publication_type	publication_year	number	author	title	doi	reported_at
Proceeding	2020	1	SINGH Pushpendra, SAHOO Pathik, SAXENA Komal, GHOSH Subrata, SAHU Satyajit, RAY  Kanad, FUJITA Daisuke, BANDYOPADHYAY Anirban			2024-04-24 05:32:17 +0900
Proceeding	2012	1	FUJITA Takaya, KAREN, Akiya, ITO Hiroshi, FUJITA, Daisuke	電気計測SPMによる半導体微小領域のキャリア濃度定量化と国際標準化		2024-04-24 05:32:17 +0900
Proceeding	2010	1	大西 桂子, 藤田 大介	ＡＦＭ像探針形状効果補正のための標準ナノ粒子法とブラインド法の比較		2024-04-24 05:32:17 +0900
Proceeding	2010	2	藤田大介	SPMによる半導体表面分析の最近の展開		2024-04-24 05:32:17 +0900
Proceeding	2009	1	FUJITA, Daisuke, ONISHI, Keiko, XU, Mingsheng			2024-04-24 05:32:17 +0900
Proceeding	2009	2	M. Harada, FUJITA, Daisuke			2024-04-24 05:32:17 +0900
Proceeding	2008	1	SAGISAKA, Keisuke, FUJITA, Daisuke	Si(001)ダイマー列に閉じこめられた電子定在波の研究		2024-04-24 05:32:17 +0900
Proceeding	2008	2	大西 桂子, 藤田 大介	ナノ粒子を利用したＡＦＭ像の探針先端形状効果の補正		2024-04-24 05:32:17 +0900
Proceeding	2007	1	大西 桂子, 藤田 大介	SiO2薄膜の電子線照射支援スパッタリングのリソグラフィへの応用 		2024-04-24 05:32:17 +0900
Proceeding	2007	2	GUO, XINLI, FUJITA, Daisuke, NIORI, NORIKO, SAGISAKA, Keisuke, ONISHI, Keiko	Scanning tunneling microscopy luminescencefrom nanoscale surface of GaAs(110)		2024-04-24 05:32:17 +0900
Proceeding	2005	1	FUJITA, Daisuke, SAGISAKA, Keisuke, ONISHI, Keiko, OHGI, Taizo			2024-04-24 05:32:17 +0900
Proceeding	2005	2	YAKABE, Taro, 寺井慶和, 安塚周磨, 寺倉千恵子, TERASHIMA, Taichi, UJI, Shinya, FUJITA, Daisuke, KIDO, Giyuu			2024-04-24 05:32:17 +0900
Proceeding	2005	3	FUJITA, Daisuke, SAGISAKA, Keisuke, ONISHI, Keiko, SAKOTSUBO, Yukihiro, OHGI, Taizo			2024-04-24 05:32:17 +0900
Proceeding	2004	1	FUJITA, Daisuke, ONISHI, Keiko, KUMAKURA, Tsuyako	炭素固溶ニッケル上のスプラウト状カーボンナノワイヤの走査トンネル顕微鏡・分光計測		2024-04-24 05:32:17 +0900