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著者名SEKIGUCHI, Takashi, LEE, Woong, LUO, Xianjia, KIMURA, Takashi, CHO, Yujin.
タイトルCathodoluminescence study of killer defects in GaN wafers on sapphire substrates
発表誌名PHYSICA STATUS SOLIDI C-CURRENT TOPICS IN SOLID STATE PHYSICS
発表年2017
言語English
DOI10.1002/pssc.201700054
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