA. Europian Microbeam Analysis S2007 . 2007
  37. 福島 整, 木村 隆, 塚本一徳, 田澤豊彦, 田沼 繁夫. NEW-MODEL ULTRA-SOFT X-RAY SPECTROMETER FOR ELECTRON PROBE MICROANALYSIS . 10th European Workshop of European Microbeam Analysis Society. 2007
  38. 佐藤 秀勝, 福島 整, 木村 隆, 田沼 繁夫. EVALUATION OF ELECTRONE BEAM DAMAGE OF SiO2/Si IN AUGER MICROPROBE ANALYSIS . 10th European Workshop of European Microbeam Analysis Society. 2007
  39. 木村 隆, 田沼 繁夫, 福島 整, 荻原 俊弥, 中村拓, 永富隆清, 高井義造. SiO2の電子線照射損傷への表面炭素汚染の影響. 第54回応用物理学関係連合講演会. 2007
  40. 木村 隆, 荻原 俊弥, 福島 整, 田沼 繁夫. 超軟Ｘ線分光器によるAl-Li化合物の状態分析. 日本金属学会2007年春期大会. 2007
  41. 荻原 俊弥, 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫, 塚本一徳, 田澤豊彦. 電子線励起超軟X線分光分析装置によるLiの特性X線を用いた材料解析技術. FC EXPO 2007. 2007
  42. 及川英俊, 増原陽人, 吉川 英樹, 田沼 繁夫. 有機―金属複合ナノ結晶の構造解析とその光学特性. 「 連 携 ラ ボ 」 第1回公開シンポジウム. 2007
2006
  1. 田沼 繁夫, C.J. Powell, D.R.Penn. Calculations of electron inelastic mean free paths in 21 inorganic and 12 organic compounds over the 50 – 30,000 eV energy range. AVS 53rd International Symposium & EXPO. 2006
  2. 荻原 俊弥, 木村 隆, 田沼 繁夫, 福島 整. 電子線励起超軟X線分光装置を用いた 各種材料のX線スペクトル形状の観察. 第２６回表面科学講演大会. 2006
  3. 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫. 電子線励起超軟X線分光分析装置の開発. ナノ計測セミナー. 2006
  4. 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫. フィールドエミッション電子銃-波長分散型（FE-WDS-EPMA）による広領域のサブミクロン微細組織の評価. ナノ計測セミナー. 2006
  5. 田沼 繁夫. Calculations of electron inelastic mean free paths in 21 inorganic and 12 organic compounds over the 50 – 30,000 eV energy range. 2006年度実用表面分析講演会 PSA-06. 2006
  6. 荻原 俊弥, 木村 隆, 田沼 繁夫, 福島 整. 電子線励起超軟X線分光装置による軽元素および実用材料の分析. 2006年度実用表面分析講演会Practical Surface Analysis 2006. 2006
  7. 熊谷 和博, 田沼 繁夫. 電子阻止能におけるエネルギー依存性の検討. 実用表面分析講演会. 2006
  8. 田沼 繁夫, 東 義隆, 吉川 英樹, 木村 隆, 後藤敬典. DETERMINATION OF ELECTRON INELASTIC MEAN FREE PATHS IN ELEMENTAL SOLIDS IN THE 200 TO 5000 EV ENERGY RANGE . 11th Joint Vacuum Conference. 2006
  9. 荻原 俊弥, 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫. 電子線励起超軟X線分光装置を用いた X線スペクトル形状の観察２. 日本分析化学会第５５年会. 2006
  10. 吉川 英樹, 及川英俊, Mihai M. Vlaicu, 木村昌弘, 田沼 繁夫, 増原陽人, 笠井均, 中西八郎. 銀－ジアセチレン・ナノ粒子におけるプラズモンの消失の高エネルギーXPS解析. International Workshop on Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy. 2006
  11. 木村 隆, 荻原 俊弥, 福島 整, 田沼 繁夫. 超軟Ｘ線分光器によるAl-L特性線を用いた状態分析. 日本金属学会2006年秋季大会. 2006
  12. 田沼 繁夫, C.J. Powell, D.R. Penn. Calculations of electron inelastic mean free paths in inorganic and organic compounds over the 50 – 30,000 eV energy range. Modeling and Data for Electron Spectroscopies : Standardization . 2006
  13. 吉川 英樹, 田中 博美, 木村昌弘, 荻原 俊弥, 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫, 鈴木峰晴. 高エネルギー放射光を用いた1s光電子の角度およびエネルギー依存XPS解析. Workshop of Modeling and Data for Electron Spectroscopies. 2006
  14. 田沼 繁夫. 電子分光法（XPS、AES）の国際標準化. 表面分析国際標準化セミナー　表面分析・微少領域分析における国差標. 2006
  15. 田沼 繁夫. TWA2 表面分析化学　2005年度のプロジェクトの概要と進捗. VAMAS国際標準化の最近の話題　ー計測技術. 2006
  16. 福島 整, 荻原 俊弥, 木村 隆, 塚本一徳, 田澤豊彦, 田沼 繁夫. Development of Ultra-Soft X-ray Spectrometer for Electron Probe Microanalysis . Microscopy & Microanalysis 2006. 2006
  17. 荻原 俊弥, 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫. 超軟X線分光装置によるLi Kαスペクトル分析. Microscopy and Microanalysis 2006. 2006
  18. KIMURA, Takashi, OGIWARA, Toshiya, FUKUSHIMA, Sei, TANUMA, Shigeo. The application of micro are analysis of Al-Cu junction by wavelength-dipersive EPMA equipped with a FE electron gun.. Microscopy and Microanalysis 2006. 2006
  19. 田沼 繁夫. AES, XPSにおける感度係数法による定量　-定量性を高めるために-. 実用表面分析セミナー. 2006
  20. 田沼 繁夫. XPSによる薄膜試料測定の標準化に関する調査. 第２８回表面分析研究会. 2006
  21. 木村 隆, 荻原 俊弥, 福島 整, 田沼 繁夫. 超軟X線分光による化学状態分析の可能性. 第28回表面分析研究会. 2006
  22. 福島 整, 荻原 俊弥, 木村 隆, 田沼 繁夫, 塚本一徳, 田澤豊彦. 電子線励起超軟X線分光分析装置による超軟X線スペクトルの観察. 第28回表面分析研究会. 2006
  23. 荻原 俊弥, 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫. 電子線励起超軟X線分光装置を用いたX線スペクトル形状の観察. 日本分析化学会第67回分析化学討論会. 2006
  24. 田沼 繁夫, A.Jablsinksi, CJ Powell. 広エネルギー範囲における電子阻止能の一般式の提案. 日本分析化学会第67回　分析化学討論会. 2006
  25. A. Jablonski, 田沼 繁夫, CJ Powell. A predictive formula for the electron stopping power. SCANNING 2006. 2006
  26. 田沼 繁夫, C.J. Powell, DR. Penn. Calculations of electron stopping powers for elemental solids and compounds. SCANNING 2006. 2006
  27. 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫, 田澤豊彦, 塚本一徳. 超軟X線分光器によるLi-K特性線の検出. 日本金属学会2006年春季大会. 2006
  28. 田沼 繁夫, C.J. Powell, D.R. Penn. Calculations of electron inelastic mean free paths in organic compounds and elemental solids over the 50 - 30,000 eV energy range. International Symposium on Frontiers in Organic Photonics. 2006
  29. 田沼 繁夫. 絶対オージェスペクトルから何が見えるか？. 第27回表面分析研究会. 2006
  30. 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫, 田澤豊彦, 塚本一徳. グレーティング素子を応用した超軟X線分光分析装置の開発. マイクロビームアナリシス第141委員会第123回講演会. 2006
2005
  1. 田沼 繁夫. 研究開発とX線分析. 第２３回湘南ハイテクセミナー. 2005
  2. 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫, 塚本一徳, 田澤豊彦. 電子線励起超軟X線分光分析装置の開発. 第25回表面科学講演大会. 2005
  3. 田沼 繁夫, C.J. Powell, D.R. Penn. Calculations of electron inelastic mean free paths in elemental solids and organic compounds over the 50 - 30,000 eV energy rang. International Symposium on Surface Science and Nanotechnology . 2005
  4. 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫, 塚本一徳, 田澤豊彦. ポリキャピラリーとグレーティング素子を用いた超軟Ｘ線分光器の開発. 2005年実用分析講演会. 2005
  5. 福島 整, 堀田 卓秀, 木村 隆, 田沼 繁夫, 鈴木昇. Siウェハーの初期酸化に関する観察. ２００５年度 実用表面分析講演会. 2005
  6. 鈴木峰晴, 田沼 繁夫, 木村 隆. XPSスペクトルの自動検出方法の検討. 2005年度実用表面分析講演会. 2005
  7. 田沼 繁夫, C.J. Powell, D.R. Penn. Calculations of electron inelastic mean free paths in 41 elemental solids over the 50 - 30,000 eV energy range. 11th European Conference on Applications of Surface and Interfac. 2005
  8. A. Jablonski, 田沼 繁夫, C.J. Powell. New Universal Expressions for the Stopping Power over a Wide Energy Range. 11th European Conference on Applications of Surface and Interfac. 2005
  9. M. Arai, 田沼 繁夫, 木村 隆. Electron irradiation damage on aluminum oxide formed on galvanized steel sheet and its quantitative evaluation with low energy A. 11th European Conference on Applications of Surface and Interfac. 2005
  10. 木村 隆, 櫻谷 和之, 青柳 岳史, 田沼 繁夫. FE-EPMAによるSUS316Lの結晶粒界評価. 日本金属学会2005年度秋季大会. 2005
  11. 田沼 繁夫, C.J. Powell, D.R. Penn. Calculations of stopping powers of 100 eV to 30 keV electrons in ten elemental solids. 11th European Conference on Applications of Surface and Interfac. 2005
  12. 鈴木峰晴, 田沼 繁夫, 木村 隆, 木村 昌弘, VLAICU AurelMihai, A. Tanaka, 吉川 英樹, 福島 整. Inner shell photoemission spectra measured using high-energy photons from. 11th European Conference on Applications of Surface and Interfac. 2005
  13. 田沼 繁夫. 電子分光法（XPS、AES）の国際標準化. 表面化学分析国際標準化セミナー. 2005
  14. 小島勇夫, 田沼 繁夫. イオン銃調整の最適化. JAIMAコンファレンス. 2005
  15. 鈴木峰晴, 福島 整, 田沼 繁夫. XPSピーク自動検出法の評価. JAIMAコンファレンス. 2005
  16. 田沼 繁夫. VAMAS　TWA2表面化学分析　活動の経緯. JAIMAコンファレンス. 2005
  17. 田沼 繁夫. 10種類の元素固体中の100eV ー30keV範囲における電子阻止能の計算. 表面分析研究会　第26回研究会. 2005
  18. 及川 英俊, VLAICU AurelMihai, 木村 昌弘, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, 増原陽人, 笠井均, 中西八郎. Optoelectronic Interfacial Interaction in Metal-Polydiacetylene Hybridized Nanocrystals:2. 8th International Conference on Organic Nonlinear Optics (ICONO'. 2005
  19. 田沼 繁夫. VAMASとISO-SASJとの関係について. 第25回表面分析研究会　ーVAMAS, ISOから標準化へ　今後の展望　ー. 2005
  20. 田沼 繁夫. AES（オージェ電子分光法）関連国際標準化. ISO TC201, TC201に係わる標準化の動向 - ナノテクノロジーに向けた. 2005
  21. 吉川 英樹, 及川 英俊, VLAICU AurelMihai, 木村昌弘, 福島 整, 田沼 繁夫, 増原陽人, 笠井均, 中西八郎. 高エネルギーXPSを用いた銀-ポリジアセチレンハイブリッドナノ結晶の電子構造解析. 第18回日本放射光学会. 2005
2004
  1. 田沼 繁夫, 木村 隆, 橋本哲, 井上雅彦, 鈴木峰晴. Round robin study of evaluation of electron beam damage of SiO2/Si in Auger microprobe analysis. AVS 51st International Symposium. 2004
  2. 荒井正浩, 浜中真人, 速水弘子, 木村 隆, 西田 憲二, 田沼 繁夫. 溶融亜鉛メッキ被膜表面に生成した薄膜アルミニウム酸化層の電子線照射損傷挙動とその定量評価. 第24回表面科学講演大会. 2004
  3. 田沼 繁夫. Experimental Determination of Electron Inelastic Mean Free Paths in Fourteen Elemental Solids in the 50 eV to 5,000 eV Energy Ra. Workshop on Modeling Electron Transport for Applications in Elec. 2004
  4. 田沼 繁夫, C. J. Powell, D.R. Penn. Calculations of Inelastic Mean Free Paths and Stopping Powers of 50 eV to 30 keV Electrons in Solids. Workshop on Modeling Electron Transport for Applications in Elec. 2004
  5. 鈴木峰晴, 田沼 繁夫, 吉川 英樹, 福島 整. Observation of a Large Surface Excitation Effect from Silicon and Silicon Dioxide with X-ray Photoelectron Spectroscopy using Sy. Workshop on Modeling Electron Transport for Applications in Elec. 2004
  6. 木村 隆, 西田 憲二, 田沼 繁夫, 山田浩之. FE電子銃搭載した波長分散型EPMA（FE-EPMA）によるサブミクロン分析. 第40回X線分析討論会. 2004
  7. 及川 英俊, VLAICU AUREL MIHAI, 木村 昌弘, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, 増原陽人, 笠井均, 中西八郎. 銀ーポリジアセチレンハイブリッドナノ結晶の界面電子構造と光学特性. JST CREST　第5回「分子複合系の構築と機能」公開シンポジウム. 2004
  8. 田沼 繁夫, 木村 隆, 塚本 よし子, 伊藤沙希. A Round Robin Study of Quantitative Evaluation of Electron Beam Damage on SiO2 Specimen in AES analysis. 3rd International Symposium on Practical Surface Analysis, PSA-0. 2004
  9. NISHIDA, KENJI, KIMURA, Takashi, FUKUSHIMA, Sei, TANUMA, Shigeo. Application of ZAF correction to the low energy electron probe microanalysis. 3rd International Symposium on Practical Surface Analysis (PSA-0. 2004
  10. 木村 隆, 西田 憲二, 田沼 繁夫. Optimum condition for minute region analysis in FE-EPMA. 3rd International Symposium on Practical Surface Analysis (PSA-0. 2004
  11. 粟根 徹, 木村 隆, 西田 憲二, 青柳 岳史, 田沼 繁夫. Removal of X-ray Absorbers on an Etched Surface of Metallic Materials with Focused Ion Beam for Grazing Exit Electron Probe Micr. 3rd International Symposium on Practical Surface Analysis, PSA-0. 2004
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  20. 及川 英俊, 増原陽人, 田沼 繁夫, 笠井均, 中西八郎. Optoelectronic Interfacial Interaction in Metal-Polydiacetylene Hybridized Nanocrystals. International Symposium on Polymer Physics, PP2004. 2004
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  22. 西田 憲二, 木村 隆, 苅谷 義治, 田沼 繁夫, 寺嶋晋一, 田中將元. Sn-Ag鉛フリーはんだとNi-Pメッキ接合界面におよぼすAg濃度の影響. 日本金属学会2004年春期講演大会. 2004
  23. 田沼 繁夫. AES、XPSによる定量分析の国際標準化. 第51回応用物理学関係連合講演会シンポジウム. 2004
  24. 及川 英俊, 田沼 繁夫. XPS法によるハイブリッドナノ結晶の界面構造解析. JST、CREST　「有機ナノ結晶の作製・物性評価と多元ナノ構造への展開. 2004
  25. 田沼 繁夫. 表面電子励起効果に関する研究の現状. 第23回表面分析研究会. 2004
  26. 田沼 繁夫. XPSおよびAESによる表面定量分析法. 実用表面分析セミナー　VAMAS,ISOを基礎とした表面分析の実際. 2004

その他の文献 TSV

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  1. 田沼 繁夫. 表面分析の実際の現場では. 表面科学. 37 [4] (2016) 149 10.1380/jsssj.37.149
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2014
  1. 田沼 繁夫. 第III章　資料編. マイクロビームアナリシス・ハンドブック. (2014) 656-657
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  1. 田沼 繁夫, 福島 整, 竹口 雅樹, 坂田 修身, 熊倉 浩明, 花方 信孝, 箕輪 貴司. 物質・材料研究機構中核機能部門における計測・分析・解析技術. 工業材料. 60 [8] (2012) 18-23
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  1. 田沼 繁夫. 用語辞典/分担執筆. 分析化学用語辞典. (2011) (全)1-(全)465
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  3. 荻原 俊弥, 木村 隆, 福島 整, 田沼 繁夫. 電子線励起超軟X線分光装置によるLi-Kα、Al-Lα特性X線を用いた材料解析技術. 2007 JEOL EPMA・表面分析ユーザーズミーティング（名古屋）. (2007) 1-22
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公開特許出願 TSV

  1. 顕微分光データ測定装置および方法 (2017)
  2. エネルギー分析器の軸合わせ方法及び装置 (2012)

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