publication_type publication_year number author title journal_title volume_number issue_number start_page end_page doi reported_at Misc 2019 1 藤田 大介 データサイエンスを活用した固体材料・表面研究の最前線 応用物理学会薄膜・表面物理分科会 News Letter 1 1 2024-05-02 21:03:36 +0900 Misc 2018 1 藤田 大介 第8回表面科学に関する国際シンポジウムISSS-8開催報告 表面と真空 61 3 184 185 https://doi.org/10.1380/vss.61.184 2024-05-02 21:03:36 +0900 Misc 2018 2 藤田大介 [R-629] データが駆動する先端計測インフォマティクス～表面科学に関連した最近の動向～：[R-630] 放射光源リングの低エミッタンス化はどこまで可能か 表面と真空 61 4 250 250 https://doi.org/10.1380/vss.61.250 2024-05-02 21:03:36 +0900 Misc 2017 1 増田 秀樹, 石田 暢之, 小形曜一郎, 伊藤大悟, 藤田 大介 その場断面 KPFM 法を用いた全固体型リチウムイオン電池の内部電位計測 セラミックス 52 2 96 99 2024-05-02 21:03:36 +0900 Misc 2016 1 鷺坂 恵介, 藤田 大介 走査型トンネル顕微鏡による物質・材料の表面計測 金属 86 12 1073 1079 2024-05-02 21:03:36 +0900 Misc 2016 2 室町 英治, 藤田 高弘, 藤田 大介, 村川 健作, 山内 泰, 三石 和貴, 川喜多 磨美子, 岩井 秀夫, 大久保 忠勝, 川喜多 仁, 北澤 英明, 木本 浩司, クスタンセ オスカル, 倉橋 光紀, 後藤 敦, 坂口 勲, 坂田 修身, 櫻井 健次, 張 晗, 篠原 正, 清水 禎, 清水 智子, 志波 光晴, 鈴木 拓, 関口 隆史, 丹所 正孝, 知京 豊裕, 長田 貴弘, 野口 秀典, 端 健二郎, 宝野 和博, 柳生 進二郎, 山下 良之, 吉川 元起, 吉川 英樹, 吉武 道子, 渡邉 賢, 渡邊 誠 材料イノベーションを加速する先進計測テクノロジーの現状と動向 物質・材料研究のための先進計測テクノロジー 調査分析室レポートNIMS-RAO-FY2016-3　[ISBN] 978-4-9900563-7-7 1 "" 42 51 2024-05-02 21:03:36 +0900 Misc 2016 3 室町 英治, 藤田 高弘, 藤田 大介, 村川 健作, 山内 泰, 三石 和貴, 川喜多 磨美子, 岩井 秀夫, 大久保 忠勝, 川喜多 仁, 北澤 英明, 木本 浩司, クスタンセ オスカル, 倉橋 光紀, 後藤 敦, 坂口 勲, 坂田 修身, 櫻井 健次, 張 晗, 篠原 正, 清水 禎, 清水 智子, 志波 光晴, 鈴木 拓, 関口 隆史, 丹所 正孝, 知京 豊裕, 長田 貴弘, 野口 秀典, 端 健二郎, 宝野 和博, 柳生 進二郎, 山下 良之, 吉川 元起, 吉川 英樹, 渡邉 賢, 渡邊 誠 材料イノベーションを加速する先進計測テクノロジーの現状と動向 調査分析室レポート "" "" 73 89 2024-05-02 21:03:36 +0900 Misc 2015 1 宮澤 薫一, 小林 隆弘, 谷口 彰良, 藤田 大介, 安達修一, 市原　学 ナノテクノロジー・材料研究に関わるリスク評価・リスク管理・リスクコミュニケーションと 社会受容 CRDS「2015年　研究開発の俯瞰報告書（ナノテクノロジー・材料分野）」 "" "" 449 475 2024-05-02 21:03:36 +0900 Misc 2015 2 増田 秀樹, グオ ホングゥアン, 藤田 大介 【表彰】BNフラワーのHeイオン顕微鏡像 まてりあ 54 5 204 204 2024-05-02 21:03:36 +0900 Misc 2015 3 藤田 大介 ナノテクノロジープラットフォームを活用した研究・技術開発の新展開 NIMS微細構造解析プラットフォーム　〜最先端ナノマテリアル計測拠点〜 工業材料 63 3 70 72 2024-05-02 21:03:36 +0900 Misc 2014 1 藤田 大介 微細構造解析プラットフォームの概要 工業材料 62 6 75 77 2024-05-02 21:03:36 +0900 Misc 2013 1 宮澤 薫一, 藤田 大介, 谷口 彰良, Enrico Traversa, 市原　学, 橘　勝 日本MRSニュース 25 1 6 6 2024-05-02 21:03:36 +0900 Misc 2013 2 藤田 大介 イオンをプローブによるナノ顕微計測の新展開 顕微鏡 48 3 148 148 2024-05-02 21:03:36 +0900 Misc 2012 1 藤田 大介 走査型プローブ顕微鏡のフロンティア 顕微鏡 47 "" 2 2 2024-05-02 21:03:36 +0900 Misc 2012 2 藤田 真 編集後記 Journal of the Vacuum Society of Japan 55 2 64 72 https://doi.org/10.3131/jvsj2.55.64 2024-05-02 21:03:36 +0900 Misc 2012 3 藤田 大介 編集後記 顕微鏡 47 "" 66 66 2024-05-02 21:03:36 +0900 Misc 2011 1 長井 寿, 原田 幸明, 藤田 大介, 井出 邦和 第2章 分析技術　 2.6 微量・高精度化学分析 環境・エネルギー材料ハンドブック "" "" 747 763 2024-05-02 21:03:36 +0900 Misc 2011 2 藤田大介 Analytical Sciences 27 2 119 119 https://doi.org/10.2116/analsci.27.119 2024-05-02 21:03:36 +0900 Misc 2009 1 藤田 大介 ナノ構造と物性の計測 電気評論 94 10 59 63 2024-05-02 21:03:36 +0900 Misc 2009 2 藤田 大介 SPMによる半導体表面分析の最近の展開 顕微鏡 156 156 2024-05-02 21:03:36 +0900 Misc 2009 3 Kun'ichi Miyazawa, Daisuke Fujita, Takatsugu Wakahara, Tokushi Kizuka, Kiyoto Matsuishi, Yuichi Ochiai, Masaru Tachibana, Hironori Ogata, Tadahiko Mashino, Ryotaro Kumashiro, Hidetoshi Oikawa Fullerene Nano Materials (Symposium of IUMRS-ICA2008) Journal of Physics: Conference Series 159 011001 https://doi.org/10.1088/1742-6596/159/1/011001 2024-05-02 21:03:36 +0900 Misc 2007 1 藤田 大介 ナノ創製のためのナノ計測技術 電子材料 46 2 18 23 2024-05-02 21:03:36 +0900 Misc 2005 1 Daisuke Fujita, Giyuu Kido, Masahiro Tosa, Michiko Yoshitake, Yasushi Yamauchi Applied Surface Science 241 1-2 1 https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2004.12.003 2024-05-02 21:03:36 +0900 Misc 2005 2 藤田 大介 走査トンネル顕微鏡 ナノテクノロジー技術動向調査　調査報告書 "" "" 8 10 2024-05-02 21:03:36 +0900 Misc 2005 3 FUJITA, Daisuke, SAGISAKA, Keisuke, ONISHI, Keiko, OHGI, Taizo Proceedings of The 6th International Conference on Intelligent Materials and Systems 79 80 2024-05-02 21:03:36 +0900 Misc 2005 4 藤田 大介 ナノテクノロジーの標準化 Journal of Surface Analysis 12 3 363 363 2024-05-02 21:03:36 +0900 Misc 2005 5 藤田大介 ナノの世界でものを見る・操る・創る 科学技術振興調整費成果発表会予稿集 25 28 2024-05-02 21:03:36 +0900 Misc 2005 6 藤田 大介 ナノ計測 ナノテクノロジー技術動向調査　調査報告書 "" "" 5 7 2024-05-02 21:03:36 +0900 Misc 2005 7 YAKABE, Taro, 寺井慶和, 安塚周磨, 寺倉千恵子, TERASHIMA, Taichi, UJI, Shinya, FUJITA, Daisuke, KIDO, Giyuu Proceedings of the 10th international symposium on Advanced Physical Fields 303 307 2024-05-02 21:03:36 +0900 Misc 2005 8 FUJITA, Daisuke, SAGISAKA, Keisuke, ONISHI, Keiko, SAKOTSUBO, Yukihiro, OHGI, Taizo Proceedings of APF10 19 26 2024-05-02 21:03:36 +0900 Misc 2004 1 FUJITA, Daisuke, ONISHI, Keiko, KUMAKURA, Tsuyako 炭素固溶ニッケル上のスプラウト状カーボンナノワイヤの走査トンネル顕微鏡・分光計測 Proceedings of 8th Asia-Pacific Conference on Electron Microscopy 202 203 2024-05-02 21:03:36 +0900 Misc 2004 2 Zhanwen Xiao, Mingxiang Xu, Taizo Ohgi, Keiko Onishi, Daisuke Fujita Si 表面にアンモニア過酸化水素のクリーンなステップで生成されました穴の除去 Applied Surface Science 221 1-4 160 166 https://doi.org/10.1016/s0169-4332(03)00876-6 2024-05-02 21:03:36 +0900 Misc 2004 3 X.-L. Guo, Z.-C. Dong, A. S. Trifonov, K. Miki, Y. Wakayama, D. Fujita, K. Kimura, S. Yokoyama, S. Mashiko トンネル接合からのナノスケール有機分子発光 Physical Review B 70 23 https://doi.org/10.1103/physrevb.70.233204 2024-05-02 21:03:36 +0900 Misc 2004 4 Daisuke Fujita, FUJITA, Daisuke 巻頭言　アクティブ・ナノ計測技術 NANOTECHNOLOGY 15 6 preface "" 2024-05-02 21:03:36 +0900 Misc 2004 5 D. Fujita 巻頭言 Journal of Electron Microscopy 53 2 99 99 https://doi.org/10.1093/jmicro/53.2.99 2024-05-02 21:03:36 +0900 Misc 2004 6 藤田大介 アクティブ操作と融合した走査トンネル顕微鏡ナノ計測技術の展開 発表予稿集 2024-05-02 21:03:36 +0900