HOME > Proceedings > Detailカンチレバーを用いた高分子薄膜のヤング率測定(Youngs modulus of organic thin film measured by cantilever sensors.)板倉 明子, グリネビッチ アンドレイ, 戸田雅也, N. 第51回日本学術会議材料工学連合講演会講演論文集 65-66. 2007.NIMS author(s)ITAKURA, AkikoFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-02-27 01:23:04 +0900Updated at: 2017-03-17 03:23:27 +0900