HOME > Profile > ISHIOKA, Kunie
- Address
- 305-0047 1-2-1 Sengen Tsukuba Ibaraki JAPAN [Access]
Research
- Keywords
光物性、超高速分光、格子振動
PublicationsNIMS affiliated publications since 2004.
Research papers
- KITAJIMA, Masahiro, ISHIOKA, Kunie, 中村一隆, 深田直樹, 村上浩一. Hydrogen Molecules in Crystalline Silicon. Mater.Sci.Forum. (1997) 203-210
- ISHIOKA, Kunie, 中村一隆, KITAJIMA, Masahiro, 村上浩一. Raman Spectroscopic Syudy on Hydrogen Mulecules in Crystalline Silicon Treated with Atomic Hydrogen. Applied Surface Science. (1997) 37-41
- 長谷宗明, ISHIOKA, Kunie, KITAJIMA, Masahiro, 丑田公規. Dephasing of coherent phonons by lattice defects in bismuth films. Applied Physics Letters(APL). (2000)
Proceedings
- FUKATA, Naoki, S. Sato, S. Fukuda, ISHIOKA, Kunie, KITAJIMA, Masahiro, HISHITA, Shunichi, K. Murakami. Passivation and reactivation of carrier in B- and P-doped Si treated with atomic hydrogen. PHYSICA B-CONDENSED MATTER. (2007) 175-178
Presentations
- ISHIOKA, Kunie. Carrier and Phonon Dynamics at Buried Interfaces Probed with Linear Optical Spectroscopy. ISUILS2022. 2022
- HIROI, Takashi, SAMITSU, Sadaki, 加納 英明, ISHIOKA, Kunie. Post-processing noise reduction by all-photon recording in dynamic light scattering with CW and pulsed lasers. SI-Thru2022. 2022
- 石岡 邦江, 只野 央将, 柳田 真利, 白井 康裕, 宮野 健次郎. ハイブリッド鉛ハライドペロブスカイトの非調和的な有機カチオン振動. 2022年 第69回応用物理学会春季学術講演会. 2022
Misc
- Kunie Ishioka, Oleg V. Misochko. Coherent Lattice Oscillations in Solids and Their Optical Control. Progress in Ultrafast Intense Laser Science. (2009) 23-64 10.1007/978-3-642-03825-9_2
- 石岡 邦江. グラファイトとダイヤモンドのコヒーレント光学フォノン. 強光子場科学の最前線２. (2009) 119-122
- Oleg V. Misochko, Masahiro Kitajima, Kunie Ishioka. Comment on "Small Atomic Displacements Recorded in Bismuth by the Optical Reflectivity of Femtosecond Laser-Pulse Excitations. Physical Review Letters. (2009) 029701 10.1103/physrevlett.102.029701
Patents
- No. 4558217 金属試料の特性を光学的に測定する方法及び装置 (2010)
- No. 3918054 物質の光応答を測定する方法およびその装置 (2007)
- No. 3440300 気体原子または気体分子の飛行時間型速度測定装置 (2003)
- No: 2006224231 表面非修飾金属ナノ微粒子の単層アレイ構造体の作製法 (2006)
- No: 2004349582 固体中の欠陥測定方法および欠陥測定装置 (2004)
- No: 2004226224 物質の光応答を測定する方法およびその装置 (2004)