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書籍 TSV

会議録 TSV

口頭発表 TSV

2021
  1. 千原緋菜, 関 禎子, 永野 聖子, 山崎 智彦, 玉田靖. 処理条件によるシルクフィブロイン基材表面での細胞移動性の変化. 2021年 繊維学会秋季研究発表会. 2021
2017
  1. SAKAI, Chikako, ISHIDA, Nobuyuki, NAGANO, Shoko, ONISHI, Keiko, FUJITA, Daisuke. New Electrical Potential Observation Technique by Active Voltage Contrast Imaging using Helium Ion Microscopy. 第18回「イオンビームによる表面・界面解析」特別研究会. 2017
  2. SAKAI, Chikako, ISHIDA, Nobuyuki, NAGANO, Shoko, ONISHI, Keiko, FUJITA, Daisuke. Electrical Potential Imaging of Multilayer Ceramic Capacitors with Arbitrary Applied Voltages using Helium Ion Microscope. The 8th International Symposium on Surface Science (ISSS-8). 2017
  3. SAKAI, Chikako, ISHIDA, Nobuyuki, NAGANO, Shoko, ONISHI, Keiko, FUJITA, Daisuke. ヘリウムイオン顕微鏡装置への電圧印加機構の導入と印加電圧値を変化させた積層型セラミックコンデンサの二次電子像観察. 2017年真空・表面科学合同講演会. 2017
  4. SAKAI, Chikako, ISHIDA, Nobuyuki, NAGANO, Shoko, ONISHI, Keiko, FUJITA, Daisuke. Electrical potential distribution of Multilayer Ceramic Capacitors with Arbitrary Applied Voltages using Helium Ion Microscope. 15th GREEN Symposium. 2017
  5. SAKAI, Chikako, ISHIDA, Nobuyuki, NAGANO, Shoko, ONISHI, Keiko, FUJITA, Daisuke. Secondary Electron Imaging for Multilayer Ceramic Capacitors with Applied Several Voltages using Helium Ion Microscope. Recent Progress on Interfacial Energy Conversion. 2017
  6. SAKAI, Chikako, ISHIDA, Nobuyuki, NAGANO, Shoko, ONISHI, Keiko, FUJITA, Daisuke. 印加電圧を変化させた積層型セラミックコンデンサ断面のヘリウムイオン顕微鏡を用いた二次電子像観察. 日本表面科学会 第2回関東支部講演大会. 2017
  7. SAKAI, Chikako, ISHIDA, Nobuyuki, NAGANO, Shoko, OGATA Yoichiro, FUJITA, Daisuke. 電圧印加値を変化させた積層型セラミックコンデンサのヘリウムイオン顕微鏡を用いた二次電子像観察. 第64回応用物理学会春季学術講演会. 2017
  8. SAKAI, Chikako, ISHIDA, Nobuyuki, NAGANO, Shoko, OGATA Yoichiro, FUJITA, Daisuke. 電圧印加機構のヘリウムイオン顕微鏡への導入と電圧印加積層型セラミックコンデンサの二次電子像観測. 共用・計測 合同シンポジウム 2017. 2017
2013
  1. ONISHI, Keiko, GUO, Hongxuan, NAGANO, Shoko, FUJITA, Daisuke. 走査型ヘリウムイオン顕微鏡による絶縁体微細構造解析. 第22回インテリジェント材料/システム シンポジウム. 2013
2012
  1. ONISHI, Keiko, GUO, Hongxuan, NAGANO, Shoko, FUJITA, Daisuke. NIMS走査型ヘリウムイオン顕微鏡の紹介. NIMS微細構造解析プラットフォーム第1回地域セミナー. 2012
  2. ONISHI, Keiko, GUO, Hongxuan, NAGANO, Shoko, FUJITA, Daisuke. 走査型ヘリウムイオン顕微鏡による微細構造解析. 第53回真空に関する連合講演会. 2012

その他の文献 TSV

特許 TSV

登録特許
    公開特許出願
      外国特許

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