金属/酸化膜界面への化学的なデーター書き込み：低次元界面反応のI-V測定による評価
(Chemical Data Writing into Metal/oxide Interface: Characterization of Low Dimensional Interface Reactions by I-V Measurements)
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2017-02-27 01:23:55 +0900更新時刻: 2017-03-17 03:24:24 +0900