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patent	WO2022070661, US20230333032	水素透過検出用試料ホルダー及び水素透過拡散経路観測装置	2023	2024-04-20 05:14:08 +0900
patent	CNN115210844, EP4092713	観測対象ガスの透過拡散経路観測装置及び観測対象ガスの計測方法、点欠陥位置検出装置及び点欠陥位置検出方法、並びに観測用の試料	2022	2024-04-20 05:14:08 +0900
patent	EP3936852, US20220057372, WO2020179400, 3936852	水素センサー及び水素検出方法	2022	2024-04-20 05:14:08 +0900
patent	2022018023	水素透過検出のための試料及びその製造方法	2022	2024-04-20 05:14:08 +0900
patent	2022020448	水素透過検出のための試料及びその製造方法	2022	2024-04-20 05:14:08 +0900
patent	2021196281	試料接合体、観測対象ガスの観測装置及び観測対象イオンの観測方法	2021	2024-04-20 05:14:08 +0900
patent	WO2021251026	観測対象ガスの観測装置及び観測対象イオンの観測方法並びに試料ホルダ	2021	2024-04-20 05:14:08 +0900
patent	2019035613	膜型表面応力センサーを用いた水素センサー及び水素検出方法	2019	2024-04-20 05:14:08 +0900
patent	2019145255	イオンの測定装置及びそれを用いた点欠陥の位置検出方法	2019	2024-04-20 05:14:08 +0900
patent	2017187457	水素透過拡散経路観測装置及びそれを用いて試料を透過する水素イオンを計測する方法	2017	2024-04-20 05:14:08 +0900
patent	2008216021	薄膜のヤング率相当の機械特性の測定方法とそれに用いる装置	2008	2024-04-20 05:14:08 +0900
patent	2006284343	高分子膜の体積膨張に伴うストレス変化を利用した湿度センサー	2006	2024-04-20 05:14:08 +0900
patent	US 2005010968 A1, USO 2005010968 A1	二次元パターニング方法ならびにそれを用いた電子デバイスおよび磁気デバイスの作成方法	2005	2024-04-20 05:14:08 +0900
patent	2005051081	二次元パターニング方法ならびにそれを用いた電子デバイスの作製方法	2005	2024-04-20 05:14:08 +0900
patent	2004315854	ソーラーパネルとその製造方法	2004	2024-04-20 05:14:08 +0900
patent	2003334489	自己組織単分子膜をからなるステンシルマスクおよびステンシルマスクを用いる微細加工方法	2003	2024-04-20 05:14:08 +0900
patent	2003209107	酸化膜ストレス緩和方法及びその方法を用いた酸化膜構成体	2003	2024-04-20 05:14:08 +0900
patent	2002286436	表面欠陥検出方法およびその装置	2002	2024-04-20 05:14:08 +0900
patent	2002164301	欠陥表面応力の緩和方法	2002	2024-04-20 05:14:08 +0900