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永野 聖子 (NAGANO, Shoko)

退職
2022年3月退職

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論文 TSV

2023
  1. Makoto Sakurai, Shoko Nagano, Christian Joachim. Direct milling of 25 nm in diameter gold and graphene nanogears by a focused He+ ion beam. Vacuum. 207 (2023) 111605 10.1016/j.vacuum.2022.111605
2021
  1. 大西 桂子, 永野 聖子, 藤田 大介, 矢ヶ部 太郎, 板倉 明子. ヘリウムイオン顕微鏡による表面化学分析用標準試料の経年変化の解析. 表面と真空. 64 [9] (2021) 424-429 10.1380/vss.64.424 Open Access
2020
  1. Makoto Sakurai, Shoko Nagano, Christian Joachim. Local heat generated by a focused He+ ion beam. Nanotechnology. 31 [34] (2020) 345708 10.1088/1361-6528/ab91f3
2018
  1. Chikako Sakai, Nobuyuki Ishida, Shoko Nagano, Keiko Onishi, Daisuke Fujita. In situ voltage-application system for active voltage contrast imaging in helium ion microscope. Journal of Vacuum Science & Technology B. 36 [4] (2018) 042903 10.1116/1.5031086
2016
  1. C. Sakai, N. Ishida, H. Masuda, S. Nagano, M. Kitahara, Y. Ogata, D. Fujita. Active voltage contrast imaging of cross-sectional surface of multilayer ceramic capacitor using helium ion microscopy. Applied Physics Letters. 109 [5] (2016) 051603 10.1063/1.4960524
2014
  1. Astari Dwiranti, Tohru Hamano, Hideaki Takata, Shoko Nagano, Hongxuan Guo, Keiko Onishi, Toshiyuki Wako, Susumu Uchiyama, Kiichi Fukui. The Effect of Magnesium Ions on Chromosome Structure as Observed by Helium Ion Microscopy. Microscopy and Microanalysis. 20 [01] (2014) 184-188 10.1017/s1431927613013792

書籍 TSV

会議録 TSV

口頭発表 TSV

2023
  1. SAKURAI, Makoto, NAGANO, Shoko, JOACHIM, Christian. Direct milling of nanoscale building blocks for molecular machinery by a focused He+ ion beam. 11-th International Conference on Materials for Advanced Technologies (ICMAT) 2023. 2023
  2. 大西 桂子, 永野 聖子, 藤田 大介, 矢ヶ部 太郎, 板倉 明子. ヘリウムイオン顕微鏡の像コントラストの検討. NanospecFY2022mini. 2023
2022
  1. ONISHI, Keiko, NAGANO, Shoko, FUJITA, Daisuke, YAKABE, Taro, ITAKURA, Akiko. Molecular Structure of Sputtered Neutral Species with Cluster Ion. 14th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '22. 2022
  2. 櫻井 亮, 永野 聖子, ヨアヒム クリスチャン. 集束Heイオンビームによって生まれる局所熱. 日本物理学会 第77回年次大会(2022年). 2022
2021
  1. 千原緋菜, 関 禎子, 永野 聖子, 山崎 智彦, 玉田靖. 処理条件によるシルクフィブロイン基材表面での細胞移動性の変化. 2021年 繊維学会秋季研究発表会. 2021
  2. 関 禎子, 永野 聖子, 大西 桂子, 後藤光昭, 赤池敏宏. 生体適合性を有する糖鎖高分子の 液中での形状・物性のAFMによるナノスケール解析. 第82回応用物理学会秋季学術講演会. 2021
  3. ヨアヒム クリスチャン, We-Hyo Soe, NAGANO, Shoko, SAKURAI, Makoto. Nanoscale Mechanics: from a Single Molecule-Gear to a Solid State Nanogear. MANA International Symposium 2021. 2021 招待講演
2020
  1. 大西 桂子, 永野 聖子, 藤田 大介, 矢ヶ部 太郎, 板倉 明子. ヘリウムイオン顕微鏡による表面化学分析用標準試料の経年劣化の解析. 2020年日本表面真空学会学術講演会. 2020
  2. SAKURAI, Makoto, NAGANO, Shoko, ONISHI, Keiko, ヨアヒム クリスチャン. Nanofabrication of gold nanogears using focused He+ beam on a sapphire surface. The 13th MANA International Symposium 2020 jointly with ICYS. 2020
2019
  1. 永野 聖子, 大西 桂子, ヘリウムイオン顕微鏡像の走査電子顕微鏡像との比較. 2019年表面真空学会学術講演会. 2019
2018
  1. SAKAI, Chikako, ISHIDA, Nobuyuki, NAGANO, Shoko, ONISHI, Keiko, FUJITA, Daisuke. In situ Voltage-Application System for Observation of Electrical Potential Distribution in Helium Ion Microscope. ACSIN-14. 2018
2017
  1. SAKAI, Chikako, ISHIDA, Nobuyuki, NAGANO, Shoko, ONISHI, Keiko, FUJITA, Daisuke. New Electrical Potential Observation Technique by Active Voltage Contrast Imaging using Helium Ion Microscopy. 第18回「イオンビームによる表面・界面解析」特別研究会. 2017
  2. SAKAI, Chikako, ISHIDA, Nobuyuki, NAGANO, Shoko, ONISHI, Keiko, FUJITA, Daisuke. Electrical Potential Imaging of Multilayer Ceramic Capacitors with Arbitrary Applied Voltages using Helium Ion Microscope. The 8th International Symposium on Surface Science (ISSS-8). 2017
  3. 酒井 智香子, 石田 暢之, 永野 聖子, 大西 桂子, 藤田 大介. ヘリウムイオン顕微鏡装置への電圧印加機構の導入と印加電圧値を変化させた積層型セラミックコンデンサの二次電子像観察. 2017年真空・表面科学合同講演会. 2017
  4. SAKAI, Chikako, ISHIDA, Nobuyuki, NAGANO, Shoko, ONISHI, Keiko, FUJITA, Daisuke. Electrical potential distribution of Multilayer Ceramic Capacitors with Arbitrary Applied Voltages using Helium Ion Microscope. 15th GREEN Symposium. 2017
  5. SAKAI, Chikako, ISHIDA, Nobuyuki, NAGANO, Shoko, ONISHI, Keiko, FUJITA, Daisuke. Secondary Electron Imaging for Multilayer Ceramic Capacitors with Applied Several Voltages using Helium Ion Microscope. Recent Progress on Interfacial Energy Conversion. 2017
  6. 酒井 智香子, 石田 暢之, 永野 聖子, 大西 桂子, 藤田 大介. 印加電圧を変化させた積層型セラミックコンデンサ断面のヘリウムイオン顕微鏡を用いた二次電子像観察. 日本表面科学会　第2回関東支部講演大会. 2017
  7. 酒井 智香子, 石田 暢之, 永野 聖子, 小形曜一郎, 藤田 大介. 電圧印加値を変化させた積層型セラミックコンデンサのヘリウムイオン顕微鏡を用いた二次電子像観察. 第64回応用物理学会春季学術講演会. 2017
  8. 酒井 智香子, 石田 暢之, 永野 聖子, 小形曜一郎, 藤田 大介. 電圧印加機構のヘリウムイオン顕微鏡への導入と電圧印加積層型セラミックコンデンサの二次電子像観測. 共用・計測　合同シンポジウム 2017. 2017
2016
  1. 大西 桂子, 永野 聖子, 藤田 大介. ヘリウムイオン顕微鏡による構造色発現の解析. 第4回メゾスコピック研究会. 2016 招待講演
  2. SAKAI, Chikako, ISHIDA, Nobuyuki, MASUDA, Hideki, NAGANO, Shoko, KITAHARA, Masayo, OGATA Yoichiro, FUJITA, Daisuke. Active Voltage Contrast Imaging of Multilayer Ceramic Capacitor using Helium Ion Microscopy. NIMS WEEK 2016. 2016
  3. 酒井 智香子, 石田 暢之, 増田 秀樹, 永野 聖子, 北原 昌代, 小形　曜一郎, 藤田 大介. ヘリウムイオン顕微鏡を用いたアクティブ電圧コントラストの影響を反映した二次電子像の研究. 日本表面科学会関東支部 第4回関東支部セミナー. 2016
2015
  1. 大西 桂子, 酒井 智香子, 永野 聖子, 藤田 大介. ヘリウムイオン顕微鏡による加熱中その場観察. 2015年真空・表面科学合同講演会. 2015
  2. 永野 聖子, 大西 桂子, 酒井 智香子, 藤田 大介. ヘリウムイオン顕微鏡による加工と観察の紹介. 共用・計測合同シンポジウム2015. 2015
2013
  1. 大西 桂子, グオ ホングゥアン, 永野 聖子, 藤田 大介. 走査型ヘリウムイオン顕微鏡による絶縁体微細構造解析. 第22回インテリジェント材料／システム シンポジウム. 2013
2012
  1. 大西 桂子, グオ ホングゥアン, 永野 聖子, 藤田 大介. NIMS走査型ヘリウムイオン顕微鏡の紹介. NIMS微細構造解析プラットフォーム第1回地域セミナー. 2012 招待講演
  2. 大西 桂子, グオ ホングゥアン, 永野 聖子, 藤田 大介. 走査型ヘリウムイオン顕微鏡による微細構造解析. 第53回真空に関する連合講演会. 2012

その他の文献 TSV

公開特許出願 TSV

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