HOME > 口頭発表 > 書誌詳細(Critical current measurement for HTS tapes)北口 仁. 中国科学院電工研究所における講演会. 2012-03-02. 招待講演NIMS著者北口 仁Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 03:22:06 +0900更新時刻: 2024-03-05 11:43:53 +0900
