publication_type publication_year number author title event_name doi reported_at Presentation 2023 1 大西 桂子, 永野 聖子, 藤田 大介, 矢ヶ部 太郎, 板倉 明子 ヘリウムイオン顕微鏡の像コントラストの検討 NanospecFY2022mini 2024-03-29 23:14:35 +0900 Presentation 2022 1 大西 桂子, 永野 聖子, 藤田 大介, 矢ヶ部 太郎, 板倉 明子 14th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '22 2024-03-29 23:14:35 +0900 Presentation 2022 2 鷺坂 恵介, 奈良 純, Jill Wenderott, 門脇良, 丸田茜, 虻川匡司, 藤田 大介 THE 22ND INTERNATIONAL VACUUM CONGRESS IVC-22 2024-03-29 23:14:35 +0900 Presentation 2021 1 藤田 大介, 竹口 雅樹 最先端微細構造解析共用基盤の構築によるマテリアルイノベーションの加速 日本顕微鏡学会第77回学術講演会 2024-03-29 23:14:35 +0900 Presentation 2020 1 藤田 大介 オペランド表面ナノプローブ計測技術の開発と電池応用 2020ナノ科学シンポジウム 2024-03-29 23:14:35 +0900 Presentation 2020 2 藤田 大介 SPM によるオペランドナノ計測の紹介、およびニーズにどう応えるか 科学技術未来戦略ワークショップ「次世代オペランド計測 ~機能計測による新しい科学技術へ~」 2024-03-29 23:14:35 +0900 Presentation 2020 3 大西 桂子, 永野 聖子, 藤田 大介, 矢ヶ部 太郎, 板倉 明子 ヘリウムイオン顕微鏡による表面化学分析用標準試料の経年劣化の解析 2020年日本表面真空学会学術講演会 2024-03-29 23:14:35 +0900 Presentation 2020 4 藤田 大介 動的表面オペランドナノ計測によるナノ構造創製と機能発現 2020年日本表面真空学会学術講演会 2024-03-29 23:14:35 +0900 Presentation 2020 5 藤田 大介 Virtual Training Course, Metrology for Measurement of Nanoparticle Size by Electron Microscopy & Atomic Force Microscopy 2024-03-29 23:14:35 +0900 Presentation 2020 6 吉澤 俊介, 鷺坂 恵介, 藤田 大介, 内橋 隆 シリコン表面インジウム原子層のモアレ構造 新学術領域「ハイパーマテリアル」第4回Web領域会議 2024-03-29 23:14:35 +0900 Presentation 2019 1 石田 暢之, 伊藤 大悟, 増田 秀樹, 藤田 大介 The 4th international symposium on “Elucidation of Property of Next Generation Functional Materials and Surface/Interface” 2024-03-29 23:14:35 +0900 Presentation 2019 2 増田 秀樹, 石田 暢之, 伊藤 大悟, 藤田 大介 The 10th Asian Conference on Electrochemical Power Sources 2019 2024-03-29 23:14:35 +0900 Presentation 2019 3 吉澤 俊介, 鷺坂 恵介, 藤田 大介, 内橋 隆 幾何学的位相解析による不整合変調構造の解析 第2回日本表面真空学会若手部会研究会 2024-03-29 23:14:35 +0900 Presentation 2019 4 鈴木 雅彦, 中村 浩次, Ernst Bauer, 安江 常夫, 越川 孝範, 山内 泰, 藤田 大介 スピン偏極低エネルギー電子顕微鏡によるCo/W(110)における磁化の傾き角の膜厚依存性の解析 2019年日本表面真空学会学術講演会 2024-03-29 23:14:35 +0900 Presentation 2019 5 王 洪欣, 後藤 健太, 張 晗, 田村 亮, 渡邊 育夢, 達 博, 花方 信孝, 藤田 大介 2019日本表面真空学会学術講演会 2024-03-29 23:14:35 +0900 Presentation 2019 6 鈴木 雅彦, 中村 浩次, Ernst Bauer, 安江 常夫, 越川 孝範, 山内 泰, 藤田 大介 12th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '19 (ALC'19) 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2019 7 鈴木 雅彦, 中村 浩次, Ernst Bauer, 安江 常夫, 越川 孝範, 山内 泰, 藤田 大介 12th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '19 (ALC'19) 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2019 8 藤田 大介 「オペランド」~電池材料開発の最前線に立つ新たな計測技術~ 第9回CSJ化学フェスタ 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2019 9 藤田 大介 表面科学における計測インフォマティクス 計測分析プラットフォーム第193委員会第2回公開講演会  2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2019 10 奈良 純, 鷺坂 恵介, 藤田 大介 21st International Vacuum Congress (IVC21) 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2019 11 藤田 大介 7th International Conference on Self-healing Materials (ICSHM2019) 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2019 12 王 洪欣, 張 晗, 田村 亮, 藤田 大介 NIMS先端計測シンポジウム2019 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2019 13 石田 暢之, 増田 秀樹, 藤田 大介 走査型プローブ顕微鏡による電位分布の動的観察: 全固体リチウムイオン電池の評価 NIMS先端計測シンポジウム2019 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2019 14 藤田 大介 First Indian Materials Conclave and 30th Annual General Meeting of MRSI 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2019 15 吉澤 俊介, 鷺坂 恵介, 藤田 大介, 内橋 隆 シリコン表⾯インジウム超構造におけるサブオングストローム⾯内変位分布の可視化 ⽇本顕微鏡学会 超⾼空間分解能SPMの最前線 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2019 16 藤田 大介 オペランド表界面ナノ計測技術の開発とエネルギーデバイスへの応用 第14回表面技術会議 ASTEC2019 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2019 17 藤田 大介 グリーンマテリアル・イノベーションを支えるオペランド表界面ナノ計測の開発と応用 第19回 GREENシンポジウム 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2018 1 藤田 大介 SPM Seminar and Workshop at NSTDA 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2018 2 吉澤 俊介, 鷺坂 恵介, 藤田 大介, 内橋 隆 STM観察とDFT計算によるインジウム原子層超伝導体の結晶構造決定 第26回渦糸物理国内会議 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2018 3 鷺坂 恵介, 奈良 純, 藤田 大介 Ni(110)-c(22)S表面におけるグラフェンの成長 2018年 日本表面真空学会学術講演会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2018 4 藤田 大介 定量的なガス放出速度の測定法の開発と応用 2018年日本表面真空学会学術講演会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2018 5 吉澤 俊介, 鷺坂 恵介, 藤田 大介, 内橋 隆 Si(111)-√7×√3-In 表面における静電遮蔽効果の STM 観測 2018年日本表面真空学会学術講演会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2018 6 張 晗, 唐 捷, 藤田 大介, 山内 泰, 秦 禄昌 安定性と低仕事関数の間の統一的矛盾:LaB 6ナノワイヤ冷陰極の場合 2018年日本表面真空学会学術講演会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2018 7 藤田 大介 データ科学を活用した表面表層計測の高度化 ~発展の歴史と将来展望~ 第47回薄膜・表面物理基礎講座 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2018 8 王 洪欣, 張 晗, 後藤 健太, 渡邊 育夢, 北澤 英明, 河井昌道, 間宮 広明, 藤田 大介 第4回 革新的構造材料 先端計測拠点 国際会議 (SIP-IMASM2018) 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2018 9 王 洪欣, 張 晗, 河井昌道, 渡邊 育夢, 後藤 健太, 北澤 英明, 間宮 広明, 藤田 大介 第4回 革新的構造材料 先端計測拠点 国際会議 (SIP-IMASM2018) 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2018 10 王 洪欣, 張 晗, 北澤 英明, 後藤 健太, 湯 代明, 渡邊 育夢, 河井昌道, 間宮 広明, 藤田 大介 第4回 革新的構造材料 先端計測拠点 国際会議 (SIP-IMASM2018) 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2018 11 藤田 大介 オペランド表界面ナノ機能計測法の開発と応用 第1回「実用エネルギー材料開発のためのオペランド解析研究会」 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2018 12 酒井智香子, 石田暢之, 永野聖子, 大西桂子, 藤田大介 ヘリウムイオン顕微鏡における電位分布観察のためのin situ 電圧印加機構 ACSIN-14 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2018 13 吉澤 俊介, 鷺坂 恵介, 藤田 大介, 内橋 隆 Si(111)-(√7×√3)-In の一軸性不整合構造の STM 観察 ACSIN-14 & ICSPM26 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2018 14 藤田 大介 オペランドナノプローブ電位計測技術の開発と電池応用 JASISコンファレンス走査型プローブ顕微鏡分科会セミナー 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2018 15 SAKAI, Chikako, SHIRAI, Yasuhiro, MIYANO, Kenjiro, FUJITA, Daisuke ヘリウムイオン顕微鏡を用いたペロブスカイト太陽電池の二次電子画像化 第18回GREENシンポジウム 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2018 16 石田 暢之, 藤田 大介 ケルビンプローブフォース顕微鏡によるペロブスカイト太陽電池の電荷分離位置評価 平成30年度大阪大学国際合同会議 “次世代機能性材料・表面/界面物 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2018 17 藤田 大介 表面多機能ナノプローブ法と極限計測技術に関する研究 日本顕微鏡学会第74回学術講演会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2018 18 藤田大介 次世代電池のオペランド・ナノプローブ電位計測 ナノプローブテクノロジー第167委員会 第88回研究会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2018 19 吉澤 俊介, 鷺坂 恵介, 藤田 大介, 内橋 隆 Si(111)-(√7×√3)-In 表面における一軸性格子不整合の実空間観測 日本表面科学会プローブ顕微鏡研究部会(他2部会)合同シンポジウム 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2018 20 吉澤 俊介, 鷺坂 恵介, 藤田 大介, 内橋 隆 傾斜シリコン基板上に成長したインジウム原子層の超伝導 日本物理学会 第73回年次大会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2018 21 鈴木 雅彦, 石田 暢之, 倉橋 光紀, 山内 泰, 藤田 大介, 安江常夫, 越川孝範 Ni(110)上のグラフェンのLEEM観察 第65回 応用物理学会 春季学術講演会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2018 22 菱田 俊一, 三石 和貴, 北澤 英明, 藤田 大介 Nanotech CUPALによる人材育成 日本セラミックス協会2018年年会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2018 23 増田 秀樹, 石田 暢之, 小形曜一郎, 伊藤大悟, 藤田 大介 Operando Visualization of Li Distribution and Electrical Potential Distribution in All-Solid-State LIB MI・計測 合同シンポジウム 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2018 24 北澤 英明, 渡邉 騎通, Jakub Szabelewsk, 間宮 広明, 藤田 大介 TOF-SIMSによるSi/Al界面における界面融解観測 MI・計測 合同シンポジウム 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2018 25 酒井 智香子, 白井 康裕, 宮野 健次郎, 藤田 大介 ヘリウムイオン顕微鏡によるペロブスカイト太陽電池の二次電子像観察 MI・計測 合同シンポジウム 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2018 26 王 洪欣, 張 晗, 達 博, Motoki Shiga, 北澤 英明, 藤田 大介 Informatics-aided Confocal Raman Microscopy for 3D Stress Characterization MI・計測 合同シンポジウム NIMS先端計測シンポジウム 2018 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2018 27 吉澤 俊介, 鷺坂 恵介, 藤田 大介, 内橋 隆 傾斜シリコン基板上に成長したインジウム原子層の超伝導 MANA International Symposium 2018 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2018 28 藤田 大介 研究開発におけるシニア研究者の内外における活躍について Japan Researcher’s Network (JRN) 設立記念シンポジウム 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2018 29 藤田 大介 Informatics for Materials and Analysis Technology - Current Status and Prospect 21st SANKEN International Symposium 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2017 1 SAKAI, Chikako, ISHIDA, Nobuyuki, NAGANO, Shoko, ONISHI, Keiko, FUJITA, Daisuke ヘリウムイオン顕微鏡を用いたアクティブ電圧コントラスト画像化による新しい電位観測技術 第18回「イオンビームによる表面・界面解析」特別研究会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2017 2 吉澤 俊介, 鷺坂 恵介, 藤田 大介, 内橋 隆 傾斜シリコン基板上インジウム原子層の超伝導 第25回渦糸物理国内会議 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2017 3 増田 秀樹, 石田 暢之, 小形曜一郎, 伊藤大悟, 藤田 大介 断面KPFMを用いた全固体LIBのその場電位計測 第4回電池材料解析ワークショップ 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2017 4 増田 秀樹, 石田 暢之, 小形曜一郎, 伊藤大悟, 藤田 大介 全固体型LIBの断面におけるLi分布変化計測 第58回電池討論会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2017 5 鈴木 雅彦, 倉橋 光紀, 山内 泰, 石田 暢之, 藤田 大介, 安江常夫, 越川孝範 Observation of Graphene on Ni(110) with SPLEEM ISSS-8 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2017 6 KITAZAWA, Hideaki, WATANABE, Norimichi, SZABELEWSKI, Jakub, Jakub Szabelewsk, MAMIYA, Hiroaki, FUJITA, Daisuke TOF-SIMSによるSi/Al界面における界面融解現象の観測 ISSS-8 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2017 7 SAKAI, Chikako, ISHIDA, Nobuyuki, NAGANO, Shoko, ONISHI, Keiko, FUJITA, Daisuke ヘリウムイオン顕微鏡を用いた任意の電圧印加を伴う積層型セラミックコンデンサの電位分布画像化 The 8th International Symposium on Surface Science (ISSS-8) 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2017 8 王 洪欣, 張 晗, 達 博, Motoki Shiga, 北澤 英明, 藤田 大介 3D Characterization of Stress Evolution in Opaque Materials Using sub-micrometer sized laser The 8th International Symposium on Surface Science (ISSS-8) 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2017 9 増田 秀樹, 石田 暢之, 小形曜一郎, 伊藤大悟, 藤田 大介 Charging-induced Changes in Li Distribution at Cathode Composite Electrode of All-solid-state Li-ion Batteries Visualized by Cross-sectional Operando Analysis ISSS-8 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2017 10 吉澤 俊介, 鷺坂 恵介, 藤田 大介, 内橋 隆 平行磁場中 Si(111)-(√7×√3)-In の超伝導 The 8th International Symposium on Surface Science (ISSS-8) 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2017 11 王 洪欣, 張 晗, 達 博, Motoki Shiga, 北澤 英明, 藤田 大介 Informatics-aided Confocal Raman Microscopy for 3D Stress Characterization NIMS WEEK 2017 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2017 12 王 洪欣, 張 晗, 達 博, Motoki Shiga, 北澤 英明, 藤田 大介 情報理論を利用したコンフォーカル・ラマン顕微鏡によるSiの3次元応力分布評価 第3回内閣府SIP革新的構造材料先端計測拠点TIA-Fraunhofer合同国際シ 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2017 13 WATANABE, Norimichi, MAMIYA, Hiroaki, FUJITA, Daisuke, KITAZAWA, Hideaki TOF-SIMSによるSi/Al界面における界面融解 SIP-IMASM 2017 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2017 14 吉澤 俊介, 鷺坂 恵介, 藤田 大介, 内橋 隆 Si(111)-(√7×√3)-In の STM/STS と DFT 日本物理学会 2017年秋季大会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2017 15 藤田 大介 Operando Nanoscale Characterization of Solid-State-Lithium Ion Batteries IUMRS-ICAM 2017 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2017 16 増田 秀樹, 石田 暢之, 小形曜一郎, 伊藤大悟, 藤田 大介 ケルビンプローブフォース顕微鏡を用いた全固体型リチウムイオン電池の内部電位計測 平成29年度第一回かけはし研究会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2017 17 酒井 智香子, 石田 暢之, 永野 聖子, 大西 桂子, 藤田 大介 ヘリウムイオン顕微鏡装置への電圧印加機構の導入と印加電圧値を変化させた積層型セラミックコンデンサの二次電子像観察 2017年真空・表面科学合同講演会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2017 18 SAKAI, Chikako, ISHIDA, Nobuyuki, NAGANO, Shoko, ONISHI, Keiko, FUJITA, Daisuke 任意の電圧印加を伴った積層型セラミックコンデンサのヘリウムイオン顕微鏡を用いた電位分布 15th GREEN Symposium 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2017 19 AGRAWAL, Lokesh, Takashi Shiga, FUJITA, Daisuke, BANDYOPADHYAY, Anirban A classification of neuron proteins based on their vibrations Japanese Neuroscience Society 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2017 20 BANDYOPADHYAY, Anirban, AGRAWAL, Lokesh, FUJITA, Daisuke A classification of neuron proteins based on their vibrations Japanese Neuroscience Society 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2017 21 藤田 大介 Characterization and Synthesis of Graphene and Related Low Dimensional Nanomaterials Workshop on Measurement Challenges for 2D Materials 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2017 22 藤田 高弥, 井藤浩志, 藤田 大介 Calibration of carrier concentration of Electric SPM (SSRM and SCM) International Symposium on SPM Standardization 2017 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2017 23 SAKAI, Chikako, ISHIDA, Nobuyuki, NAGANO, Shoko, ONISHI, Keiko, FUJITA, Daisuke ヘリウムイオン顕微鏡による印加電圧値を変化させた積層型セラミックコンデンサの二次電子画像化 Recent Progress on Interfacial Energy Conversion 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2017 24 藤田 大介 SPM計測の定量化と標準化 日本学術振興会第141委員会平成29年度研修セミナー"SPMの基礎と 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2017 25 酒井 智香子, 石田 暢之, 永野 聖子, 大西 桂子, 藤田 大介 印加電圧を変化させた積層型セラミックコンデンサ断面のヘリウムイオン顕微鏡を用いた二次電子像観察 日本表面科学会 第2回関東支部講演大会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2017 26 王 洪欣, 張 晗, 達 博, 藤田 大介 3D Analysis of Stress Dynamics in Si(100) by Confocal Raman Microscopy 日本表面科学会第2回関東支部講演大会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2017 27 酒井 智香子, 石田 暢之, 永野 聖子, 小形曜一郎, 藤田 大介 電圧印加値を変化させた積層型セラミックコンデンサのヘリウムイオン顕微鏡を用いた二次電子像観察 第64回応用物理学会春季学術講演会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2017 28 王 洪欣, 張 晗, 達 博, 藤田 大介 3D confocal Raman mapping of stress induced by indentation on Si(100) 共用・計測 合同シンポジウム2017 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2017 29 酒井 智香子, 石田 暢之, 永野 聖子, 小形曜一郎, 藤田 大介 電圧印加機構のヘリウムイオン顕微鏡への導入と電圧印加積層型セラミックコンデンサの二次電子像観測 共用・計測 合同シンポジウム 2017 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2017 30 藤田 大介 表面分析とマテリアルズ・インフォマティクス 表面科学セミナー2017『マテリアルズ・インフォマティクスの最前線』 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2017 31 増田 秀樹, 石田 暢之, 小形 曜一郎, 伊藤 大悟, 藤田 大介 その場ケルビンプローブフォース顕微鏡によるリチウム電池正極内部の電位分布観察 The 2nd international symposium on “Recent Trends in Analysis T 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2016 1 大西 桂子, 永野 聖子, 藤田 大介 ヘリウムイオン顕微鏡による構造色発現の解析 第4回メゾスコピック研究会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2016 2 SAKAI, Chikako, ISHIDA, Nobuyuki, MASUDA, Hideki, NAGANO, Shoko, KITAHARA, Masayo, OGATA Yoichiro, FUJITA, Daisuke ヘリウムイオン顕微鏡を用いた積層型セラミックコンデンサのアクティブ電圧コントラストの画像化 NIMS WEEK 2016 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2016 3 王 洪欣, 増田 秀樹, 北澤 英明, 大西 桂子, 河井昌道, 藤田 大介 Advanced In Situ Multi-scale Characterization of Mechanical Properties of Carbon-fiber-reinforced Plastic NIMS WEEK 2016 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2016 4 増田 秀樹, 石田 暢之, 小形曜一郎, 伊藤大悟, 藤田 大介 Operando analysis of all-solid-state Lithium ion batteries using nanoscale electrical potential measurement and Li mapping NIMS WEEK 2016 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2016 5 増田 秀樹, 石田 暢之, 小形曜一郎, 伊藤大悟, 藤田 大介 その場KPFM計測による全固体LIB内部電位分布の計測 表面科学会第4回関東支部セミナー 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2016 6 酒井 智香子, 石田 暢之, 増田 秀樹, 永野 聖子, 北原 昌代, 小形 曜一郎, 藤田 大介 ヘリウムイオン顕微鏡を用いたアクティブ電圧コントラストの影響を反映した二次電子像の研究 日本表面科学会関東支部 第4回関東支部セミナー 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2016 7 王 洪欣, 増田 秀樹, 北澤 英明, 大西 桂子, 河井昌道, 藤田 大介 Advanced in situ multi-scale characterization of hardness of carbon-fiber-reinforced plastic 日本表面科学会関東支部第4回関東支部セミナー表面・薄膜分析シリー 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2016 8 王 洪欣, 増田 秀樹, 北澤 英明, 大西 桂子, 河井昌道, 藤田 大介 Advanced in situ multi-scale characterization of hardness of carbon-fiber-reinforced plastic 第2回 内閣府SIP革新的構造材料 先端計測拠点国際会議 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2016 9 増田 秀樹, 藤田 大介 多機能走査型プローブ顕微鏡による鋳鉄中の球状炭素の解析 日本鋳造工学会第168回全国講演大会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2016 10 王 洪欣, 藤田 大介 A 2D and 3D Raman Mapping of Residual Stresses Induced by Indentation 2016年秋期講演(第159回)大会プログラム 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2016 11 石田 暢之, 定昌史, 間野 高明, 野田 武司, 佐久間 芳樹, 藤田 大介 断面STMによるGaAs中窒素不純物の直接可視化 IVC20 第20回 国際真空学術会議・展示会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2016 12 増田 秀樹, 石田 暢之, 小形曜一郎, 伊藤大吾, 藤田 大介 Operando measurement of All-Solid-State type Lithium-ion Batteries in an inert atmosphere 20th IVC 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2016 13 増田 秀樹, 石田 暢之, 小形曜一郎, 藤田 大介 KPFMを用いた全固体型リチウムイオン電池の内部電位計測 第4回酸化物研究の新機軸に向けた学際討論会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2016 14 石田 暢之, 増田 秀樹, 藤田 大介 走査型プローブ顕微鏡による先端材料解析 第6回 NIMS講演会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2016 15 増田 秀樹, 藤田 大介 SPMインデンテーションを用いたナノメートルサイズの硬度評価試験 日本表面科学会関東支部第1回講演大会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2016 16 石田 暢之, 定昌史, 間野 高明, 野田 武司, 佐久間 芳樹, 藤田 大介 断面STMによるGaAs中窒素不純物の直接可視化 ISPlasma2016/IC-PLANTS2016 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2016 17 北澤 英明, 新海 尋, 渡邉 騎通, 田巻 明, 藤田 大介, 小暮敏博, 山田 裕久 TOF-SIMSと放射線計測による粘土鉱物へのCs吸着挙動に関する研究 共用・計測 合同シンポジウム2016 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2016 18 増田 秀樹, 藤田 大介 走査型プローブ顕微鏡を用いた球状黒鉛鋳鉄のマルチスケール断面観察 共用・計測合同シンポジウム2016 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2016 19 FUJITA, Daisuke Operando Nanoscale Characterization of GREEN Materials 16th International Symposium on Biomimetic Materials Processing 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2016 20 増田 秀樹, 石田 暢之, 小形曜一郎, 藤田 大介 全固体型リチウムイオン電池のその場KPFM計測 機能性材料・デバイス解析ナノプローブテクノロジー研究会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2016 21 藤田 大介 ハードウエアプラットフォームの構築に向けて 講演会「我が国の計測分析プラットフォームを. どのように構築すべき 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2015 1 藤田 大介, 石田 暢之, 増田 秀樹, 大西 桂子, 鷺坂 恵介 Cを固溶させたPt(111)基板に表面析出した単層グラフェンのマルチスケール解析 2015年真空・表面科学合同講演会 第35回表面科学学術講演会 講演要 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2015 2 大西 桂子, 酒井 智香子, 永野 聖子, 藤田 大介 ヘリウムイオン顕微鏡による加熱中その場観察 2015年真空・表面科学合同講演会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2015 3 増田 秀樹, 石田 暢之, 小形曜一郎, 藤田 大介 その場断面計測を用いた全固体型LIBの解析 第35回表面科学会学術講演会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2015 4 鷺坂 恵介, 藤田 大介, デビッドボウラー Si(100)表面に埋め込まれた リン-シリコンヘテロダイマーの研究 2015年真空・表面科学合同講演会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2015 5 王 洪欣, 北澤 英明, 河井 昌道, 藤田 大介 Advanced Multi-functional Characterization of High Strength CFRP Materials 第35回表面科学学術講演会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2015 6 石田 暢之, 増田 秀樹, 藤田 大介 走査型プローブ顕微鏡によるエネルギー変換・貯蔵デバイスのオペランド計測 2015年真空・表面科学合同講演会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2015 7 増田 秀樹, 藤田 大介 リアルナノ・インデンテーション試験による球状黒鉛鋳鉄の強度評価 ナノ構造・物性−ナノ機能・応用部会合同シンポジウム 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2015 8 増田 秀樹, 石田 暢之, 小形曜一郎, 藤田 大介 全固体型LIBの不活性雰囲気動作その場KPFM断面計測 第56回電池討論会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2015 9 藤田 大介, 三石 和貴, 橋本 綾子, 石田 暢之, 増田 卓也, 野口 秀典 環境エネルギー材料のGREEN表界面計測技術 NIMSフォーラム 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2015 10 王 洪欣, 藤田 大介, 北澤 英明, 河合 昌道 Advanced In Situ Multi-functional Characterization of High Strength CFRP Materials 革新的構造材料のための先端計測拠点国際会議 (SIP-IMASM2015) 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2015 11 FUJITA, Daisuke, ONISHI, Keiko, WANG, Hongxin, MASUDA, Hideki Nanoscale Characterization of Structural Composite Materials 革新的構造材料のための先端計測拠点国際会議 SIP-IMASM 2015 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2015 12 鷺坂 恵介, 藤田 大介, David Bowler STMとDFTによるSi(100)表面のリン-シリコンヘテロダイマーの研究 日本物理学会2015年秋季大会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2015 13 増田 秀樹, 藤田 大介 マルチスケール断面計測による黒鉛球状化機構の解明 日本金属学会2015年秋期(第157回)講演大会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2015 14 王 洪欣, 藤田 大介, 北澤 英明, 河合 昌道 Advanced Characterization Technology for High Strength CFRP Materials 2015年 秋期(第157回)講演大会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2015 15 藤田 大介, 石田 暢之 次世代太陽電池の可視光照射下における動的SPMナノ計測 第76回応用物理学会秋季学術講演会 The 76th JSPS Autumn Meeting 2 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2015 16 石田 暢之, 藤田 大介 KPFM測定における探針平均化効果の評価 第76回応用物理学会秋季学術講演会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2015 17 増田 秀樹, 石田 暢之, 小形曜一郎, 藤田 大介 不活性雰囲気動作した全固体型LIBのその場KPFM計測 第76回応用物理学会秋季学術講演会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2015 18 清水正太郎, 成重卓真, 大野真也, 田中正俊, 鷺坂 恵介, 艸分 倫子, 藤田 大介 走査トンネル分光を用いた鉄シリサイド超薄膜電子状態の測定 第76回応用物理学会秋期学術講演会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2015 19 藤田 大介 JSCA全体説明 JSCA表面化学分析国際標準化セミナ 表面分析・マイクロビームアナリ 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2015 20 藤田 大介 Novel Synthesis and Nanocharacterization of Graphene and Related 2D Nanomaterials Formed by Surface Segregation 2015 Int 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2015 21 北澤 英明, 新海尋, 渡邉 騎通, 田巻明, 藤田 大介, 小暮敏博, 山田 裕久 粘土鉱物へのCs吸着に関するTOF-SIMSとアートラジオグラフィーによる研究 NIMS Conference 2015 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2015 22 増田 秀樹, 石田 暢之, 小形曜一郎, 藤田 大介 KPFM measurement of all-solid-state LIB with in situ operation in Ar atmosphere NIMS conference 2015 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2015 23 藤田 大介 ナノプローブ顕微鏡による ナノ計測とナノ加工 実用顕微評価技術セミナー2015 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2015 24 藤田 大介 材料分野におけるオープンサイエンスについて オープンサイエンスの取組に関する検討委員会(第2回) 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2015 25 増田 秀樹, グオ ホングゥアン, 藤田 大介 多機能SPMによる球状黒鉛鋳鉄の断面観察 顕微鏡学会第71回学術講演会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2015 26 増田 秀樹, 石田 暢之, 小形 曜一郎, 藤田 大介 全固体型LIBの不活性雰囲気中電池動作その場マッピング 顕微鏡学会第71回学術講演会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2015 27 FUJITA, Daisuke Reproducible Restoration Methodology for AFM Topography Images using Probe Shape Function The 5th International Symposium on SPM Standardization SPM2015 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2015 28 清水正太郎, 成重卓真, 艸分 倫子, 鷺坂 恵介, 藤田 大介, 大野真也, 田中正俊 p(2×2)表面再構成構造をもつ鉄シリサイド電子状態の走査トンネル分光による再検討 日本物理学会第70回年次大会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2015 29 藤田 大介 微細構造解析プラットフォームの紹介 日本顕微鏡学会SPM分科会オープン研究会/微細構造解析プラットフォー 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2015 30 永野 聖子, 大西 桂子, 酒井 智香子, 藤田 大介 ヘリウムイオン顕微鏡による加工と観察の紹介 共用・計測合同シンポジウム2015 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2015 31 増田 秀樹, 石田 暢之, 小形曜一郎, 藤田 大介 不活性雰囲気中動作その場マッピングによる全固体型LIBの解析 共用・計測 合同シンポジウム2015 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2015 32 藤田 大介 材料イノベーションを加速するオープンサイエンスの動向 内閣府CSTI 国際的動向を踏まえたオープンサイエンスに関する検討会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2015 33 FUJITA, Daisuke Controlled Graphene Growth Mediated by Surface Segregation 15th International Symposium on Biomimetic Materials Processing 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2014 1 藤田 大介 ナノ素材計測に向けた共通プラットフォームの構築と展開 日本学術会議(化学委員会・分析化学委員会)企画講演会「ナノ素材と 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2014 2 石田 暢之, 定昌史, 間野 高明, 野田 武司, 佐久間 芳樹, 藤田 大介 STMによるGaAs中N不純物準位の直接可視化 22nd International Colloquium on Scanning Probe Microscopy 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2014 3 MASUDA, Hideki, ISHIDA, Nobuyuki, FUJITA, Daisuke Surface Potential Mapping of Sputtered All-Solid-State Lithium-Ion Batteries using Kelvin Probe Force Microscopy ICSPM22 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2014 4 藤田 大介, グオ ホングゥアン, 鷺坂 恵介 Synthesis of Graphene via Surface Segregation and Reaction Pacific Rim Symposium on Surfaces, Coatings & Interfaces 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2014 5 増田 秀樹, 石田 暢之, 小形曜一郎, 藤田 大介 全固体リチウムイオン二次電池評価のためのその場TOF-SIMS測定システムの開発 第55回電池討論会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2014 6 石田 暢之, 藤田 大介 光照射場SPMによる次世代太陽電池のナノ-マクロ発電機能解析 日本顕微鏡学会第58回シンポジウム 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2014 7 増田 秀樹, 石田 暢之, 小形曜一郎, 藤田 大介 全固体型LIBの不活性雰囲気中動作のその場マッピング法の開発 第34回表面科学学術講演会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2014 8 藤田 大介 Si酸化超薄膜の超高真空高温場における還元分解/再析出過程~UHV-AFM/STM/AESによるin situ解析~ 第34回表面科学学術講演会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2014 9 石田 暢之, 定昌史, 間野 高明, 野田 武司, 佐久間 芳樹, 藤田 大介 STMによるGaAs中N不純物準位の直接可視化 The 7th International Symposium on Surface Science 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2014 10 藤田 大介, グオ ホングゥアン, 鷺坂 恵介 Key Role of Surface Segregation for Controlled Graphene Growth The 7th International Symposium on Surface Science 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2014 11 MASUDA, Hideki, ISHIDA, Nobuyuki, Yoichiro Ogata, FUJITA, Daisuke Development of In-Situ TOF-SIMS Measurement System for Characterization of All-Solid-State Li-ion Battery ISSS-7 (The 7th International Symposium on Surface Science) 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2014 12 ジルウェンダロット, 鷺坂 恵介, 松下恭介, 藤田 大介 STMによるNi(110)-2x2S表面に成長したグラフェンの研究 The 7th international symposium on surface science 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2014 13 FUJITA, Daisuke, GUO, Hongxuan Surface Segregation, Surface Reaction and Surface Precipitation for Single-to-Few Layer Graphene and hexagonal BN Growth The 1st Int. Conf. on Two-Dimensional Layered Materials 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2014 14 北澤 英明, 新海尋, 田巻明, 藤田 大介, 小暮敏博, 山田 裕久 TOF-SIMS等を用いた粘土鉱物へのCs吸着挙動II 第58回粘土科学討論会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2014 15 増田 秀樹, 石田 暢之, 小形 曜一郎, 藤田 大介 充放電したLIBのその場TOF-SIMS元素マッピング法の開発 第75回応用物理学会秋季学術講演会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2014 16 石田 暢之, 定昌史, 間野 高明, 野田 武司, 佐久間 芳樹, 藤田 大介 STMによるGaAs中N不純物準位の直接可視化 第75回応用物理学会秋季学術講演会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2014 17 藤田 大介 最先端ナノプローブ計測によるマテリアル解析 微細構造解析プラットフォーム 2014年度第1回ワークショップ 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2014 18 藤田 大介, 大西 桂子, 北原 昌代, 岩崎 多摩樹 Nanoscale Metrology and Characterization of Nano-objects by Scanning Probe Microscopy IUMRS-ICA 2014 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2014 19 藤田 大介 3rd Workshop on the Risk Management of Engineered Nanomaterils 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2014 20 石田 暢之, 野田 武司, 間野 高明, 佐久間 芳樹, 韓 礼元, 藤田 大介 断面KPFMによる多重量子井戸太陽電池中のポテンシャル分布計測 Non-contact atomic force microscopy 2014 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2014 21 藤田 大介, 北原 昌代, 大西 桂子, 岩崎 多摩樹 Quantitative Topography Measurement by Atomic Force Microscopy using Probe Shape Function The 4th International Symposium on SPM Standardization (SPM2014) 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2014 22 藤田 大介, グオ ホングゥアン International Conference on Electron Microscopy (EMSI-2014) 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2014 23 藤田 大介 Nanoscale Characterization and Fabrication of Nanomaterials by Scanning Helium Ion Microscopy Int Symp.Highly-Cont. Nano- Micro-Scale Func. Surf. Struc. 2014 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2014 24 藤田 大介 電子・イオン・フォトン・フォースをプローブとする最先端ナノマテリアル計測 日本顕微鏡学会第70回記念学術講演会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2014 25 北澤 英明, 新海尋, 河野 健一郎, 武田 良彦, 岩井 秀夫, 田巻明, 藤田 大介, 山田 裕久 TOF-SIMSを用いた粘土鉱物への安定Cs吸着状態の可視化 2014年 第61回応用物理学会春季学術講演会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2014 26 藤田 大介 ナノプローブ表面計測技術の開発と共用化によるイノベーション 共用・計測合同シンポジウム2014 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2014 27 藤田 大介 Advanced Nanoprobe Technologies for Materials Research Towards active nanocharacterization technologies NSC-NIMS Workshop - New Opportunities of Advanced Metrology - 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2014 28 北澤 英明, 新海尋, 河野 健一郎, 武田 良彦, 岩井 秀夫, 田巻明, 藤田 大介, 山田 裕久 TOF-SIMSを用いた粘土鉱物への安定Cs吸着状態の可視化 日本原子力研究開発機構 委託研究報告会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2014 29 藤田 大介 最先端計測技術の開発と共用によるシナジー効果とイノベーションの加速 ナノテクノロジー・材料分野俯瞰ワークショップ 計測技術領域 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2014 30 藤田 大介, グオ ホングゥアン Characterization of 2D Nanomaterials by Scanning Helium Ion Microscopy 14th International Symposium onBiomimetic Materials Processing 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2014 31 藤田 大介, 鷺坂 恵介, 大西 桂子 複合極限場走査型プローブ顕微鏡の開発 SATテクノロジー・ショーケース2014 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2013 1 藤田 大介 NIMS微細構造解析PFの提供する最先端マテリアル計測 ナノテクノロジープラットフォーム つくば地区説明&見学会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2013 2 大西 桂子, 岩崎 多摩樹, 藤田 大介 AFM探針形状のその場評価法と画像補正法の開発 2013年真空・表面科学合同講演会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2013 3 大西 桂子, 岩崎 多摩樹, 藤田 大介 ACSIN-12 & ICSPM21 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2013 4 藤田 大介, 徐明生 6th International Symposium on NanOEH 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2013 5 藤田 大介 India-Japan Symposium on Emerging Materials for Health, Environm 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2013 6 藤田 大介 クロージング〜最先端ビーム応用計測を提供する共用基盤拠点の展望 第74回応用物理学会秋季学術講演会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2013 7 北澤 英明, 虫明 磨毅, 新海尋, 櫻井 健次, 河野 健一郎, 武田 良彦, 岩井 秀夫, 田巻明, 藤田 大介, 小暮敏博, 山田 裕久 TOF-SIMS等を用いた粘土鉱物へのCs吸着挙動 第57回粘土科学討論会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2013 8 高 建華, 鷺坂 恵介, 藤田 大介 The 15th Asian Chemical Congress 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2013 9 藤田 大介 2nd International Conference Materials, Energy and Environment 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2013 10 KITAZAWA, Hideaki, MUSHIAKE, Maki, IWAI, Hideo, KONO, Kenichiro, TAKEDA, Yoshihiko, FUJITA, Daisuke, YAMADA, Hirohisa TOF-SIMSによる粘土鉱物中のCsの分布と検出限界 2013 NIMS Conference 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2013 11 高 建華, 鷺坂 恵介, 藤田 大介 Flatlands beyond Graphene 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2013 12 高 建華, 鷺坂 恵介, 藤田 大介 graphene 2013 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2013 13 成重卓真, 鷺坂 恵介, 藤田 大介, 大野真也, 田中正俊 Si(001)表面上に成長した鉄シリサイドのSTM/STS測定 第60回応用物理学会春季学術講演会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2013 14 藤田 大介 微細構造解析プラットフォームの概要と先端ナノ計測設備群の紹介 第93春季年会(2013) 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2013 15 藤田 大介 4 機関共用施設の概要と支援事例 (物質・材料研究機構) つくば先端機器共用施設連携ワークショップ 2013 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2013 16 藤田 大介 NIMSの目指す先端計測技術の開発と共用による イノベーションの推進 共用・計測 合同シンポジウム2013 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2013 17 北澤 英明, 櫻井 健次, 河野 健一郎, 武田 良彦, 虫明 磨毅, 岩井 秀夫, 藤田 大介, 山田 裕久 TOF-SIMSによるCs-バーミキュライトの検討 第三回JAEA-NIMS「Cs脱離機構解明と脱離法の開発」会合 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2013 18 藤田 大介, 石田 暢之 Decontamination and Superhydophilicity on TiO2 Surfaces 13th International Symposium on Biomimetic Materials Processing 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2013 19 鷺坂 恵介, 藤田 大介 16T高磁場極低温STMの開発と材料研究への応用 顕微鏡学会 SPM分科会 オープン研究会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2013 20 藤田 大介 NIMSにおける先端計測技術の開発 第3回 三機関連携「量子複雑現象」研究会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2013 21 藤田 大介 Department Colloquium 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2013 22 大西 桂子, グオ ホングゥアン, 永野 聖子, 藤田 大介 走査型ヘリウムイオン顕微鏡による絶縁体微細構造解析 第22回インテリジェント材料/システム シンポジウム 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2012 1 藤田 大介 NIMS先端微細構造解析プラットフォームの紹介 NIMS・AIST微細構造解析プラットフォーム 合同地域セミナー 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2012 2 藤田 大介 NIMS先端微細構造解析プラットフォームの紹介 NIMS微細構造解析プラットフォーム第一回地域セミナー 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2012 3 大西 桂子, グオ ホングゥアン, 永野 聖子, 藤田 大介 NIMS走査型ヘリウムイオン顕微鏡の紹介 NIMS微細構造解析プラットフォーム第1回地域セミナー 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2012 4 大西 桂子, 岩崎 多摩樹, 藤田 大介 ISO標準データ転送フォーマットに基づくSPMデータ処理プログラムの開発 第32回表面科学学術講演会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2012 5 大西 桂子, グオ ホングゥアン, 永野 聖子, 藤田 大介 走査型ヘリウムイオン顕微鏡による微細構造解析 第53回真空に関する連合講演会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2012 6 北澤 英明, 虫明 磨毅, 岩井 秀夫, 山田 裕久, 藤田 大介 微量分析技術によるCsの粘土層への吸着挙動 第10回環境研究シンポジウム 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2012 7 藤田 大介 マテリアルイノベーションのためのNIMS先端微細構造解析プラットフォーム 第1回微細構造解析プラットフォームワークショップ 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2012 8 藤田 大介 最先端極限計測装置群によるナノテク・材料研究開発の高度支援 文部科学省ナノテクノロジープラットフォームシンポジウム 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2012 9 藤田 大介 最先端計測共用基盤の構築とマテリアルイノベーションの加速 文部科学省ナノテクノロジープラットフォームシンポジウム 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2012 10 鷺坂 恵介, 藤田 大介, デビッドボウラー Si(100)表面のリンのSTM研究 The 10th Japan-Russia Seminar on Semiconductor Surfaces 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2012 11 藤田 大介, Mingsheng XU Characterization of Functional Nanomaterials for Nanorisk Assessment and Social Acceptance IUMRS-ICEM 2012(国際MRS連合 電子材料国際会議) 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2012 12 藤田 大介 TC201: 走査プローブ顕微鏡法(SPM)の国際標準化 表面化学分析国際標準化セミナー「表面分析における国際標準化の現状 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2012 13 北澤 英明, 櫻井 健次, 武田 良彦, 加藤 誠一, 虫明 磨毅, 藤田 大介 SIMS等を用いた吸着挙動の検討 廃棄物減容のためのCs動態研究に関するJAEA-NIMS共同研究ミーティン 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2012 14 藤田 大介 走査型プローブ顕微鏡法の国際標準化とロードマップ ナノプローブテクノロジー第167委員会第67回研究会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2012 15 藤田 大介, 石田 暢之, グオ ホングゥアン 第4回ナノ材料科学環境拠点シンポジウム 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2012 16 高 建華, 鷺坂 恵介, 石田 暢之, 藤田 大介 Graphene 2012 International Conference 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2012 17 マルツ ミカエル, 鷺坂 恵介, 藤田 大介 STMによるHOPG表面におけるニッケルクラスターの成長様式と電子状態の研究 日本物理学会第67回年次大会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2012 18 鷺坂 恵介, マルツ ミカエル, 藤田 大介, デッビドボウラー Si(100)表面におけるリン分子の吸着構造 日本物理学会第67回年次大会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2012 19 ペレ レオン カルメン, 鷺坂 恵介, 藤田 大介, 韓 礼元 STMを用いたTiO2表面における光増感色素の吸着研究 日本物理学会第67回年次大会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2012 20 FUJITA, Daisuke, IWASAKI, Tamaki, ONISHI, Keiko, GUO, Hongxuan, XU, Mingsheng 3rd International Symposium on Stadardization of SPM 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2012 21 FUJITA, Daisuke, IWASAKI, Tamaki, ONISHI, Keiko The 3rd International Symposium on Stadardization of SPM 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2012 22 FUJITA, Daisuke, IWASAKI, Tamaki, ONISHI, Keiko The 3rd International Symposium on Stadardization of SPM 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2012 23 藤田 大介, 石田 暢之, グオ ホングゥアン 第3回ナノ材料科学環境拠点シンポジウム 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2012 24 藤田 大介 先端材料計測技術の開発と応用プロジェクトの目指すもの NIMS先端計測シンポジウム2012 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2012 25 藤田 大介 ナノマテリアル創製のためのアクティブナノ計測 「原子分解能顕微鏡の歴史と最先端」公開研究会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2012 26 藤田 大介 Nanoscale Characterization of Graphene and Hexagonal BN Nanosheets Synthesized by Surface Segregation and Precipitation 11th International Symposium on Biomimetic Materials Processing 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2011 1 大西 桂子, 藤田 大介 ナノ線幅計測のためのAFM像探針形状効果補正 第31回表面科学学術講演会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2011 2 藤田 大介, グオ ホングゥアン, 高 建華 Fabrication and Characterization of Graphene and hexagonal BN Layers by Surface Precipitationd h-BN International Symposium on Surface Science, ISSS-6 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2011 3 鷺坂 恵介, マルツ ミカエル, 藤田 大介, デビッドボウラー STMとDFTを用いたSi(100)表面に吸着したリン分子の研究 The 6th International Symposium on Surface Science 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2011 4 ペレ レオン カルメン, 鷺坂 恵介, 藤田 大介, 韓 礼元 STM/STSによるアナターゼTiO2(101)表面状態の研究 6th International Symposium on Surface Science 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2011 5 高 建華, 石田 暢之, 藤田 大介 International Symposium on Surface Science (ISSS-6) 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2011 6 マルツ ミカエル, 鷺坂 恵介, 藤田 大介 HOPG表面におけるニッケル粒子の成長と電子状態 6th. International Symposium on Surface Science 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2011 7 藤田 大介 先端材料の開発に必要な基盤計測技術 第3回AIST-NIMS計測分析シンポジウム 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2011 8 藤田 大介 APMP2011 SYMPOSIUM 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2011 9 藤田 大介 APMP2011 SYMPOSIUM 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2011 10 鷺坂 恵介, 藤田 大介 Si(111)-7x7表面のアダトム操作と走査トンネル分光 平成23年度オープン研究会 走査型プローブ顕微鏡における最先端技術 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2011 11 藤田 大介 Novel Synthesis and Nanocharacterization ofGraphene and h-BN Canada Japan Nanotechnology Workshop 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2011 12 藤田 大介 グラフェン超薄膜の顕微ラマンイメージング解析 Inside Raman, Tokyo seminar 2011 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2011 13 高 建華, 石田 暢之, 藤田 大介 The 15th International Conference on Thin Films (ICTF-15) 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2011 14 藤田 大介, 野口 秀典, 三石 和貴, 橋本 綾子, 石田 暢之 グリーンイノベーションのためのナノスケール表界面計測 NCCG-41第41回結晶成長国内会議 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2011 15 高 建華, 藤田 大介 BIT's 1st Annual World Congress of Nano-S&T 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2011 16 藤田 大介 先端的共通技術部門の紹介 第11回NIMSフォーラム 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2011 17 鷺坂 恵介, 藤田 大介 STM計測およびDFT計算を用いたSi(100)表面のリン分子吸着構造の解析 NIMS -AIST 計測・計算シミュレーション合同ワークショップ 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2011 18 藤田 大介 NIMS先端材料計測プロジェクトの概要 NIMS-AIST(NRI)計測・計算シミュレーション合同WS 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2011 19 高 建華, 鷺坂 恵介, 石田 暢之, 藤田 大介 International Conference on Nanoscience & Technology, China 2011 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2011 20 藤田 大介 走査プローブ顕微鏡法(SPM)の国際標準化 表面化学分析国際標準化セミナー 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2011 21 石田 暢之, 藤田 大介 ルチル型TiO2(110)表面に吸着したフタロシアニンのSTM 観察 2011年秋季 第72回 応用物理学会学術講演会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2011 22 藤田 大介 グラフェン超薄膜の顕微ラマン解析 平成23年秋季第72回応用物理学会学術講演会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2011 23 藤田 大介 走査型プローブ顕微鏡による多元的なナノスケール計測 パーク・システムズ・ジャパン 第1回ユーザーズミーティング 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2011 24 大西 桂子, グオ ホングゥアン, 藤田 大介 走査型ヘリウムイオン顕微鏡によるグラフェン超薄膜のナノスケール計測・加工 日本顕微鏡学会学術講演会(第67回) 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2011 25 三石 和貴, 大西 剛, 高田 和典, 橋本 綾子, 藤田 大介, 竹口 雅樹, 大野 隆央, 奈良 純 (111)配向したLa0.55 Li0.33TiO3膜中の板状欠陥の高分解能STEM観察 日本顕微鏡学会67回学術講演会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2011 26 鷺坂 恵介, マルツ ミカエル, 藤田 大介, David Bowler Si(100)表面に吸着したリン分子のSTM観察 日本物理学会 第66回年次大会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2011 27 ペレ レオン カルメン, 鷺坂 恵介, 藤田 大介, 韓 礼元 STMによるTiO2表面に吸着した色素分子の研究 日本物理学会第66回年次大会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2011 28 マルツ ミカエル, 鷺坂 恵介, 藤田 大介 HOPG表面におけるニッケルクラスターの成長 日本物理学会 第66回年次大会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2011 29 石田 暢之, 藤田 大介 紫外光照射プロセスを用いないTiO2表面の超親水化 2011年春季 第58回 応用物理学関係連合講演会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2011 30 藤田 大介, 高 建華, 徐 明生 グラフェンのラマン分光イメージング 第58回応用物理学関係連合講演会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2011 31 シンディ バイシャリ ラムチャンドラ, 野田 武司, 藤田 大介, イスラム アシュラフル, 韓 礼元 MANA International Symposium 2011 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2011 32 FUJITA, Daisuke, GAO, Jian-Hua, XU, Mingsheng, GUO, Hongxuan MANA International Symposium 2011 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2011 33 徐明生, 鷺坂恵介, 藤田大介, 渡辺英一郎, 花方信孝 MANA International Symposium 2011 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2011 34 藤田 大介 NIMSにおける先端ナノ計測技術の紹介 平成22年度 名古屋工業大学 大型設備基盤センター 講演会・見学会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2011 35 藤田 大介, 徐 明生, 高 建華, 石田 暢之, 鷺坂 恵介 Surface Segregation Synthesis and Nanoscale Characterization of Graphenes Eleventh International Symposium on Biomimetic Materials Process 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2011 36 石田 暢之, 藤田 大介 超親水TiO2表面のためのUVフリープロセス 11thInternational Symposium on Biomimethic Materials Processing 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2011 37 藤田 大介 F-workshop on Materials Science for Energy Technologies 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2011 38 藤田 大介, 高 建華, 徐 明生 グラフェンの新規創製法とナノスケール解析法 第20回インテリジェント材料/システム シンポジウム 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2010 1 藤田 大介, 岩崎 多摩樹, 徐 明生, 大西 桂子 International Standardization of Nanoscale Measurement and Characterization 第20回日本MRS学術シンポジウム 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2010 2 石田 暢之, 藤田 大介, 末岡 和久, R. M. Feenstra n型GaAs(110)表面準位が走査型トンネル分光特性へ与える影響 18th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2010 3 藤田 大介 SPMによる半導体表面分析の最近の展開 ナノプローブテクノロジー第167委員会第154委員会合同研究会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2010 4 FUJITA, Daisuke 超高真空応力場その場表面観察のための 走査型プローブ顕微鏡の開発と応用 日本顕微鏡学会第54回シンポジウム 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2010 5 FUJITA, Daisuke SPM2010 The 2nd International Symposium on SPM Standardization 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2010 6 徐明生, 藤田大介, 花方信孝 2010年秋季 第71回 応用物理学会学術講演会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2010 7 古賀翔, 片山郁文, 武田淳, 首藤健一, 島田透, 菱田 俊一, 藤田 大介, 北島正弘 グラファイトにおけるコヒーレントDモードフォノンの表面プラズモン増強 2010年秋季第71回応用物理学会学術講演会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2010 8 片山郁文, 古賀翔, 首藤健一, 武田淳, 島田透, 久保敦, 菱田 俊一, 藤田 大介, 北島正弘 グラファイト表面におけるD モード・コヒーレントフォノンの振幅増強 日本物理学会2010年秋季大会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2010 9 藤田 大介 グラフェン超薄膜の創製と計測評価技術 VACUUM2010 - 真空展 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2010 10 藤田 大介 TC201: 走査プローブ顕微鏡法(SPM)の国際標準化 JSCA表面化学分析国際標準化セミナー 表面分析・微小領域分析におけ 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2010 11 FUJITA, Daisuke, SAGISAKA, Keisuke, ISHIDA, Nobuyuki, GAO, Jian-Hua, XU, Mingsheng 4th AEARU Advanced Materials Science Workshop 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2010 12 FUJITA, Daisuke, KUMAKURA, Tsuyako, ONISHI, Keiko, SAGISAKA, Keisuke 18th International Vacuum Congress 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2010 13 徐明生, 藤田大介, 花方信孝 18th International Vacuum Congress (IVC-18) 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2010 14 FUJITA, Daisuke, SAGISAKA, Keisuke, XU, Mingsheng, GAO, Jian-Hua 18th International Vacuum Congress 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2010 15 鷺坂 恵介, 藤田 大介 Si(100)表面に吸着したリン原子の研究 18th International Vacuum Congress 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2010 16 ペレ レオン カルメン, Christoph Suergers, Hilbert von Loehneysen, 鷺坂 恵介, 藤田 大介 Cu(111)表面と空気の反応:酸化銅の形成 18th International Vacuum Congress(IVC18) 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2010 17 徐明生, 藤田大介, 花方信孝 Recent Advances in Graphene and Related Materials 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2010 18 グオ ホングゥアン, 藤田 大介 NC-AFM2010 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2010 19 FUJITA, Daisuke NC-AFM2010 Satelllite Workshop / 59th Regular Workshop 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2010 20 FUJITA, Daisuke, ONISHI, Keiko 13th International Conference on Non-Contract Atomic Force Micro 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2010 21 シンディ バイシャリ ラムチャンドラ, 野田 武司, 藤田 大介 IPS-18 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2010 22 藤田 大介 汚れと清浄化のナノスケール計測 表面技術協会ナノテク部会 第37回研究会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2010 23 Ikufumi Katayama, Sho Koga, Toru Shimada, Keiko Kato, 菱田 俊一, 藤田 大介, Jun Takeda, Masahiro Kitajima 17th International Conference on Ultrafast Phenomena 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2010 24 藤田 大介 NIMS Conference 2010, OS-6 Nano-interface Characterization 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2010 25 徐明生, 藤田大介, 花方信孝 Internation Conference on Modern Materials & Technilogies 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2010 26 I. Katayama, S. Koga, J. Takeda, T. Shimada, 菱田 俊一, 藤田 大介, M.Kitajima Nanophotonics 2010 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2010 27 藤田 大介, 鷺坂 恵介 NIMS-NUS/IMRE joint workshop 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2010 28 徐明生, 藤田大介, 花方信孝 First World Conference On Nanomedicine And Drug Delivery 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2010 29 サフ サトヤジッタ, バンディオパダヤイ アニルバン, 藤田 大介 Toward a Science of Consciousness, 2010 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2010 30 徐明生, 藤田大介, 花方信孝 MANA International Symposium 2010 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2010 31 藤田 大介 材料の表面・界面とナノ計測 4大学拡張ナノ空間検討会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2010 32 藤田 大介, 鷺坂 恵介, 徐 明生 NIMS-WIN Workshop on Nanomaterials 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2010 33 藤田 大介 1st Symposium of the Innovative Center of Nanomaterials Science 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2010 34 藤田 大介, 鷺坂 恵介, 徐 明生 Tenth International Symposium on Biomimetic Materials Processing 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2009 1 藤田 大介 Joint Workshop between Osaka University and MANA/NIMS 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2009 2 BANDYOPADHYAY, Anirban, SAHU, Satyajit, FUJITA, Daisuke ISPACS 2009 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2009 3 徐 明生, 藤田 大介, 花方 信孝 平成21年度NIMSナノ計測センター研究成果発表会 - 公開セミナー 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2009 4 藤田 大介 ナノプローブ計測技術の半導体・グラフェン材料への応用 平成21年度NIMSナノ計測センター研究成果発表会 - 公開セミナー 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2009 5 藤田 大介 シリコン酸化超薄膜の高温還元分解過程のUHV-AFM/STM/AESその計測 平成21年度NIMSナノ計測センター研究成果発表会 - 公開セミナー 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2009 6 徐明生, 藤田大介, GAOJian-Hua, 渡辺英一郎, 花方信孝 2009 International Microprocesses and Nanotechnology Conference 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2009 7 BANDYOPADHYAY, Anirban, SAHU, Satyajit, FUJITA, Daisuke IWNC 2009 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2009 8 藤田 大介 一軸性応力歪み場を印加可能な超高真空走査型プローブ顕微鏡 VACUUM2009 - 真空展 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2009 9 藤田 大介 半導体表面ナノスケール解析 産業技術総合研究所 計測フロンティア研究部門第18回公開セミナー 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2009 10 徐 明生, 藤田 大介, 高 鴻, 梶原 祥子, リ コウラン, 箕輪 貴司, 花方 信孝 秋季第70回応用物理学会学術講演会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2009 11 藤田 大介 走査プローブ顕微鏡法(SPM)の国際標準化 JSCA表面化学分析国際標準化セミナー 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2009 12 徐明生, 藤田大介, 高鴻, 梶原祥子, 箕輪貴司, 李香蘭, 花方信孝 ChinaNANO2009 -International Conference on Nanosci. and Technol. 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2009 13 徐明生, 藤田大介, 高鴻, 梶原祥子, 李香蘭, 箕輪貴司, 花方信孝 ChinaNANO 2009 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2009 14 シンディ バイシャリ ラムチャンドラ, 藤田 大介, 野田 武司 60 Annual meeting of the International society of electrochemist 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2009 15 シンディ バイシャリ ラムチャンドラ, 野田 武司, 藤田 大介 ICCE-17 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2009 16 若原 孝次, 根本 善弘, 宮澤 薫一, 徐 明生, 藤田 大介 内包フラーレンナノウイスカーとナノシートの合成 NIMS Week 2009 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2009 17 バンディオパダヤイ アニルバン, 三木 一司, 藤田 大介 Pattern based computing and our brain: Can we build an artificial system exhibiting similar computing? NIMS Week 2009 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2009 18 徐明生, 藤田大介, 花方信孝 NIMS week 2009 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2009 19 徐 明生, 藤田 大介, 梶原 祥子, リ コウラン, 箕輪 貴司, 花方 信孝 Nanoparticle effect on NIH3T3 cell viability 2009年(平成21年)春季第56回応用物理学関係連合講演会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2009 20 GAO, Jian-Hua, FUJITA, Daisuke, XU, Mingsheng The 56th Spring Meeting of the Japan Society of Applied Physics 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2009 21 藤田 大介, 大西 桂子 イオン電子同時照射によるSi酸化膜/Si(001)基板のナノ切削加工 第3回バイオ・ナノテクフォーラムシンポジウム 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2009 22 GAO, Jian-Hua, FUJITA, Daisuke, XU, Mingsheng MANA International Symposium 2009 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2009 23 徐明生, 藤田大介, 梶原祥子, 李香蘭, 箕輪貴司, 花方信孝 ZnO Nanostructures-Mediated Cell viability MANA International Symposium 2009 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2009 24 藤田 大介 Creation and Characterization of Low-dimensional Functional Nanostructures vy Scanning Probe Technologies NIMS-New Zealand Workshop on Nanomaterials 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2009 25 藤田 大介, 徐 明生, 大西 桂子, 高建華, 鷺坂 恵介 Formation of Graphene Layers and Related Nano-Carbons on C-doped Metal Surfaces by Bulk-to-Surface Precipitation 9th International Symposium on Biomimetic Materials Processing 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2008 1 郭 新立, 大西 桂子, 藤田 大介 STM-induced photon emission from nanoscale surfaces of GaAs and Ag film using a metal/ITO dual layer coated fiber probe 8th International Conference on Nano-Molecular Electronics 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2008 2 藤田 大介, 徐 明生 Nanoscale Characterization of Novel Fullerene Nanomaterials by Scanning Probe Microscopy for the Social Acceptance IUMRS-ICA 2008 The IUMRS International Conference in Asia 2008 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2008 3 WAKAHARA, Takatsugu, MARAPPAN, Sathish, MIYAZAWA, Kunichi, SASAKI, Toshio, NEMOTO, Yoshihiro, XU, Mingsheng, FUJITA, Daisuke 金属/炭素ハイブリッドナノ構造体 IUMRS-ICA 2008 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2008 4 郭 新立, Shimada, 大西 桂子, Kitajima, 藤田 大介 Self-assembled Au nanoparticle structures on highly ordered pyrolytic graphite wafer International Symposium on Surface Science and Nanotechnology 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2008 5 大西 桂子, 藤田 大介 Novel Tip Shape Reconstruction Method for Restoration of AFM Topography Images using Given-shape Nano-structure The 5th International Symposium on Surface Science and Nanotechn 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2008 6 FUJITA, Daisuke Graphene and Related Nano-Carbons Formed by Surface Precipitation 中国真空学会2008年学術年会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2008 7 藤田 大介, 大西 桂子 イオン照射下における電子ビーム走査による微細加工 VACUUM2008 第30回真空展 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2008 8 藤田 大介 走査プローブ顕微鏡法(SPM)の国際標準化 表面化学分析国際標準化セミナー「表面分析・微小領域分析における国 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2008 9 FUJITA, Daisuke, ONISHI, Keiko, KITAHARA, Masayo, XU, Mingsheng AFM画像補正アルゴリズムの開発とナノ材料への応用 第69回応用物理学会学術講演会 シンポジウム 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2008 10 大西 桂子, 藤田 大介 直方体ナノ構造を利用したAFM像の探針先端形状効果補正 第69回応用物理学会学術講演会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2008 11 鷺坂 恵介, 藤田 大介 走査トンネル分光によるSi(100)表面Si-Pヘテロダイマーの研究 NSS5-SPSTM2 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2008 12 FUJITA, Daisuke, SAGISAKA, Keisuke Low-dimensional Functional Nanomaterials Research by Nano Probe Technology WMSCI 2008 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2008 13 FUJITA, Daisuke WUT-NIMS-EMPA Workshop on Nanomaterials for Energy and Environme 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2008 14 FUJITA, Daisuke, SAGISAKA, Keisuke Low-dimensional Surface Nanostructures studied by Scanning Tunneling Microscopy Nanospain2008 Conference 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2008 15 藤田 大介 Nanoscale Manipulation and Characterization on Semiconductor Surfaces NIMS - Charles University Workshop 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2008 16 大西 桂子, 藤田 大介 球状ナノ粒子を利用したAFM像の探針先端形状効果補正 第55回応用物理学関連連合講演会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2008 17 鷺坂 恵介, 藤田 大介 電界放射共鳴を用いたSi(111)表面のSTM観察 日本物理学会第63回年次大会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2008 18 藤田 大介, 鷺坂 恵介 Fabrication and Characterization of Low-dimensional Surface Nanostructures by Scanning Tunneling Microscopy MANA International Symposium 2008 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2008 19 藤田 大介 NIMSにおけるナノ計測技術の紹介 「連携ラボ」第3回公開シンポジウム 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2008 20 藤田 大介 制御場STM法による半導体表面の構造解析 日本顕微鏡学会 走査型プローブ顕微鏡分科会 平成19年度研究会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2008 21 FUJITA, Daisuke ISO/TC201におけるSPM国際標準化活動の展開 日本学術振興会ナノプローブテクノロジー第167委員会第49回研究会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2008 22 FUJITA, Daisuke, XU, Mingsheng, ONISHI, Keiko, MIYAZAWA, Kunichi Characterization of C60 Nano-Whiskers by Atomic Force Microscopy 8th International Symposium on Biomimetic Materials Processing 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2007 1 大西 桂子, 藤田 大介 Novel Image Restoration Method for SPM Topography Data Containing Tip-induced Distortions using Standard Nanospheres 4th International Symposium on Practical Surface Analysis 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2007 2 FUJITA, Daisuke, XU, Mingsheng, KITAHARA, Masayo, ONISHI, Keiko Standardization of Three-dimensional Topography Imaging 4th International Symposium on Practical Surface Analysis 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2007 3 郭 新立, 大西 桂子, 鷺坂 恵介, 藤田 大介 Quantitative Analysis of Quantum Efficiency of Excited Photons from Tunnel Junctions Detected in Near Field 4th International Symposium on Practical Surface Analysis PSA-07 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2007 4 郭 新立, 藤田 大介, 鷺坂 恵介, 大西 桂子 Dopant-related photon emission induced by scanning tunneling microscope from the surface of GaAs(110) 9th International Conference on Atomically Controlled Surfaces, 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2007 5 大西 桂子, 藤田 大介 AFM探針形状補正によるナノ粒子径の精密計測 第27回表面科学講演大会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2007 6 藤田 大介 金ナノクラスターの創製と単電子効果の計測 第27回表面科学講演大会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2007 7 藤田 大介 プローブ顕微鏡によるナノマテリアル研究の現状と将来 大阪工業大学ハイテクリサーチ第2回シンポジウム 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2007 8 郭 新立, 藤田 大介 Development And Applications of UHV-LT-STM for Tunnel-Electron Induced Single Photon Detection 平成19年度 NIMSナノ計測センター研究成果発表会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2007 9 岸 輝雄, 藤田 大介 Japanese Strategy of Nano Technology and Nims Activity NanoTech Insight 2007 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2007 10 藤田 大介 低ガス放出性カーボンナノスプラウト被膜 VACUUM2007-真空展 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2007 11 藤田 大介, 徐 明生, 北原 昌代 走査型プローブ顕微鏡によるフラーレンナノマテリアルの評価 第68回応用物理学会学術講演会シンポジウム 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2007 12 大西 桂子, 藤田 大介 SiO2薄膜の電子線援用スパッタリングによる微細加工の試み 第68回応用物理学会学術講演会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2007 13 藤田 大介 フラーレン系低次元ナノマテリアル研究の最前線  - まとめ - 第68回応用物理学会学術講演会シンポジウム 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2007 14 藤田 大介 走査プローブ顕微鏡法(SPM)の国際標準化 JSCA 表面化学分析国際標準化セミナー 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2007 15 藤田 大介 ナノ粒子・ナノ構造体の高精度ナノプローブ計測評価 粉体工学会・粒子径計測グループ会2007年度第一回グループ会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2007 16 于 迎輝, 鷺坂 恵介, 藤田 大介 Surface standing waves on Cu-9%Al(111) IVC17/ICSS13 and ICN+T 2007 Congress in Stockholm 2-6 July, 2007 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2007 17 藤田 大介, 北原 昌代, 大西 桂子, 鷺坂 恵介 Development of UHV Scanning Probe Microscope with External Stress and Strain Application IVC-17/ICSS-13 and ICN+T2007 Congress 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2007 18 FUJITA, Daisuke, ONISHI, Keiko, SAGISAKA, Keisuke, KUMAKURA, Tsuyako Novel Nano-carbons Synthesized by Surface Precipitation in Ultrahigh Vacuum International Conf. on Nanoscience & Technology, ChinaNano2007 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2007 19 藤田 大介, 大西 桂子, 鷺坂 恵介, 北原 昌代 Practical Image Restoration Method for Scanning Probe Microscopy International Conf. on Nanoscience & Technology, ChinaNano2007 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2007 20 郭 新立, 藤田 大介, 鷺坂 恵介, 大西 桂子 Photon emission induced from nanoscale surfaces of semiconductors by a scanning tunneling microscope using a conductive optical fiber probe International Conference on Nanoscience & Technology, China 2007 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2007 21 リヒテローヴァ イワーナ, 藤田 大介, 大西 桂子, Jiri Pavlu, Jana Safrankova, Zdenek Nemecek Modification of spherical dust grain structure: Laboratory simulation AGU Spring 2007 Joint Assembly 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2007 22 鷺坂 恵介, 藤田 大介 走査トンネル分光によるシリコン表面の電子状態計測 日本顕微鏡学会第63回学術講演会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2007 23 藤田 大介, 熊倉 つや子, 大西 桂子, 鷺坂 恵介 低次元カーボンナノ構造被膜の創製・評価と応用 第16回インテリジェント材料/システムシンポジウム 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2007 24 大西 桂子, 藤田 大介 SiO2薄膜の電子線照射による微細加工技術の開発 第16回インテリジェント材料/システムシンポジウム 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2007 25 KISHI, Teruo, FUJITA, Daisuke Policy on Nanotechnology in Japan and NIMS Activity NanoTech Insight 2007 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2007 26 藤田 大介 SPMの標準化とナノプローブ計測の動向 学振マイクロビームアナリシス141委員会第127回研究会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2007 27 鷺坂 恵介, 藤田 大介 低温STMによるSi(00)表面の電子状態計測と構造制御 第1回NIMSナノ計測センターシンポジウム 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2007 28 藤田 大介, 熊倉 つや子, 大西 桂子 Characterization and Application of Novel Nano-carbons Synthesized by 7th International Symposium on Biomimetic Materials Processing 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2006 1 郭 新立, 藤田 大介 14th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2006 2 大西 桂子, 藤田 大介 プローブ先端形状とAFM像からのノイズの影響を考慮した実表面形状の推測 第26回表面科学講演大会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2006 3 藤田 大介 物質・材料研究機構におけるナノ計測研究の現状と企業への期待 第5回つくばナノテクノロジー研究交流会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2006 4 板倉 明子, 北島 正弘, 藤田 大介, 五十嵐 慎一, 戸田雅也, Rudiger Berger 高分子膜の体積膨張に伴うストレス変化を利用した湿度センサー 平成18年度NIMSナノ計測センター研究成果発表会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2006 5 藤田 大介, 北原 昌代, 鷺坂 恵介 応力場環境走査型プローブ顕微鏡の開発と応用 第1回NIMSナノ計測センター研究成果発表会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2006 6 鷺坂 恵介, 藤田 大介 低温走査トンネル顕微鏡によるSi(100)表面構造の観察 平成18年度 NIMSナノ計測センター研究成果発表会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2006 7 藤田 大介, 大西 桂子, 熊倉 つや子, 北原 昌代, 鷺坂 恵介 表面析出現象による低次元カーボンナノ構造の創製とSPM応用 第1回NIMSナノ計測センター研究成果発表会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2006 8 藤田 大介 ナノ機能探索と創成のための走査プローブ顕微鏡技術の開発と応用 第1回NIMSナノ計測センター研究成果発表会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2006 9 鷺坂 恵介, 藤田 大介 Si(100)表面の電子定在波 平成18年度 NIMSナノ計測センター研究成果発表会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2006 10 FUJITA, Daisuke, SAGISAKA, Keisuke The 2006 Meeting of the Chinese Vacuum Society (CVS) 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2006 11 郭 新立, 藤田 大介, 鷺坂 恵介, 大西 桂子 N-GaAs(110) ナノ表面のSTM誘起発光 The tenth ISSP International Symposium on Nanoscience at Surfac 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2006 12 FUJITA, Daisuke, KITAHARA, Masayo, SAGISAKA, Keisuke The tenth ISSP International Symposium on Nanoscience at Surface 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2006 13 鷺坂 恵介, 藤田 大介 Si(100)表面のダイマー列に閉じこめられた電子波 The tenth ISSP International Symposiumon Nanoscience at Surfaces 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2006 14 鷺坂 恵介, 藤田 大介 STMによるSi(100)表面の電子定在波の観察 European Conference on Surface Science24 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2006 15 藤田 大介, 鷺坂 恵介 The 16th International Microscopy Congress 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2006 16 板倉 明子, 五十嵐 慎一, 戸田 雅也, Renate Foech, Rudiger Berger, K. Miyake, 櫻井 健次, 北島 正弘, 藤田 大介 ECCOSS 24 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2006 17 郭 新立, 菫震超, 藤田 大介 金属基板上単―出光分子のSTM表征 The 16th International Microscopy Congress 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2006 18 藤田 大介 TWA29 ナノスケールにおけるマテリアル特性評価 これからの取り組み JAIMAコンフェレンス(2006分析展付設コンフェレンス) VAMAS国際標 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2006 19 藤田 大介 走査プローブ顕微鏡によるナノ計測の最近の展開 ー固溶炭素の表面析出によるカーボンナノ構造の創製と応用ー 電気学会 E準部門「ユビキタス社会のためのナノマテリアル・プロセ 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2006 20 藤田 大介 9th Int. Conf. on Non-Contact Atomic Force Microscopy 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2006 21 FUJITA, Daisuke, SAGISAKA, Keisuke, ONISHI, Keiko 2nd Int. Symp. Standard Materials & Metrology for Nanotechnology 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2006 22 五十嵐 慎一, 板倉 明子, 戸田 雅也, 北島 正弘, 藤田 大介, Liqiang Chu, Anye N. Chifen, Renate Fo¨rch, Ru¨diger Berger プラズマ重合膜の体積膨張 International workshop on nanomechanical sensors 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2006 23 藤田 大介, 鷺坂 恵介, 大西 桂子 走査型トンネル顕微鏡によるナノ構造創製と量子効果 第15回インテリジェント材料/システムシンポジウム 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2006 24 大西 桂子, 藤田 大介, 木村 隆 ファクターアナリシスおよびオージェ電子分光法による酸化物超薄膜の電子線誘起還元の評価 第15回インテリジェント材料/システムシンポジウム 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2006 25 鷺坂 恵介, 藤田 大介 走査型トンネル顕微鏡により観察されたSi(100)表面の量子干渉パターン The Sixth France-Japan Workshop on Nanomaterials 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2006 26 鷺坂 恵介, 藤田 大介 点接触法によりSi(100)表面に作製されたタングステンドットと一次元量子井戸 International Advanced Materials Forum for Young Scientists 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2006 27 藤田 大介, 鷺坂 恵介 Sixth International Symposium on Biomimetic Materials Processing 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2006 28 藤田 大介 極限場走査型トンネル顕微鏡によるアクティブナノ状態計測 日本顕微鏡学会アクティブナノ顕微鏡研究部会第4回公開研究会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2005 1 藤田 大介 固溶炭素の表面析出によるカーボンナノワイヤとナノベルトの創製と応用 電気学会 ユビキタス社会のためのナノマテリアル・プロセス技術調査 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2005 2 鷺坂 恵介, 藤田 大介 2nd International Center for Young Scientists Symposium 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2005 3 大西 桂子, 藤田 大介, 木村 隆 走査型オージェ顕微鏡およびファクターアナリシスによるSiO2/Si超薄膜の電子線誘起還元過程の解析 第25回表面科学講演大会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2005 4 大西 桂子, 藤田 大介, 木村 隆 ファクターアナリシスおよびオージェ電子分光法によるSiO2/Si薄膜試料の電子線照射効果の評価 第46回真空に関する連合講演会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2005 5 大西 桂子, 藤田 大介, 木村 隆 多変量スペクトル解析手法によるSiO2超薄膜の電子線照射損傷過程の解析 2005年度 実用表面分析講演会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2005 6 SAGISAKA, Keisuke, FUJITA, Daisuke International Workshop on Surface Physics 2005 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2005 7 SAGISAKA, Keisuke, FUJITA, Daisuke European Conference on Surface Science 23 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2005 8 FUJITA, Daisuke International Symposium on EcoTopia Science 2005 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2005 9 SAGISAKA, Keisuke, FUJITA, Daisuke 13th International Conference on Scanning Tunneling Microscopy/S 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2005 10 藤田大介 The 6th International Conference on Intelligent Materials and Sy 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2005 11 大西 桂子, 藤田 大介 第6回インテリジェント材料・システム国際会議 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2005 12 藤田 大介, 大西 桂子, 鷺坂 恵介 走査トンネル顕微鏡による極限物理場アクティブナノ計測 日本顕微鏡学会第61回学術講演会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2005 13 鷺坂 恵介, 藤田 大介 低温STMによるSi(100)表面の電子定在波の観察と1次元量子井戸構造の創製 第52回応用物理学関係連合講演会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2005 14 鷺坂 恵介, 藤田 大介 Si(100)再構成表面の電子状態とSTMイメージング 日本物理学会第60回年次大会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2005 15 藤田 大介, 大西 桂子, 熊倉 つや子, 鷺坂 恵介 表面析出法により成長したグラファイト基底面上におけるカーボンナノワイヤとカーボンナノベルトの発見 日本物理学会2005年春季大会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2005 16 藤田 大介 ナノの世界でものを見る・操る・創る 科学技術振興調整費 成果発表会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2005 17 藤田大介 10th International Symposium on Advanced Physical Fields 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2005 18 大西 桂子, 藤田 大介 ファクターアナリシスによる酸化物/半導体表面の電子線照射効果の評価 第14回インテリジェント材料/システムシンポジウム 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2005 19 藤田 大介, 大西 桂子, 熊倉 つや子, 鷺坂 恵介 固溶炭素の表面析出現象による低次元カーボンナノ構造の創製 第14回インテリジェント材料/システムシンポジウム 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2005 20 藤田 大介 Fifth International Symposium on Biomimetic Materials Processing 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2005 21 藤田 大介, 大西 桂子, 北原 昌代, 鷺坂 恵介 応力歪場印加可能な原子分解能走査トンネル顕微鏡の開発 第52回応用物理学関係連合講演会       2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2004 1 FUJITA, Daisuke, ONISHI, Keiko, KITAHARA, Masayo, SAGISAKA, Keisuke Si(100)表面における応力誘起ナノ構造制御のSTM解析 第15回日本MRS学術シンポジウム       2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2004 2 藤田 大介 機能性STMによるナノ構造の創製と制御 日本表面科学会中部支部研究会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2004 3 藤田 大介 走査トンネル顕微鏡アクティブナノ計測の最近の展開 -極限物理場環境と応力場環境- 日本顕微鏡学会 アクティブナノ顕微鏡研究部会第3回研究会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2004 4 藤田 大介, 大西 桂子, 北原 昌代, 熊倉 つや子, 鷺坂 恵介 金属的なナノドットやナノワイヤの創製のためのSTM探針 1st International Symposium on the Functionality of Organized Na 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2004 5 迫坪 行広, 大木 泰造, 大塚洋一, 藤田 大介 Joint Meeting of FIMS/ITS-NS/CTC/PLASMA-2004 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2004 6 鷺坂 恵介, 藤田 大介 One Dimensional Behavior of the Si(100) Dangling Bond State NIMS/ISSP/ICYS Young Scientists' Nanotechnology Miniworkshop 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2004 7 藤田 大介 極限物理場環境における高分解能STM計測技術 日本顕微鏡学会SPM分科会H16年度研究会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2004 8 大西 桂子, 藤田 大介, 木村 隆 ファクターアナリシスによるSiO2/Si2試料表面の電子線照射損傷の評価 第24回表面科学講演大会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2004 9 藤田 大介, 大西 桂子, 北原 昌代, 鷺坂 恵介 超高真空応力歪場環境原子分解能2探針走査プローブ顕微鏡の開発 第24回表面科学講演大会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2004 10 藤田 大介 NIMSにおける新規ナノカーボン開発の現状と展望 第2回ナノテクノロジー研究交流会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2004 11 FUJITA, Daisuke, ONISHI, Keiko, SAGISAKA, Keisuke, NIORI, NORIKO 導電性光ファイバープローブを用いた低温走査トンネル顕微鏡によるp型GaAs(110)表面のトンネル電子誘起発光マッピング 3rd International Symposium on Practical Surface Analysis, PSA-0 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2004 12 藤田 大介 カーボンナノスプラウトの創製及び構造と物性 第65回応用物理学会学術講演会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2004 13 藤田 大介 Closing Remarks 第65回応用物理学会学術講演会 ノベルナノカーボンシンポジウム 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2004 14 中村 篤智, 藤田 大介 Eleventh International Conference on Intergranular and Interphas 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2004 15 藤田 大介 アクティブ操作と融合した走査トンネル顕微鏡ナノ計測技術の展開 日本学術振興会第151委員会「未踏ナノデバイステクノロジー」 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2004 16 藤田大介 炭素固溶ニッケル上のスプラウト状カーボンナノワイヤの走査トンネル顕微鏡・分光計測 8th Asia-Pacific Conference on Electron Microscopy (8APEM) 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2004 17 鷺坂 恵介, 藤田 大介, 小口 信行 走査トンネル顕微鏡によるSi(100)表面の構造操作 日本物理学会第59回年次大会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2004 18 迫坪 行広, 大木 泰造, 藤田 大介, 大塚洋一 SAM上における金ナノクラスターの密度・粒径制御とトンネル分光測定 日本物理学会第59回年次大会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2004 19 藤田 大介, 大西 桂子, 新居 周子 p-GaAs(110)表面からのトンネル電子誘起発光近接場計測 日本物理学会第59回年次大会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2004 20 藤田 大介, 大西 桂子, 肖 占文, 徐 明祥, 鷺坂 恵介, 大木 泰造 極限環境におけるナノ構造の創製と評価 第2回ナノテクノロジー総合シンポジウム(JAPAN NANO 2004) 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2004 21 藤田 大介 表面・ナノ構造からのSTMトンネル誘起発光 第3回メゾテクノロジーフォーラム 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2004 22 鷺坂 恵介, 藤田 大介, 小口 信行 低温走査トンネル顕微鏡によるSi(100)表面超構造の操作 第13回インテリジェント材料/システムシンポジウム 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2004 23 鷺坂 恵介, 北原 昌代, 藤田 大介, 木戸 義勇, 小口 信行 The 9th International Symposium on Advanced Physical Fields (APF 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2004 24 迫坪 行広, 大木 泰造, 藤田 大介, 大塚洋一 9th International Symposium on Advanced Physical Fields (APF-9) 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2004 25 大西 桂子, 藤田 大介 The 9th International Symposium on Advanced Physical Fields 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2004 26 肖 占文, 徐 明祥, 大木 泰造, 石川 信博, 藤田 大介 白金電極の上にシングルのDNA分子の組立; The 9th International Symposium on Advanced Physical Fields (APF 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2004 27 FUJITA, Daisuke 先端物理場環境における先端STMテクノロジー 9th International Symposium on Advanced Physical Fields (APF-9) 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2004 28 藤田 大介 アクティブナノ計測技術 日本学術振興会第133委員会第180回研究会 2024-03-29 23:14:36 +0900 Presentation 2004 29 FUJITA, Daisuke, SAGISAKA, Keisuke 走査トンネル顕微鏡による低次元ナノ構造のアクティブナノ解析 Fourth International Symposium on Biomimetic Materials Processin 2024-03-29 23:14:36 +0900